Immobilizing individual atoms beneath a corrugated single layer of boron nitride

Nano Letters

Volumn 13, Issue 5, 2013, Pages 2098-2103

  Cun, Huanyao ^a   Iannuzzi, Marcella ^a   Hemmi, Adrian ^a   Roth, Silvan ^a   Osterwalder, Jürg ^a   Greber, Thomas ^a  

^a UNIVERSITY OF ZURICH   (Switzerland)

Author keywords

cutting single layers; defects; graphene; Hexagonal boron nitride; implantation; single atom

Indexed keywords

DENSITY FUNCTIONAL THEORY CALCULATIONS; HEXAGONAL BORON NITRIDE; HEXAGONAL BORON NITRIDE (H-BN); RH (111) SURFACE; ROOM TEMPERATURE; SINGLE ATOMS; SINGLE LAYER; SUBSURFACE SITES;

ARGON; ATOMS; DEFECTS; DENSITY FUNCTIONAL THEORY; GRAPHENE; ION IMPLANTATION; KINETICS; RHODIUM; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

BORON NITRIDE;

ARGON; BORON DERIVATIVE; BORON NITRIDE; GRAPHITE; RHODIUM; RUTHENIUM;

ARTICLE; CHEMISTRY; KINETICS; SURFACE PROPERTY; TEMPERATURE;

ARGON; BORON COMPOUNDS; GRAPHITE; KINETICS; RHODIUM; RUTHENIUM; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE;

EID: 84877287558     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl400449y     Document Type: Article

References (48)

