-
1
-
-
0003561662
-
-
2nd ed., John Wiley & Sons, Inc., New York
-
A. J. Bard and L. R. Faulkner, Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications, 2nd ed., John Wiley & Sons, Inc., New York, 2001, pp. 156-225
-
(2001)
Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications
, pp. 156-225
-
-
Bard, A.J.1
Faulkner, L.R.2
-
4
-
-
0002769465
-
-
T. Kissinger and W. R. Heineman, ed., Marcel Dekker, New York
-
A. C. Michael and R. M. Wightman, Laboratory Techniques in Electroanalytical Chemistry, P. T. Kissinger, and, W. R. Heineman, ed., Marcel Dekker, New York, 1996, pp. 367-403
-
(1996)
Laboratory Techniques in Electroanalytical Chemistry
, pp. 367-403
-
-
Michael, A.C.1
Wightman, R.M.2
-
8
-
-
33748256528
-
-
T. E. Mcknight A. V. Melechko B. L. Fletcher S. W. Jones D. K. Hensley D. B. Peckys G. D. Griffin M. L. Simpson M. N. Ericson J. Phys. Chem. B 2006 110 15317
-
(2006)
J. Phys. Chem. B
, vol.110
, pp. 15317
-
-
McKnight, T.E.1
Melechko, A.V.2
Fletcher, B.L.3
Jones, S.W.4
Hensley, D.K.5
Peckys, D.B.6
Griffin, G.D.7
Simpson, M.L.8
Ericson, M.N.9
-
14
-
-
0002943078
-
-
T. Kissinger and W. R. Heineman, ed., Marcel Dekker, New York
-
R. L. McCreery and K. K. Cline, Laboratory Techniques in Electroanalytical Chemistry, P. T. Kissinger, and, W. R. Heineman, ed., Marcel Dekker, New York, 1996, pp. 293-332
-
(1996)
Laboratory Techniques in Electroanalytical Chemistry
, pp. 293-332
-
-
McCreery, R.L.1
Cline, K.K.2
-
19
-
-
35348911884
-
-
A. V. Melechko K. L. Klein J. D. Fowlkes D. K. Hensley I. A. Merkulov T. E. McKnight P. D. Rack J. A. Horton M. L. Simpson J. Appl. Phys. 2007 102 074314
-
(2007)
J. Appl. Phys.
, vol.102
, pp. 074314
-
-
Melechko, A.V.1
Klein, K.L.2
Fowlkes, J.D.3
Hensley, D.K.4
Merkulov, I.A.5
McKnight, T.E.6
Rack, P.D.7
Horton, J.A.8
Simpson, M.L.9
-
24
-
-
55849104293
-
-
N. G. Shang P. Papakonstantinou M. McMullan M. Chu A. Stamboulis A. Potenza S. S. Dhesi H. Marchetto Adv. Funct. Mater. 2008 18 3506
-
(2008)
Adv. Funct. Mater.
, vol.18
, pp. 3506
-
-
Shang, N.G.1
Papakonstantinou, P.2
McMullan, M.3
Chu, M.4
Stamboulis, A.5
Potenza, A.6
Dhesi, S.S.7
Marchetto, H.8
-
25
-
-
84875694733
-
-
P. Li Y. Ding A. Wang L. Zhou S. H. Wei Y. M. Zhou Y. W. Tang Y. Chen C. X. Cai T. H. Lu ACS Appl. Mater. Interfaces 2013 5 2255
-
(2013)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.5
, pp. 2255
-
-
Li, P.1
Ding, Y.2
Wang, A.3
Zhou, L.4
Wei, S.H.5
Zhou, Y.M.6
Tang, Y.W.7
Chen, Y.8
Cai, C.X.9
Lu, T.H.10
-
31
-
-
84862896126
-
-
S. Musa D. R. Rand D. J. Cott J. Loo C. Bartic W. Eberle B. Nuttin G. Borghs ACS Nano 2012 6 4615
-
(2012)
ACS Nano
, vol.6
, pp. 4615
-
-
Musa, S.1
Rand, D.R.2
Cott, D.J.3
Loo, J.4
Bartic, C.5
Eberle, W.6
Nuttin, B.7
Borghs, G.8
-
33
-
-
0037087489
-
-
M. A. Guillorn T. E. McKnight A. Melechko V. I. Merkulov P. F. Britt D. W. Austin D. H. Lowndes M. L. Simpson J. Appl. Phys. 2002 91 3824
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, pp. 3824
-
-
Guillorn, M.A.1
McKnight, T.E.2
Melechko, A.3
Merkulov, V.I.4
Britt, P.F.5
Austin, D.W.6
Lowndes, D.H.7
Simpson, M.L.8
-
38
-
-
70349960074
-
-
X. S. Wang Q. Q. Li J. Xie Z. Jin J. Y. Wang Y. Li K. L. Jiang S. S. Fan Nano Lett. 2009 9 3137
-
(2009)
Nano Lett.
