Plasmonic excitation and manipulation with an electron beam

MRS Bulletin

Volumn 37, Issue 8, 2012, Pages 752-760

  Vesseur, Ernst Jan R ^a   Aizpurua, Javier ^b   Coenen, Toon ^c   Reyes Coronado, Alejandro ^d   Batson, Philip E ^e   Polman, Albert ^c  

^a Caelux Corporation   (United States)

^b DONOSTIA INTERNATIONAL PHYSICS CENTER DIPC   (Spain)

^c FOM INSTITUTE AMOLF   (Netherlands)

^d BENEMÉRITA UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE PUEBLA   (Mexico)

^e RUTGERS UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

electron irradiation; metal; Optical properties; SEM; STEM

Indexed keywords

ANGULAR EMISSION; BEAM POSITIONS; DETECTION SYSTEM; FAR-FIELD; METAL STRUCTURES; MODE STRUCTURE; NANO SCALE; NANOANTENNAS; NANOMETER DIMENSIONS; NANOMETER LENGTH SCALE; PLASMONIC; PLASMONIC DEVICES; POINT SOURCES; RESONANT MODE; SPATIAL PROFILES; STEM; SURFACE PLASMONS;

ELECTRON BEAMS; ELECTRON IRRADIATION; METALS; OPTICAL PROPERTIES; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

PLASMONS;

EID: 84865247847     PISSN: 08837694     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1557/mrs.2012.174     Document Type: Article

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