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Volumn 80, Issue 11, 2002, Pages 1921-1923

Growth of single-crystal SiO2 film on Ni(111) surface

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AMBIENT OXYGEN; ATOMIC HYDROGEN; CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATIONS; HIGH TEMPERATURE PHASE; POLYCRYSTALLINE; SILICIDE PHASE;

EID: 79955987791     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1461052     Document Type: Article
Times cited : (35)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.