1. Goriachko, A.; Over, H. Int. J. Res. Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 223, 157-168
2. N'Diaye, A. T.; Bleikamp, S.; Feibelman, P. J.; Michely, T. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 215501
3. Dil, H.; Lobo-Checa, J.; Laskowski, R.; Blaha, P.; Berner, S.; Osterwalder, J.; Greber, T. Science 2008, 319, 1824-1826
4. Mao, J. H.; Zhang, H. G.; Jiang, Y. H.; Pan, Y.; Gao, M.; Xiao, W. D.; Gao, H. J. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 14136
5. Pollard, A. J. Angew. Chem. Int. Ed. 2010, 49, 1794-1799
6. Zhang, H. G.; Hu, H.; Pan, Y.; Mao, J. H.; Gao, M.; Guo, H. M.; Du, S. X.; Greber, T.; Gao, H.-J. J. Phys.: Condens. Matter. 2010, 22, 302001
7. Borca, B.; Barja, S.; Garnica, M.; Sanchez-Portal, D.; Silkin, V. M.; Chulkov, E. V.; Hermanns, C. F.; Hinarejos, J. J.; Vazquez de Parga, A. L.; Arnau, A.; Echenique, P. M.; Miranda, R. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 036804
8. Subramaniam, D.; Libisch, F.; Li, Y.; Pauly, C.; Geringer, V.; Reiter, R.; Mashoff, T.; Liebmann, M.; Burgdörfer, J.; Busse, C.; Michely, T.; Mazzarello, R.; Pratzer, M.; Morgenstern, M. Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 046801
9. Auwarter, W.; Muntwiler, M.; Greber, T.; Osterwalder, J. Surf. Sci. 2002, 511, 379-386
10. Sutter, P. W.; Flege, J.-I.; Sutter, E. A. Nat. Mater. 2008, 7, 406-411
11. Preobrajenski, A. B.; Ng, M. L.; Vinogradov, N. A.; Vinogradov, A. S.; Lundgren, E.; Mikkelsen, A.; Martensson, N. Nano Lett. 2009, 9, 2780-2787
12. Riedl, C.; Coletti, C.; Iwasaki, T.; Zakharov, A. A.; Starke, U. Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 246804
13. Brugger, T.; Ma, H.; Iannuzzi, M.; Berner, S.; Winkler, A.; Hutter, J.; Osterwalder, J.; Greber, T. Angew. Chem. Int. Ed. 2010, 49, 6120-6124
14. Schmid, M.; Hebenstreit, W.; Varga, P.; Crampin, S. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2298-2301
15. Broekmann, P.; Mewe, A.; Wormeester, H.; Poelsema, B. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 146102
16. Aumayr, F.; Facsko, S.; El-Said, A. S.; Trautmann, C.; Schleberger, M. J. Phys.: Condens. Matter 2011, 23, 393001
17. Harris, J. J. Mater. Sci.- Mater. Electron 1993, 4, 93-105
18. Gruber, A.; Drabenstedt, A.; Tietz, C.; Fleury, L.; Wrachtrup, J.; vonBorczyskowski, C. Science 1997, 276, 2012-2014
19. Ishikawa, N.; Sugita, M.; Ishikawa, T.; Koshihara, S.; Kaizu, Y. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 8694-8695
20. Jain, I. P.; Agarwal, G. Surf. Sci. Rep. 2011, 66, 77-172
21. Sainsbury, T.; Satti, A.; May, P.; Wang, Z.; McGovern, I.; Gun'ko, Y. K.; Coleman, J. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 18758-18771
22. Bunch, J. S.; Verbridge, S. S.; Alden, J. S.; van der Zande, A. M.; Parpia, J. M.; Craighead, H. G.; McEuen, P. L. Nano Lett. 2008, 8, 2458-2462
23. Kosugi, S.; Ishikawa, N.; Saitoh, Y.; Hori, F.; Iwase, A. J. Nucl. Mater. 2011, 411, 171-173
24. Kotakoski, J.; Jin, C. H.; Lehtinen, O.; Suenaga, K.; Krasheninnikov, A. V. Phys. Rev. B 2010, 82, 113404
25. Marton, D.; Boyd, K.; Lytle, T.; Rabalais, J. Phys. Rev. B 1993, 48, 6757-6766
26. Hahn, J.; Kang, H. Phys. Rev. B 1999, 60, 6007-6017
27. Corso, M.; Auwärter, W.; Muntwiler, M.; Tamai, A.; Greber, T.; Osterwalder, J. Science 2004, 303, 217-220
28. Berner, S.; Corso, M.; Widmer, R.; Groening, O.; Laskowski, R.; Blaha, P.; Schwarz, K.; Goriachko, A.; Over, H.; Gsell, S.; Schreck, M.; Sachdev, H.; Greber, T.; Osterwalder, J. Angew. Chem. Int. Ed. 2007, 46, 5115-5119
29. Goriachko, A.; He, Y.; Knapp, M.; Over, H.; Corso, M.; Brugger, T.; Berner, S.; Osterwalder, J.; Greber, T. Langmuir 2007, 23, 2928-2931
30. Lippert, G.; Hutter, J.; Parrinello, M. Mol. Phys. 1997, 92, 477-487
31. VandeVondele, J.; Krack, M.; Mohamed, F.; Parrinello, M.; Chassaing, T.; Hutter, J. Comput. Phys. Commun. 2005, 167, 103-128
32. Tersoff, J.; Hamann, D. Phys. Rev. B 1985, 31, 805-813
33. Dong, G.; Fourre, E. B.; Tabak, F. C.; Frenken, J. W. M. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 096102
34. Zobelli, A.; Ewels, C. P.; Gloter, A.; Seifert, G. Phys. Rev. B 2007, 75, 245402
35. Auwarter, W.; Suter, H.; Sachdev, H.; Greber, T. Chem. Mater. 2004, 16, 343-345
36. Wei, X.; Wang, M.-S.; Bando, Y.; Golberg, D. Adv. Mater. 2010, 22, 4895
37. Lu, A.; Pan, B. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 105504
38. Marchini, S.; Guenther, S.; Wintterlin, J. Phys. Rev. B 2007, 76, 075429
39. Vazquez de Parga, A. L.; Calleja, F.; Borca, B.; Passeggi, M. C. G., Jr.; Hinarejos, J. J.; Guinea, F.; Miranda, R. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 056807
40. Pan, Y.; Zhang, H.; Shi, D.; Sun, J.; Du, S.; Liu, F.; Gao, H.-J. Adv. Mater. 2009, 21, 2777
41. Brugger, T.; Guenther, S.; Wang, B.; Dil, J. H.; Bocquet, M.-L.; Osterwalder, J.; Wintterlin, J.; Greber, T. Phys. Rev. B 2009, 79, 045407
42. Greber, T.; Raetzo, O.; Kreutz, T.; Schwaller, P.; Deichmann, W.; Wetli, E.; Osterwalder, J. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 4549-4554
43. CP2k developers group under the terms of the GNU General Public Licence; see http://www.cp2k.org. 2012.
44. Goedecker, S.; Teter, M.; Hutter, J. Phys. Rev. B 1996, 54, 1703-1710
45. VandeVondele, J.; Hutter, J. J. Chem. Phys. 2007, 127, 114105
46. Zhang, Y.; Yang, W. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 890-891
47. Grimme, S.; Antony, J.; Ehrlich, S.; Krieg, H. J. Chem. Phys. 2010, 132, 154104
48. Ding, Y.; Iannuzzi, M.; Hutter, J. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 13685-13692