Global reaction pathways in the photodissociation of I3 - ions in solution at 267 and 400 nm studied by picosecond X-ray liquidography

ChemPhysChem

Volumn 14, Issue 16, 2013, Pages 3687-3697

  Kim, Kyung Hwan ^a,b   Ki, Hosung ^a,b   Oang, Key Young ^a,b   Nozawa, Shunsuke ^c   Sato, Tokushi ^c   Kim, Joonghan ^d   Kim, Tae Kyu ^e   Kim, Jeongho ^f   Adachi, Shin Ichi ^c   Ihee, Hyotcherl ^a,b  

^a Institute for Basic Science   (South Korea)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^c INSTITUTE OF MATERIALS STRUCTURE SCIENCE   (Japan)

^d The Catholic University of Korea   (South Korea)

^e Pusan National University   (South Korea)

^f Inha University   (South Korea)

Author keywords

iodine; photolysis; reaction mechanisms; structural dynamics; X ray scattering

Indexed keywords

EID: 84887016011     PISSN: 14394235     EISSN: 14397641     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/cphc.201300713     Document Type: Article

References (55)

1. A. H. Zewail, Angew. Chem. 2001, 113, 4501-4506
2. Angew. Chem. Int. Ed. 2001, 40, 4371-4375.
3. M. Wall, A. N. Tarnovsky, T. Pascher, V. Sundstrom, E. Akesson, J. Phys. Chem. A 2003, 107, 211-217.
4. X. M. Zheng, D. L. Phillips, J. Phys. Chem. A 2000, 104, 6880-6886.
5. P. Kukura, D. W. McCamant, S. Yoon, D. B. Wandschneider, R. A. Mathies, Science 2005, 310, 1006-1009.
6. H. Lee, Y. C. Cheng, G. R. Fleming, Science 2007, 316, 1462-1465.
7. A. C. Moskun, A. E. Jailaubekov, S. E. Bradforth, G. H. Tao, R. M. Stratt, Science 2006, 311, 1907-1911.
8. C. Bressler, C. Milne, V. T. Pham, A. El Nahhas, R. M. van der Veen, W. Gawelda, S. Johnson, P. Beaud, D. Grolimund, M. Kaiser, C. N. Borca, G. Ingold, R. Abela, M. Chergui, Science 2009, 323, 489-492.
9. R. M. van der Veen, C. J. Milne, A. El Nahhas, F. A. Lima, V. T. Pham, J. Best, J. A. Weinstein, C. N. Borca, R. Abela, C. Bressler, M. Chergui, Angew. Chem. 2009, 121, 2749-2752
10. Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 2711-2714.
11. H. D. Wen, N. Huse, R. W. Schoenlein, A. M. Lindenberg, J. Chem. Phys. 2009, 131, 234505.
12. N. Huse, T. K. Kim, L. Jamula, J. K. McCusker, F. M. F. de Groot, R. W. Schoenlein, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 6809-6816.
13. J. Davidsson, J. Poulsen, M. Cammarata, P. Georgiou, R. Wouts, G. Katona, F. Jacobson, A. Plech, M. Wulff, G. Nyman, R. Neutze, Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 245503.
14. H. Ihee, M. Lorenc, T. K. Kim, Q. Y. Kong, M. Cammarata, J. H. Lee, S. Bratos, M. Wulff, Science 2005, 309, 1223-1227.
15. M. Christensen, K. Haldrup, K. Bechgaard, R. Feidenhans'l, Q. Kong, M. Cammarata, M. Lo Russo, M. Wulff, N. Harrit, M. M. Nielsen, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 502-508.
16. K. Haldrup, M. Christensen, M. Cammarata, Q. Kong, M. Wulff, S. O. Mariager, K. Bechgaard, R. Feidenhans'l, N. Harrit, M. M. Nielsen, Angew. Chem. 2009, 121, 4244-4248
17. Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 4180-4184.
18. K. Ichiyanagi, T. Sato, S. Nozawa, K. H. Kim, J. H. Lee, J. Choi, A. Tomita, H. Ichikawa, S. Adachi, H. Ihee, S. Koshihara, J. Synchrotron Radiat. 2009, 16, 391-394.
19. H. Ihee, Acc. Chem. Res. 2009, 42, 356-366.
20. T. K. Kim, J. H. Lee, M. Wulff, Q. Y. Kong, H. Ihee, ChemPhysChem 2009, 10, 1958-1980.
21. S. Jun, J. H. Lee, J. Kim, K. H. Kim, Q. Kong, T. K. Kim, M. Lo Russo, M. Wulff, H. Ihee, Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 11536-11547.
22. Q. Kong, J. H. Lee, K. H. Kim, J. Kim, M. Wulff, H. Ihee, M. H. Koch, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 2600-2607.
23. M. Cammarata, M. Levantino, F. Schotte, P. A. Anfinrud, F. Ewald, J. Choi, A. Cupane, M. Wulff, H. Ihee, Nat. Methods 2008, 5, 881-886.
24. H. S. Cho, N. Dashdorj, F. Schotte, T. Graber, R. Henning, P. Anfinrud, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2010, 107, 7281-7286.
