Temperature dependence of multilayering at the free surface of ionic liquids probed by X-ray reflectivity measurements

Langmuir

Volumn 27, Issue 12, 2011, Pages 7531-7536

  Nishi, Naoya ^a   Uruga, Tomoya ^b   Tanida, Hajime ^b   Kakiuchi, Takashi ^a  

^a KYOTO UNIVERSITY   (Japan)

^b JAPAN SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH INSTITUTE   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FREE SURFACES; INTERFACIAL STRUCTURES; MULTILAYERING; SURFACE LAYERING; TEMPERATURE DEPENDENCE; TEMPERATURE-DEPENDENT CHANGES; TRIHEXYLTETRADECYLPHOSPHONIUM; WATER INTERFACE; X-RAY REFLECTIVITY MEASUREMENTS;

AMIDES; IONS; MULTILAYERS; PHASE INTERFACES; REFLECTION; SURFACE STRUCTURE; TEMPERATURE DISTRIBUTION;

IONIC LIQUIDS;

EID: 79959187223     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la200252z     Document Type: Article

References (70)

1. Magnussen, O. M.; Ocko, B. M.; Regan, M. J.; Penanen, K.; Pershan, P. S.; Deutsch, M. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 4444-4447
2. Regan, M. J.; Kawamoto, E. H.; Lee, S.; Pershan, P. S.; Maskil, N.; Deutsch, M.; Magnussen, O. M.; Ocko, B. M.; Berman, L. E. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 2498-2501
3. Tostmann, H.; DiMasi, E.; Pershan, P. S.; Ocko, B. M.; Shpyrko, O. G.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 1999, 59, 783-791
4. Shpyrko, O.; Huber, P.; Grigoriev, A.; Pershan, P.; Ocko, B.; Tostmann, H.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 2003, 67, 115405
5. Shpyrko, O. G.; Grigoriev, A. Y.; Steimer, C.; Pershan, P. S.; Lin, B. H.; Meron, M.; Graber, T.; Gerbhardt, J.; Ocko, B.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 2004, 70, 224206
6. Pershan, P. S.; Stoltz, S. E.; Shpyrko, O. G.; Deutsch, M.; Balagurusamy, V. S. K.; Meron, M.; Lin, B. H.; Streitel, R. Phys. Rev. B 2009, 79, 115417
7. Lei, N.; Huang, Z. Q.; Rice, S. A. J. Chem. Phys. 1996, 104, 4802-4805
8. Regan, M. J.; Pershan, P. S.; Magnussen, O. M.; Ocko, B. M.; Deutsch, M.; Berman, L. E. Phys. Rev. B 1997, 55, 15874-15884
9. Li, D.; Jiang, X.; Yang, B.; Rice, S. A. J. Chem. Phys. 2005, 122, 224702
10. Shpyrko, O. G.; Streitel, R.; Balagurusamy, V. S. K.; Grigoriev, A. Y.; Deutsch, M.; Ocko, B. M.; Meron, M.; Lin, B. H.; Pershan, P. S. Science 2006, 313, 77-80
11. Balagurusamy, V. S. K.; Streitel, R.; Shpyrko, O. G.; Pershan, P. S.; Meron, M.; Lin, B. Phys. Rev. B 2007, 75, 104209
12. Pershan, P. S.; Stoltz, S. E.; Mechler, S.; Shpyrko, O. G.; Grigoriev, A. Y.; Balagurusamy, V. S. K.; Lin, B. H.; Meron, M. Phys. Rev. B 2009, 80, 125414
13. Braslau, A.; Pershan, P. S.; Swislow, G.; Ocko, B. M.; Als-Nielsen, J. Phys. Rev. A 1988, 38, 2457-2470
14. Lurio, L. B.; Rabedeau, T. A.; Pershan, P. S.; Silvera, I. F.; Deutsch, M.; Kosowsky, S. D.; Ocko, B. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 2628-2631
15. Ocko, B. M.; Wu, X. Z.; Sirota, E. B.; Sinha, S. K.; Gang, O.; Deutsch, M. Phys. Rev. E 1997, 55, 3164-3182
16. Shpyrko, O.; Fukuto, M.; Pershan, P.; Ocko, B.; Kuzmenko, I.; Gog, T.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 2004, 69, 245423
