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Volumn 109, Issue 7, 2011, Pages

Experimental write margin analysis of bit patterned media

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BIT-PATTERNED MEDIA; DOT DIAMETER; HARD LAYERS; LOSS FACTOR; MULTIDOMAIN STRUCTURE; SOFT LAYERS; STATIC TESTER; WRITE MARGIN;

NANOIMPRINT LITHOGRAPHY;

NANOCOMPOSITE FILMS;

EID: 79955397998 PISSN: 00218979 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1063/1.3554201 Document Type: Conference Paper

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.