-
2
-
-
0003842251
-
-
In; Hadži, D. John Wiley & Sons: New York
-
Van Duijneveldt-Van de Rijdt, J. G. C. M.; Van Duijneveldt, F. B. In Theoretical Treatment of Hydrogen Bonding; Hadži, D., Ed.; John Wiley & Sons: New York, 1997, 13-47.
-
(1997)
Theoretical Treatment of Hydrogen Bonding
, pp. 13-47
-
-
Van Duijneveldt-Van De Rijdt, J.G.C.M.1
Van Duijneveldt, F.B.2
-
6
-
-
51749095229
-
-
Zahn, S.; Uhlig, F.; Thar, J.; Spickerman, C.; Kirchner, B. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 3639
-
(2008)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.47
, pp. 3639
-
-
Zahn, S.1
Uhlig, F.2
Thar, J.3
Spickerman, C.4
Kirchner, B.5
-
7
-
-
60149084718
-
-
Zahn, S.; Bruns, G.; Thar, J.; Kirchner, B. Phys. Chem. Chem. Phys. 2008, 10, 6921
-
(2008)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.10
, pp. 6921
-
-
Zahn, S.1
Bruns, G.2
Thar, J.3
Kirchner, B.4
-
8
-
-
24744442202
-
-
Tsuzuki, S.; Tokuda, H.; Hayamizu, K.; Watanabe, M. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 16474
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 16474
-
-
Tsuzuki, S.1
Tokuda, H.2
Hayamizu, K.3
Watanabe, M.4
-
9
-
-
34548137766
-
-
Tsuzuki, S.; Tokuda, H.; Mikami, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2007, 9, 4780
-
(2007)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.9
, pp. 4780
-
-
Tsuzuki, S.1
Tokuda, H.2
Mikami, M.3
-
11
-
-
33748561828
-
-
Hunt, P. A.; Kirchner, B.; Welton, T. Chem.-Eur. J. 2006, 12, 6762
-
(2006)
Chem.-Eur. J.
, vol.12
, pp. 6762
-
-
Hunt, P.A.1
Kirchner, B.2
Welton, T.3
-
12
-
-
52949109154
-
-
Li, H.; Ibrahim, M.; Agberemi, I.; Kobrak, M. N. J. Chem. Phys. 2008, 129, 124507.
-
(2008)
J. Chem. Phys.
, vol.129
, pp. 124507
-
-
Li, H.1
Ibrahim, M.2
Agberemi, I.3
Kobrak, M.N.4
-
13
-
-
78650135079
-
-
Bernard, U. L.; Izgorodina, E. I.; MacFarlane, D. R. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 20472
-
(2010)
J. Phys. Chem. C
, vol.114
, pp. 20472
-
-
Bernard, U.L.1
Izgorodina, E.I.2
MacFarlane, D.R.3
-
15
-
-
77953134921
-
-
Lee, S.-Y.; Yasuda, T.; Watanabe, M. J. Power Sources 2010, 195, 5909
-
(2010)
J. Power Sources
, vol.195
, pp. 5909
-
-
Lee, S.-Y.1
Yasuda, T.2
Watanabe, M.3
-
16
-
-
77953134508
-
-
Seki, S.; Kobayashi, T.; Serizawa, N.; Kobayashi, Y.; Takei, K.; Miyashiro, H.; Hayamizu, K.; Tsuzuki, S.; Mitsugi, T.; Umebayashi, Y.; Watanabe, M. J. Power Sources 2010, 195, 6207
-
(2010)
J. Power Sources
, vol.195
, pp. 6207
-
-
Seki, S.1
Kobayashi, T.2
Serizawa, N.3
Kobayashi, Y.4
Takei, K.5
Miyashiro, H.6
Hayamizu, K.7
Tsuzuki, S.8
Mitsugi, T.9
Umebayashi, Y.10
Watanabe, M.11
-
17
-
-
79957489274
-
-
Abraham, T. J.; MacFarlane, D. R.; Pringle, J. M. Chem. Commun. 2011, 47, 6260
-
(2011)
Chem. Commun.
, vol.47
, pp. 6260
-
-
Abraham, T.J.1
MacFarlane, D.R.2
Pringle, J.M.3
-
18
-
-
77951821992
-
-
Armel, V.; Pringle, J. M.; Forsyth, M.; MacFarlane, D. R.; Officer, D. L.; Wagner, P. Chem. Commun. 2010, 46, 3146
-
(2010)
Chem. Commun.