17. Mo, H. D.; Evmenenko, G.; Kewalramani, S.; Kim, K.; Ehrlich, S. N.; Dutta, P. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 096107
18. Mo, H.; Kewalramani, S.; Evmenenko, G.; Kim, K.; Ehrlich, S. N.; Dutta, P. Phys. Rev. B 2007, 76, 024206
19. Chattopadhyay, S.; Uysal, A.; Stripe, B.; Evmenenko, G.; Ehrlich, S.; Karapetrova, E. A.; Dutta, P. Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 175701
20. Chattopadhyay, S.; Uysal, A.; Stripe, B.; Ehrlich, S.; Karapetrova, E. A.; Dutta, P. Phys. Rev. B 2010, 81, 184206
21. Lynden-Bell, R. M. Mol. Phys. 2003, 101, 2625-2633
22. Lynden-Bell, R. M.; Pópolo, M. D. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 949-954
23. Yan, T. Y.; Li, S.; Jiang, W.; Gao, X. P.; Xiang, B.; Voth, G. A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 1800-1806
24. Bhargava, B. L.; Balasubramanian, S. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 10073-10078
25. Jiang, W.; Wang, Y. T.; Yan, T. Y.; Voth, G. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 1132-1139
26. Chang, T.-M.; Dang, L. X. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 2127-2135
27. Pensado, A. S.; Malfreyt, P.; Pádua, A. A. H. J. Phys. Chem. B 2009, 113, 14708-14718
28. Carmichael, A. J.; Hardacre, C.; Holbrey, J. D.; Nieuwenhuyzen, M.; Seddon, K. R. Mol. Phys. 2001, 99, 795-800
29. Sloutskin, E.; Ocko, B. M.; Taman, L.; Kuzmenko, I.; Gog, T.; Deutsch, M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 7796-7804
30. Jeon, Y.; Sung, J.; Bu, W.; Vaknin, D.; Ouchi, Y.; Kim, D. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 19649-19654
31. Lauw, Y.; Horne, M. D.; Rodopoulos, T.; Webster, N. A. S.; Minofar, B.; Nelson, A. Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 11507-11514
32. Niga, P.; Wakeham, D.; Nelson, A.; Warr, G. G.; Rutland, M.; Atkin, R. Langmuir 2010, 26, 8282-8288
33. Bowers, J.; Vergara-Gutierrez, M. C.; Webster, J. R. P. Langmuir 2004, 20, 309-312
34. Wakeham, D.; Niga, P.; Warr, G. G.; Rutland, M. W.; Atkin, R. Langmuir 2010, 26, 8313-8318
35. Nishi, N.; Yasui, Y.; Uruga, T.; Tanida, H.; Yamada, T.; Nakayama, S.; Matsuoka, H.; Kakiuchi, T. J. Chem. Phys. 2010, 132, 164705
36. Yasui, Y.; Kitazumi, Y.; Ishimatsu, R.; Nishi, N.; Kakiuchi, T. J. Phys. Chem. B 2009, 113, 3273-3276
37. Yasui, Y.; Kitazumi, Y.; Nishi, N.; Kakiuchi, T. J. Phys. Chem. B 2010, 114, 11141-11148
38. Kakiuchi, T.; Yasui, Y.; Kitazumi, Y.; Nishi, N. ChemPhysChem 2010, 11, 2912-2918
39. Yasui, Y.; Kitazumi, Y.; Mizunuma, H.; Nishi, N.; Kakiuchi, T. Electrochem. Commun. 2010, 12, 1479-1482
40. Terada, Y.; Goto, S.; Takimoto, N.; Takeshita, K.; Yamazaki, H.; Shimizu, Y.; Takahashi, S.; Ohashi, H.; Furukawa, Y.; Matsushita, T.; Ohata, T.; Ishizawa, Y.; Uruga, T.; Kitamura, H.; Ishikawa, T.; Hayakawa, S. AIP Conf. Proc. 2004, 705, 376-379
41. Yano, Y. F.; Uruga, T.; Tanida, H.; Toyokawa, H.; Terada, Y.; Takagaki, M.; Yamada, H. Eur. Phys. J.: Spec. Top. 2009, 167, 101-105
42. Yano, Y. F.; Uruga, T.; Tanida, H.; Toyokawa, H.; Terada, Y.; Yamada, H. J. Synchrot. Radiat. 2010, 17, 511-516