, vol.9
, pp. 3137
-
-
Wang, X.S.1
Li, Q.Q.2
Xie, J.3
Jin, Z.4
Wang, J.Y.5
Li, Y.6
Jiang, K.L.7
Fan, S.S.8
-
42
-
-
0041365869
-
-
J. J. Gooding R. Wibowo J. Q. Liu W. R. Yang D. Losic S. Orbons F. J. Mearns J. G. Shapter D. B. Hibbert J. Am. Chem. Soc. 2003 125 9006
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 9006
-
-
Gooding, J.J.1
Wibowo, R.2
Liu, J.Q.3
Yang, W.R.4
Losic, D.5
Orbons, S.6
Mearns, F.J.7
Shapter, J.G.8
Hibbert, D.B.9
-
49
-
-
49749114905
-
-
K. D. Sorge K. L. Klein A. V. Melechko C. L. Finkel O. Malkina T. Leventouri J. D. Fowlkes P. D. Rack M. L. Simpson J. Appl. Phys. 2008 104 033909
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.104
, pp. 033909
-
-
Sorge, K.D.1
Klein, K.L.2
Melechko, A.V.3
Finkel, C.L.4
Malkina, O.5
Leventouri, T.6
Fowlkes, J.D.7
Rack, P.D.8
Simpson, M.L.9
-
53
-
-
41549092317
-
-
K. L. Klein A. V. Melechko T. E. McKnight S. T. Retterer P. D. Rack J. D. Fowlkes D. C. Joy M. L. Simpson J. Appl. Phys. 2008 103 061301
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.103
, pp. 061301
-
-
Klein, K.L.1
Melechko, A.V.2
McKnight, T.E.3
Retterer, S.T.4
Rack, P.D.5
Fowlkes, J.D.6
Joy, D.C.7
Simpson, M.L.8
-
55
-
-
27844528824
-
-
J. Zhang X. Wang W. Yang W. Yu T. Feng Q. Li X. Liu C. Yang Carbon 2006 44 418
-
(2006)
Carbon
, vol.44
, pp. 418
-
-
Zhang, J.1
Wang, X.2
Yang, W.3
Yu, W.4
Feng, T.5
Li, Q.6
Liu, X.7
Yang, C.8
-
63
-
-
84867284819
-
-
L. M. Li X. Y. Wang L. S. Hu R. S. Chen Y. Huang S. J. Chen W. H. Huang K. F. Huo P. K. Chu Lab Chip 2012 12 4249
-
(2012)
Lab Chip
, vol.12
, pp. 4249
-
-
Li, L.M.1
Wang, X.Y.2
Hu, L.S.3
Chen, R.S.4
Huang, Y.5
Chen, S.J.6
Huang, W.H.7
Huo, K.F.8
Chu, P.K.9
-
65
-
-
84886362406
-
-
H. Y. Yeo Y. D. Zhong N. S. Vesselin D. Amos R. H. William H. B. Halsall B. Amit K. Y. W. Danny J. S. Mark Sens. Actuators, B 2008 133 208
-
(2008)
Sens. Actuators, B
, vol.133
, pp. 208
-
-
Yeo, H.Y.1
Zhong, Y.D.2
Vesselin, N.S.3
Amos, D.4
William, R.H.5
Halsall, H.B.6
Amit, B.7
Danny, K.Y.W.8
Mark, J.S.9
-
72
-
-
84886363294
-
-
