-
1
-
-
84908043683
-
-
Han, C.-W.; Kim, K.-M.; Bae, S.-J.; Choi, H.-S.; Lee, J.-M.; Kim, T.-S.; Tak, Y.-H.; Cha, S.-Y.; Ahn, B.-C. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2012, 43, 279-281
-
(2012)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.43
, pp. 279-281
-
-
Han, C.-W.1
Kim, K.-M.2
Bae, S.-J.3
Choi, H.-S.4
Lee, J.-M.5
Kim, T.-S.6
Tak, Y.-H.7
Cha, S.-Y.8
Ahn, B.-C.9
-
2
-
-
66149083087
-
-
Reineke, R.; Lindner, F.; Schwartz, G.; Seidler, N.; Walzer, K.; Lüssem, B.; Leo, K. Nature 2009, 459, 234-238
-
(2009)
Nature
, vol.459
, pp. 234-238
-
-
Reineke, R.1
Lindner, F.2
Schwartz, G.3
Seidler, N.4
Walzer, K.5
Lüssem, B.6
Leo, K.7
-
3
-
-
85075692588
-
-
Yamae, K.; Tsuji, H.; Kittichungchit, V.; Matsuhisa, Y.; Hayashi, S.; Ide, N.; Komoda, Y. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2012, 43, 694-697
-
(2012)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.43
, pp. 694-697
-
-
Yamae, K.1
Tsuji, H.2
Kittichungchit, V.3
Matsuhisa, Y.4
Hayashi, S.5
Ide, N.6
Komoda, Y.7
-
4
-
-
0035340341
-
-
Stewart, M.; Howell, R. S.; Pires, L.; Hatalis, M. K. IEEE Trans. Electron Devices 2001, 48, 845-851
-
(2001)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.48
, pp. 845-851
-
-
Stewart, M.1
Howell, R.S.2
Pires, L.3
Hatalis, M.K.4
-
5
-
-
24744434424
-
-
Lih, J.-J.; Sung, C.-F.; Li, C.-H.; Hsiao, T.-H.; Lee, H.-H. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2004, 35, 1504-1507
-
(2004)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.35
, pp. 1504-1507
-
-
Lih, J.-J.1
Sung, C.-F.2
Li, C.-H.3
Hsiao, T.-H.4
Lee, H.-H.5
-
6
-
-
84863221146
-
-
Lee, I.; Im, C.; Kim, Y.; Kwon, D.; Kim, J.; Ko, M.; Yun, J.; Yeo, J.; Im, J.; Kim, S. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2011, 42, 101-103
-
(2011)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.42
, pp. 101-103
-
-
Lee, I.1
Im, C.2
Kim, Y.3
Kwon, D.4
Kim, J.5
Ko, M.6
Yun, J.7
Yeo, J.8
Im, J.9
Kim, S.10
-
7
-
-
0035397490
-
-
He, Y.; Hattori, R.; Kanicki, J. IEEE Trans. Electron Devices 2001, 48, 1322-1325
-
(2001)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.48
, pp. 1322-1325
-
-
He, Y.1
Hattori, R.2
Kanicki, J.3
-
8
-
-
32144442389
-
-
Nathan, A.; Alexander, S.; Servati, P.; Sakariya, K.; Striakhilev, D.; Huang, R.; Kumar, A.; Church, C.; Wzorek, J.; Arsenault, P. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2005, 36, 320-323
-
(2005)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.36
, pp. 320-323
-
-
Nathan, A.1
Alexander, S.2
Servati, P.3
Sakariya, K.4
Striakhilev, D.5
Huang, R.6
Kumar, A.7
Church, C.8
Wzorek, J.9
Arsenault, P.10
-
9
-
-
85075679844
-
-
Shih, T.-H.; Tsai, T.-T.; Chen, K.-C.; Lee, Y.-C.; Fang, S.-W.; Lee, J.-Y.; Hsieh, W.-J.; Tseng, S.-H.; Chiang, Y.-M.; Wu, W.-H.; Wang, S.-C.; Lu, H.-H.; Chang, L.-H.; Tsai, L.; Chen, C.-Y.; Lin, Y.-H. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2012, 43, 92-94
-
(2012)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.43
, pp. 92-94
-
-
Shih, T.-H.1
Tsai, T.-T.2
Chen, K.-C.3
Lee, Y.-C.4
Fang, S.-W.5
Lee, J.-Y.6
Hsieh, W.-J.7
Tseng, S.-H.8
Chiang, Y.-M.9
Wu, W.-H.10
Wang, S.-C.11
Lu, H.-H.12
Chang, L.-H.13
Tsai, L.14
Chen, C.-Y.15
Lin, Y.-H.16
-
11
-
-
84857291837
-
-
Hsieh, H.-H.; Tsai, T.-T.; Chang, C.-Y.; Wang, H.-H.; Huang, J.-Y.; Hsu, S.-F.; Wu, Y.-C.; Tsai, T.-C.; Chuang, C.-S.; Chang, L.-H.; Lin, Y.-H. SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 2010, 41, 140-143
-
(2010)
SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap.