43. Yano, Y. F.; Uruga, T.; Tanida, H.; Toyokawa, H.; Terada, Y.; Takagaki, M.; Yamada, H. Bunsekikagaku 2010, 59, 437-445
44. Henke, B. L.; Gullikson, E. M.; Davis, J. C. Atom. Data Nucl. Data Tables 1993, 54, 181-342
45. E. Gullikson's web page: http://henke.lbl.gov/.
46. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, Jr., J. A.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision D.01; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
47. Vaknin, D.; Bu, W.; Sung, J.; Jeon, Y.; Kim, D. J. Phys.: Condens. Matter 2009, 21, 115105
48. Kitazumi, Y.; Kakiuchi, T. Langmuir 2009, 25, 8062-8068
49. Daillant, J.; Gibaud, A. X-ray and Neutron Reflectivity: Principles and Applications; Springer: Berlin, 1999.
50. Regan, M. J.; Pershan, P. S.; Magnussen, O. M.; Ocko, B. M.; Deutsch, M.; Berman, L. E. Phys. Rev. B 1996, 54, 9730-9733
51. DiMasi, E.; Tostmann, H.; Ocko, B. M.; Pershan, P. S.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 1998, 58, R13149-R13422
52. Huisman, W. J.; Peters, J. F.; Zwanenburg, M. J.; de Vries, S. A.; Derry, T. E.; Abernathy, D.; van der Veen, J. F. Nature 1997, 390, 379-381
53. Oh, S. H.; Kauffmann, Y.; Scheu, C.; Kaplan, W. D.; Rühle, M. Science 2005, 310, 661-663
54. Tamam, L.; Pontoni, D.; Hofmann, T.; Ocko, B. M.; Reichert, H.; Deutsch, M. J. Phys. Chem. Lett. 2010, 1, 1041-1045
55. Horn, R. G.; Israelachvili, J. N. J. Chem. Phys. 1981, 75, 1400-1411
56. O'Shea, S. J.; Welland, M. E.; Rayment, T. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2356-2358
57. Toney, M. F.; Howard, J. N.; Richer, J.; Borges, G. L.; Gordon, J. G.; Melroy, O. R.; Wiesler, D. G.; Yee, D.; Sorensen, L. B. Nature 1994, 368, 444-446
58. Cleveland, J. P.; Schäffer, T. E.; Hansma, P. K. Phys. Rev. B 1995, 52, R8692-R8695
59. Yu, C.-J.; Richter, A. G.; Kmetko, J.; Dugan, S. W.; Datta, A.; Dutta, P. Phys. Rev. E 2001, 63 art. no. 021205
60. Jeffery, S.; Hoffmann, P. M.; Pethica, J. B.; Ramanujan, C.; Özer, H. Ö.; Oral, A. Phys. Rev. B 2004, not supplied.
61. Fenter, P.; Sturchio, N. C. Prog. Surf. Sci. 2004, 77, 171-258
62. Horn, R. G.; Evans, D. F.; Ninham, B. W. J. Phys. Chem. 1988, 92, 3531-3537
63. Atkin, R.; Warr, G. G. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 5162-5168
64. Mezger, M.; Schröder, H.; Reichert, H.; Schramm, S.; Okasinski, J. S.; Schöder, S.; Honkimäki, V.; Deutsch, M.; Ocko, B. M.; Ralston, J.; Rohwerder, M.; Stratmann, M.; Dosch, H. Science 2008, 322, 424-428
65. Mezger, M.; Schramm, S.; Schröder, H.; Reichert, H.; Deutsch, M.; De Souza, E. J.; Okasinski, J. S.; Ocko, B. M.; Honkimäki, V.; Dosch, H. J. Chem. Phys. 2009, 131, 094701
66. Hayes, R.; Warr, G. G.; Atkin, R. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 1709-1723
67. Perkin, S.; Albrecht, T.; Klein, J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 1243-1247
68. Bou-Malham, I.; Bureau, L. Soft Matter 2010, 6, 4062-4065
69. Yokota, Y.; Harada, T.; Fukui, K. Chem. Commun. 2010, 46, 8627-8629
70. Kakiuchi, T.; Yasui, Y.; Motokawa, T.; Kitazumi, Y.; Nishi, N. In 61st Annual Meeting of the International Society of Electrochemistry, Nice, France, 2010.