25. J. Kim, K. H. Kim, J. G. Kim, T. W. Kim, Y. Kim, H. Ihee, J. Phys. Chem. Lett. 2011, 2, 350-356.
26. A. Plech, V. Kotaidis, M. Lorenc, J. Boneberg, Nat. Phys. 2006, 2, 44-47.
27. A. Plech, V. Kotaidis, K. Istomin, M. Wulff, J. Synchrotron Radiat. 2007, 14, 288-294.
28. A. Plech, V. Kotaidis, A. Siems, M. Sztucki, Phys. Chem. Chem. Phys. 2008, 10, 3888-3894.
29. S. Ibrahimkutty, J. Kim, M. Cammarata, F. Ewald, J. Choi, H. Ihee, A. Plech, ACS Nano 2011, 5, 3788-3794.
30. U. Banin, S. Ruhman, J. Chem. Phys. 1993, 98, 4391-4403.
31. U. Banin, A. Waldman, S. Ruhman, J. Chem. Phys. 1992, 96, 2416-2419.
32. T. Kühne, R. Kuster, P. Vohringer, Chem. Phys. 1998, 233, 161-178.
33. T. Kühne, P. Vohringer, J. Chem. Phys. 1996, 105, 10788-10802.
34. T. Kühne, P. Vohringer, J. Phys. Chem. A 1998, 102, 4177-4185.
35. L. Zhu, K. Takahashi, M. Saeki, T. Tsukuda, T. Nagata, Chem. Phys. Lett. 2001, 350, 233-239.
36. H. Sato, F. Hirata, A. B. Myers, J. Phys. Chem. A 1998, 102, 2065-2071.
37. C. J. Margulis, D. F. Coker, R. M. Lynden-Bell, Chem. Phys. Lett. 2001, 341, 557-560.
38. C. J. Margulis, D. F. Coker, R. M. Lynden-Bell, J. Chem. Phys. 2001, 114, 367-376.
39. F. S. Zhang, R. M. Lynden-Bell, Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 185505.
40. A. E. Johnson, A. B. Myers, J. Phys. Chem. 1996, 100, 7778-7788.
41. E. Gershgoren, U. Banin, S. Ruhman, J. Phys. Chem. A 1998, 102, 9-16.
42. M. Cammarata, M. Lorenc, T. K. Kim, J. H. Lee, Q. Y. Kong, E. Pontecorvo, M. Lo Russo, G. Schiro, A. Cupane, M. Wulff, H. Ihee, J. Chem. Phys. 2006, 124, 124504.
43. T. K. Kim, M. Lorenc, J. H. Lee, M. Russo, J. Kim, M. Cammarata, Q. Y. Kong, S. Noel, A. Plech, M. Wulff, H. Ihee, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2006, 103, 9410-9415.
44. Q. Y. Kong, J. H. Lee, A. Plech, M. Wulff, H. Ihee, M. H. J. Koch, Angew. Chem. 2008, 120, 5632-5635
45. Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 5550-5553.
46. J. H. Lee, J. Kim, M. Cammarata, Q. Kong, K. H. Kim, J. Choi, T. K. Kim, M. Wulff, H. Ihee, Angew. Chem. 2008, 120, 1063-1066
47. Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 1047-1050.
48. K. H. Kim, S. Muniyappan, K. Y. Oang, J. G. Kim, S. Nozawa, T. Sato, S. Y. Koshihara, R. Henning, I. Kosheleva, H. Ki, Y. Kim, T. W. Kim, J. Kim, S. Adachi, H. Ihee, J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 7001-7008.
49. K. H. Kim, J. H. Lee, J. Kim, S. Nozawa, T. Sato, A. Tomita, K. Ichiyanagi, H. Ki, J. Kim, S. Adachi, H. Ihee, Phys. Rev. Lett. 2013, 110, 165505.
50. J. H. Lee, M. Wulff, S. Bratos, J. Petersen, L. Guerin, J. C. Leicknam, M. Carnmarata, Q. Kong, J. Kim, K. B. Moller, H. Ihee, J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 3255-3261.
51. J. Kim, T. K. Kim, H. Ihee, J. Phys. Chem. A 2011, 115, 1264-1271.
52. J.-D. Chai, M. Head-Gordon, Phys. Chem. Chem. Phys. 2008, 10, 6615-6620.
53. K. A. Peterson, B. C. Shepler, D. Figgen, H. Stoll, J. Phys. Chem. A 2006, 110, 13877-13883.
54. E. Cancès, B. Mennucci, J. Tomasi, J. Chem. Phys. 1997, 107, 3032-3041.
55. Gaussian 09 (Revision D.01), M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, G. Scalmani, V. Barone, B. Mennucci, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Caricato, X. Li, H. P. Hratchian, A. F. Izmaylov, J. Bloino, G. Zheng, J. L. Sonnenberg, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, T. Vreven, J. A. Montgomery, Jr., J. E. Peralta, F. Ogliaro, M. Bearpark, J. J. Heyd, E. Brothers, K. N. Kudin, V. N. Staroverov, R. Kobayashi, J. Normand, K. Raghavachari, A. Rendell, J. C. Burant, S. S. Iyengar, J. Tomasi, M. Cossi, N. Rega, J. M. Millam, M. Klene, J. E. Knox, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, R. L. Martin, K. Morokuma, V. G. Zakrzewski, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, S. Dapprich, A. D. Daniels, Ö. Farkas, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, J. Cioslowski, D. J. Fox, Gaussian, Inc., Wallingford, CT, 2009.