, vol.41
, pp. 140-143
-
-
Hsieh, H.-H.1
Tsai, T.-T.2
Chang, C.-Y.3
Wang, H.-H.4
Huang, J.-Y.5
Hsu, S.-F.6
Wu, Y.-C.7
Tsai, T.-C.8
Chuang, C.-S.9
Chang, L.-H.10
Lin, Y.-H.11
-
12
-
-
33745286472
-
-
Chu, T.-Y.; Chen, J.-F.; Chen, C. H. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 4948-4950
-
(2006)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.45
, pp. 4948-4950
-
-
Chu, T.-Y.1
Chen, J.-F.2
Chen, C.H.3
-
13
-
-
79955996233
-
-
Zhou, X.; Pfeiffer, M.; Huang, J. S.; Blochwitz-Nimoth, J.; Qin, D. S.; Werner, A.; Drechsel, J.; Maenning, B.; Leo, K. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 922-924
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 922-924
-
-
Zhou, X.1
Pfeiffer, M.2
Huang, J.S.3
Blochwitz-Nimoth, J.4
Qin, D.S.5
Werner, A.6
Drechsel, J.7
Maenning, B.8
Leo, K.9
-
14
-
-
33748453749
-
-
Chu, T.-Y.; Chen, J.-F.; Chen, S.-Y.; Chen, C.-J.; Chen, C. H. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 053503
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 053503
-
-
Chu, T.-Y.1
Chen, J.-F.2
Chen, S.-Y.3
Chen, C.-J.4
Chen, C.H.5
-
15
-
-
33748470149
-
-
Chen, S.-Y.; Chu, T.-Y.; Chen, J.-F.; Su, C.-Y.; Chen, C. H. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 053518
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 053518
-
-
Chen, S.-Y.1
Chu, T.-Y.2
Chen, J.-F.3
Su, C.-Y.4
Chen, C.H.5
-
16
-
-
46649086132
-
-
Xiong, T.; Wang, F.; Qiao, X.; Ma, D. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 263305
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
, pp. 263305
-
-
Xiong, T.1
Wang, F.2
Qiao, X.3
Ma, D.4
-
17
-
-
80051603070
-
-
Lee, J.-H.; Wang, P.-S.; Park, H.-D.; Wu, C.-I.; Kim, J.-J. Org. Electron. 2011, 12, 1763-1767
-
(2011)
Org. Electron.
, vol.12
, pp. 1763-1767
-
-
Lee, J.-H.1
Wang, P.-S.2
Park, H.-D.3
Wu, C.-I.4
Kim, J.-J.5
-
18
-
-
0344514700
-
-
D'Andrade, B. W.; Forrest, S. R.; Chwang, A. B. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3858-3860
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.83
, pp. 3858-3860
-
-
D'Andrade, B.W.1
Forrest, S.R.2
Chwang, A.B.3
-
19
-
-
0035339635
-
-
Parthasarathy, G.; Shen, C.; Kahn, A.; Forrest, S. R. J. Appl. Phys. 2001, 89, 4986-4992
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.89
, pp. 4986-4992
-
-
Parthasarathy, G.1
Shen, C.2
Kahn, A.3
Forrest, S.R.4
-
20
-
-
80455127407
-
-
Zhong, C.; Liu, S.; Huang, F.; Wu, H.; Cao, Y. Chem. Mater. 2011, 23, 4870-4876
-
(2011)
Chem. Mater.
, vol.23
, pp. 4870-4876
-
-
Zhong, C.1
Liu, S.2
Huang, F.3
Wu, H.4
Cao, Y.5
-
22
-
-
84862893245
-
-
Vaynzof, Y.; Kabra, D.; Brenner, T. J. K.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Isr. J. Chem. 2012, 52, 496-517
-
(2012)
Isr. J. Chem.
, vol.52
, pp. 496-517
-
-
Vaynzof, Y.1
Kabra, D.2
Brenner, T.J.K.3
Sirringhaus, H.4
Friend, R.H.5
-
24
-
-
79952018633
-
-
Kabra, D.; Lu, L. P.; Song, M. H.; Snaith, H. J.; Friend, R. H. Adv. Mater. 2010, 22, 3194-3198
-
(2010)
Adv. Mater.
, vol.22
, pp. 3194-3198
-
-
Kabra, D.1
Lu, L.P.2
Song, M.H.3
Snaith, H.J.4
Friend, R.H.5
-
25
-
-
79952743029
-
-
Ryan, J. W.; Palomares, E.; Martínez-Ferrero, E. J. Mater. Chem. 2011, 21, 4774-4777
-
(2011)
J. Mater. Chem.
, vol.21
, pp. 4774-4777
-
-
Ryan, J.W.1
Palomares, E.2
Martínez-Ferrero, E.3
-
26
-
-
38449096242
-
-
Bolink, H. J.; Coronado, E.; Repetto, D.; Sessolo, M.; Barea, E. M.; Bisquert, J.; Garcia-Belmonte, G.; Prochazka, J.; Kavan, L. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 145-150
-
(2008)
Adv. Funct. Mater.
