Atomic-level engineering of phase change material for novel fast-switching and high-endurance PCM for storage class memory application

Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM

Volumn , Issue , 2013, Pages

  Cheng, H Y ^a   Brightsky, M ^b   Raoux, S ^b   Chen, C F ^a   Du, P Y ^a   Wu, J Y ^a   Lin, Y Y ^a   Hsu, T H ^a   Zhu, Y ^b   Kim, S ^b   Lin, C M ^a   Ray, A ^b   Lung, H L ^a   Lam, C ^b  

^a MACRONIX INTERNATIONAL CO LTD   (Taiwan)

^b IBM T J WATSON RESEARCH CENTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84894357826     PISSN: 01631918     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/IEDM.2013.6724726     Document Type: Conference Paper

References (10)

1. R. F. Freitas and W. W. Wilcke, IBM J. Res. & Dev., 52, 439 (2008)
2. A. Bivens, P. Dube, M. Franceschini, J. Karidis, L. Lastras and M. Tsao, IEEE International Memory Workshop, IMW Tech. Dig. 1 (2010).
3. C. F. Chen A. Schrott, M. H. Lee, S. Raoux, Y. H. Shih, M. Breitwisch, F. H. Baumann, E. K. Lai, T. M. Shaw, P. Flaitz, R. Cheek, E. A. Joseph, S. H. Chen, B. Rajendran, H. L. Lung and C. H. Lam, IEEE International Memory Workshop, IMW Tech. Dig. 64 (2009).
4. I. S. Kim, S. L. Cho, D. H. Im, E. H. Cho, D. H. Kim, G. H. Oh, D. H. Ahn, S. O. Park, S. W. Nam, J. T. Moon and C. H. Chung, Symp. on VLSI Tech. Dig., 203 (2010).
5. M. Boniardi, D. Ielmini, I. Tortorelli, A. Redaelli, A. Pirovano, M. Allegra, M. Magistretti, C. Bresolin, D. Erbetta, A. Modelli, E. Varesi, F. Pellizzer, A. L. Lacaita and R. Bez, Solid-State Electron., 58, 11 (2011).
6. A. Fantini, V. Sousa, L. Perniola, E. Gourvest, J. C. Bastien, S. Maitrejean, S. Braga, N. Pashkov, A. Bastard, B. Hyot, A. Roule, A. Persico, H. Feldis, C. Jahan, J. F. Nodin, D. Blachier, A. Toffoli, G. Reimbold, F. Fillot, F. Pierre, R. Annunziata, D. Benshael, P. Mazoyer, C. Vallee, T. Billon, J. Hazart, B. D. Salvo and F. Boulanger, Tech. Dig.-Int. Electron Devices Meet., 29.1(2010).
7. P. Sigmund, Phys. Rev., 184, 383 (1969).
8. H. Y. Cheng, S. Raoux, M. Wuttig, B. Munoz, and J. L. Jordan-Sweet, Mater. Res. Soc. Spring Meet., San Francisco, April, H6.5 (2010).
9. J. Y. Wu, M. BrightSky, S. Kim, T. H. Hsu, R. Cheek, P. Y. Du, J. Li, E. K. Lai, Y. Zhu, T. Y. Wang, H. Y. Cheng, A. Schrott, E. A. Joseph, R. Dasaka, S. Raoux, M. H. Lee, H. L. Lung, and C. H. Lam, Tech. Dig.-Int. Electron Devices Meet., 3.2 (2011).
10. H. Y. Cheng, T. H. Hsu, S. Raoux, J.Y. Wu, P. Y. Du, M. BrightSky, Y. Zhu, E. K. Lai, E. Joseph, S. Mittal, R. Cheek, A. Schrott, S. C. Lai, H. L. Lung and C. H. Lam, Tech. Dig.-Int. Electron Devices Meet., 3.4 (2011).