, vol.46
, pp. 3146
-
-
Armel, V.1
Pringle, J.M.2
Forsyth, M.3
MacFarlane, D.R.4
Officer, D.L.5
Wagner, P.6
-
19
-
-
77954374718
-
-
Lehmann, S. B. C.; Roatsch, M.; Schoppke, M.; Kirchner, B. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 7473
-
(2010)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.12
, pp. 7473
-
-
Lehmann, S.B.C.1
Roatsch, M.2
Schoppke, M.3
Kirchner, B.4
-
20
-
-
0037077673
-
-
Li, X.; Liu, L.; Schlegel, H. B. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 9639
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 9639
-
-
Li, X.1
Liu, L.2
Schlegel, H.B.3
-
23
-
-
0001312393
-
-
Jeziorski, B.; Moszynski, R.; Szalewicz, K. Chem. Rev. 1994, 94, 1887
-
(1994)
Chem. Rev.
, vol.94
, pp. 1887
-
-
Jeziorski, B.1
Moszynski, R.2
Szalewicz, K.3
-
24
-
-
75749083809
-
-
Gaussian, Inc. Wallingford CT
-
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, A. L.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 09, Revision A.02; Gaussian, Inc.: Wallingford CT, 2009.
-
(2009)
Gaussian 09, Revision A.02
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Montgomery Jr., J.A.7
Vreven, T.8
Kudin, K.N.9
Burant, J.C.10
Millam, J.M.11
Iyengar, S.S.12
Tomasi, J.13
Barone, V.14
Mennucci, B.15
Cossi, M.16
Scalmani, G.17
Rega, N.18
Petersson, G.A.19
Nakatsuji, H.20
Hada, M.21
Ehara, M.22
Toyota, K.23
Fukuda, R.24
Hasegawa, J.25
Ishida, M.26
Nakajima, T.27
Honda, Y.28
Kitao, O.29
Nakai, H.30
Klene, M.31
Li, X.32
Knox, J.E.33
Hratchian, H.P.34
Cross, J.B.35
Bakken, V.36
Adamo, C.37
Jaramillo, J.38
Gomperts, R.39
Stratmann, R.E.40
Yazyev, O.41
Austin, A.J.42
Cammi, R.43
Pomelli, C.44
Ochterski, J.W.45
Ayala, P.Y.46
Morokuma, K.47
Voth, G.A.48
Salvador, P.49
Dannenberg, J.J.50
Zakrzewski, V.G.51
Dapprich, S.52
Daniels, A.D.53
Strain, M.C.54
Farkas, O.55
Malick, D.K.56
Rabuck, A.D.57
Raghavachari, K.58
Foresman, J.B.59
Ortiz, J.V.60
Cui, Q.61
Baboul, A.G.62
Clifford, S.63
Cioslowski, J.64
Stefanov, B.B.65
Liu, A.L.66
Piskorz, P.67
Komaromi, I.68
Martin, R.L.69
Fox, D.J.70
Keith, T.71
Al-Laham, M.A.72
Peng, C.Y.73
Nanayakkara, A.74
Challacombe, M.75
Gill, P.M.W.76
Johnson, B.77
Chen, W.78
Wong, M.W.79
Gonzalez, C.80
Pople, J.A.81
more..
-
26
-
-
84906367320
-
-
University of Delaware: Newark, DE
-
Bukowski, R.; Cencek, W.; Jankowski, P.; Jeziorska, M.; Jeziorska, B.; Kucharski, S. A.; Lotrich, V. F.; Misquitta, A. J.; Moszyński, R.; Patkowski, K.; Podeszwa, R.; Rybak, S.; Szalewicz, K.; Williams, H. L.; Wheatley, R. J.; Wormer, P. E. S.; Z̀uchowski, P. S. SAPT, Revision 2008.2; University of Delaware: Newark, DE, 2009.
-
(2009)
SAPT, Revision 2008.2
-
-
Bukowski, R.1
Cencek, W.2
Jankowski, P.3
Jeziorska, M.4
Jeziorska, B.5
Kucharski, S.A.6
Lotrich, V.F.7
Misquitta, A.J.8
Moszyński, R.9
Patkowski, K.10
Podeszwa, R.11
Rybak, S.12
Szalewicz, K.13
Williams, H.L.14
Wheatley, R.J.15
Wormer, P.E.S.16
Z̀uchowski, P.S.17
-
27
-
-
33748511534
-
-
Szalewicz, K.; Patkowski, K.; Jeziorski, B. Struct. Bonding (Berlin) 2005, 116, 43
-
(2005)
Struct. Bonding (Berlin)
, vol.116
, pp. 43
-
-
Szalewicz, K.1
Patkowski, K.2
Jeziorski, B.3
|