H. Y. Yeo S. Vesselin J. S. Mark Y. D. Zhong J. Abdul R. H. William H. B. Halsall K. Y. Danny A. B. Wong T. Yi S. Srinivas Sens. Actuators, B 2006 120 298
-
(2006)
Sens. Actuators, B
, vol.120
, pp. 298
-
-
Yeo, H.Y.1
Vesselin, S.2
Mark, J.S.3
Zhong, Y.D.4
Abdul, J.5
William, R.H.6
Halsall, H.B.7
Danny, K.Y.8
Wong, A.B.9
Yi, T.10
Srinivas, S.11
-
73
-
-
84886370610
-
-
H. Y. Yeo B. Adam R. H. William H. B. Halsall N. S. Vesselin Y. D. Zhong P. Sarah B. Michael J. Abdul T. Yi K. Y. Danny A. B. Wong J. S. Mark Sens. Actuators, B 2007 123 177
-
(2007)
Sens. Actuators, B
, vol.123
, pp. 177
-
-
Yeo, H.Y.1
Adam, B.2
William, R.H.3
Halsall, H.B.4
Vesselin, N.S.5
Zhong, Y.D.6
Sarah, P.7
Michael, B.8
Abdul, J.9
Yi, T.10
Danny, K.Y.11
Wong, A.B.12
Mark, J.S.13
-
75
-
-
0142072007
-
-
T. E. McKnight A. V. Melechko M. A. Guillorn V. I. Merkulov M. J. Doktycz C. T. Culbertson S. C. Jacobson D. H. Lowndes M. L. Simpson J. Phys. Chem. B 2003 107 10722
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 10722
-
-
McKnight, T.E.1
Melechko, A.V.2
Guillorn, M.A.3
Merkulov, V.I.4
Doktycz, M.J.5
Culbertson, C.T.6
Jacobson, S.C.7
Lowndes, D.H.8
Simpson, M.L.9
-
91
-
-
0141856502
-
-
J. Li H. T. Ng A. M. Cassell W. Fan H. Chen Q. Ye J. Koehne J. Han M. Meyyappan Nano Lett. 2003 3 597
-
(2003)
Nano Lett.
, vol.3
, pp. 597
-
-
Li, J.1
Ng, H.T.2
Cassell, A.M.3
Fan, W.4
Chen, H.5
Ye, Q.6
Koehne, J.7
Han, J.8
Meyyappan, M.9
-
92
-
-
1542634758
-
-
J. Koehne J. Li A. M. Cassell H. Chen Q. Ye H. T. Ng J. Han M. Meyyappan J. Mater. Chem. 2004 14 676
-
(2004)
J. Mater. Chem.
, vol.14
, pp. 676
-
-
Koehne, J.1
Li, J.2
Cassell, A.M.3
Chen, H.4
Ye, Q.5
Ng, H.T.6
Han, J.7
Meyyappan, M.8
-
103
-
-
33746633400
-
-
T. E. Mcknight C. Peeraphatdit S. W. Jones J. D. Fowlkes B. L. Letcher K. L. Klein A. V. Melechko M. J. Doktycz M. L. Simpson Chem. Mater. 2006 18 3203
-
(2006)
Chem. Mater.
, vol.18
, pp. 3203
-
-
McKnight, T.E.1
Peeraphatdit, C.2
Jones, S.W.3
Fowlkes, J.D.4
Letcher, B.L.5
Klein, K.L.6
Melechko, A.V.7
Doktycz, M.J.8
Simpson, M.L.9
|