Introducing nonuniform strain to graphene using dielectric nanopillars

Applied Physics Express

Volumn 4, Issue 7, 2011, Pages

  Tomori, Hikari ^a,b   Kanda, Akinobu ^a,b   Goto, Hidenori ^a,b   Ootuka, Youiti ^a   Tsukagoshi, Kazuhito ^b,c   Moriyama, Satoshi ^c   Watanabe, Eiichiro ^c   Tsuya, Daiju ^c  

^a UNIVERSITY OF TSUKUBA   (Japan)

^b JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

^c NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BAND GAPS; ELECTRON BEAM RESIST; NANOPILLARS; NON-UNIFORM STRAIN; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IMAGE; SEM IMAGE; SPATIAL PATTERNS;

DIELECTRIC MATERIALS; ELECTRON BEAMS; RAMAN SPECTROSCOPY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SIZE SEPARATION;

GRAPHENE;

EID: 79960226753     PISSN: 18820778     EISSN: 18820786     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/APEX.4.075102     Document Type: Article

References (15)

1. A. H. C. Neto, F. Guinea, N. M. R. Peres, K. S. Novoselov, and A. K. Geim: Rev. Mod. Phys. 81 (2009) 109.
2. Y. W. Son, M. L. Cohen, and S. G. Louie: Phys. Rev. Lett. 97 (2006) 216803.
3. H. Min, B. Sahu, S. K. Banerjee, and A. H. MacDonald: Phys. Rev. B 75 (2007) 155115.
4. D. C. Elias, R. R. Nair, T. M. G. Mohiuddin, S. V. Morozov, P. Blake, M. P. Halsall, A. C. Ferrari, D. W. Boukhvalov, M. I. Katsnelson, A. K. Geim, and K. S. Novoselov: Science 323 (2009) 610.
5. S. Cheng, K. Zou, F. Okino, H. Rodriguez Gutierrez, A. Gupta, N. Shen, P. C. Eklund, J. O. Sofo, and J. Zhu: Phys. Rev. B 81 (2010) 205435.
6. M. Y. Han, J. C. Brant, and P. Kim: Phys. Rev. Lett. 104 (2010) 056801.
7. H. Miyazaki, K. Tsukagoshi, A. Kanda, M. Otani, and S. Okada: Nano Lett. 10 (2010) 3888.
8. F. Guinea, M. I. Katsnelson, and A. K. Geim: Nat. Phys. 6 (2010) 30.
9. N. Levy, S. A. Burke, K. L. Meaker, M. Panlasigui, A. Zettl, F. Guinea, A. H. C. Neto, and M. F. Crommie: Science 329 (2010) 544.
10. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov: Science 306 (2004) 666.
11. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, and A. K. Geim: Phys. Rev. Lett. 97 (2006) 187401.
12. D. Graf, F. Molitor, K. Ensslin, C. Stampfer, A. Jungen, C. Hierold, and L. Wirtz: Nano Lett. 7 (2007) 238.
13. Z. H. Ni, T. Yu, Y. H. Lu, Y. Y. Wang, Y. P. Feng, and Z. X. Shen: ACS Nano 2 (2008) 2301.
14. D. Teweldebrhan and A. A. Balandin: Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 013101.
15. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Choi, and B. H. Hong: Nature 457 (2009) 706.