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Volumn 102, Issue 21, 2013, Pages

Enhancement of p-type mobility in tin monoxide by native defects

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DEFECTS; ELECTRONIC STRUCTURE; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS; VALENCE BANDS;

EID: 84879115278     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4808382     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.