, vol.18
, pp. 145-150
-
-
Bolink, H.J.1
Coronado, E.2
Repetto, D.3
Sessolo, M.4
Barea, E.M.5
Bisquert, J.6
Garcia-Belmonte, G.7
Prochazka, J.8
Kavan, L.9
-
27
-
-
70249141663
-
-
Tokmoldin, N.; Griffiths, N.; Bradley, D. D. C.; Haque, S. A. Adv. Mater. 2009, 21, 3475-3478
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.21
, pp. 3475-3478
-
-
Tokmoldin, N.1
Griffiths, N.2
Bradley, D.D.C.3
Haque, S.A.4
-
28
-
-
84870509714
-
-
Chiba, T.; Pu, Y.-J.; Hirasawa, M.; Masuhara, A.; Sasabe, H.; Kido, J. ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 6104-6108
-
(2012)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.4
, pp. 6104-6108
-
-
Chiba, T.1
Pu, Y.-J.2
Hirasawa, M.3
Masuhara, A.4
Sasabe, H.5
Kido, J.6
-
29
-
-
84867344342
-
-
Chiba, T.; Pu, Y.-J.; Sasabe, H.; Kido, J.; Yang, Y. J. Mater. Chem. 2012, 22, 22769-22773
-
(2012)
J. Mater. Chem.
, vol.22
, pp. 22769-22773
-
-
Chiba, T.1
Pu, Y.-J.2
Sasabe, H.3
Kido, J.4
Yang, Y.5
-
30
-
-
84861580131
-
-
Ryu, S. Y.; Kim, S. H.; Kim, C. S.; Jo, S.; Lee, J. Y. Curr. Appl. Phys. 2012, 12, 1378-1380
-
(2012)
Curr. Appl. Phys.
, vol.12
, pp. 1378-1380
-
-
Ryu, S.Y.1
Kim, S.H.2
Kim, C.S.3
Jo, S.4
Lee, J.Y.5
-
31
-
-
77951582620
-
-
Lee, H.; Park, I.; Kwak, J.; Yoon, D. Y.; Lee, C. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 153306
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 153306
-
-
Lee, H.1
Park, I.2
Kwak, J.3
Yoon, D.Y.4
Lee, C.5
-
32
-
-
78049261853
-
-
Qian, L.; Zheng, Y.; Choudhury, K. R.; Bera, D.; So, F.; Xue, J.; Holloway, P. H. Nano Today 2010, 5, 384-389
-
(2010)
Nano Today
, vol.5
, pp. 384-389
-
-
Qian, L.1
Zheng, Y.2
Choudhury, K.R.3
Bera, D.4
So, F.5
Xue, J.6
Holloway, P.H.7
-
33
-
-
84861070261
-
-
Kwak, J.; Bae, W. K.; Lee, D.; Park, I.; Lim, J.; Park, M.; Cho, H.; Woo, H.; Yoon, D. Y.; Char, K.; Lee, S.; Lee, C. Nano Lett. 2012, 12, 2362-2366
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 2362-2366
-
-
Kwak, J.1
Bae, W.K.2
Lee, D.3
Park, I.4
Lim, J.5
Park, M.6
Cho, H.7
Woo, H.8
Yoon, D.Y.9
Char, K.10
Lee, S.11
Lee, C.12
-
34
-
-
84872146257
-
-
Kuwabara, T.; Tamai, C.; Omura, Y.; Yamaguchi, T.; Taima, T.; Takahashi, K. Org. Electron. 2013, 14, 649-656
-
(2013)
Org. Electron.
, vol.14
, pp. 649-656
-
-
Kuwabara, T.1
Tamai, C.2
Omura, Y.3
Yamaguchi, T.4
Taima, T.5
Takahashi, K.6
-
36
-
-
41549154190
-
-
Caruge, J. M.; Halpert, J. E.; Wood, V.; Bulović, V.; Bawendi, M. G. Nat. Photon. 2008, 2, 247-250
-
(2008)
Nat. Photon.
, vol.2
, pp. 247-250
-
-
Caruge, J.M.1
Halpert, J.E.2
Wood, V.3
Bulović, V.4
Bawendi, M.G.5
-
37
-
-
34247221066
-
-
Tanaka, D.; Takeda, T.; Chiba, T.; Watanabe, S.; Kido, J. Chem. Lett. 2007, 36, 262-263
-
(2007)
Chem. Lett.
, vol.36
, pp. 262-263
-
-
Tanaka, D.1
Takeda, T.2
Chiba, T.3
Watanabe, S.4
Kido, J.5
|