Exploring the F16CoPc/Ag(110) interface using scanning tunneling microscopy and spectroscopy. 2. Adsorption-induced charge transfer effect

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 49, 2010, Pages 21548-21554

  Toader, Marius ^a   Gopakumar, Thiruvancheril G ^a,b   Shukrynau, Pavel ^a   Hietschold, Michael ^a  

^a CHEMNITZ UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b UNIVERSITY OF KIEL   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COBALT ION; COBALT PHTHALOCYANINE; DEGENERACY LIFTING; DENSITY FUNCTIONAL THEORY CALCULATIONS; DIFFERENTIAL CONDUCTIVITY; ENERGY LEVEL; ENERGY LEVEL ALIGNMENT; ENERGY SHIFT; FLUORINE ATOMS; GAP STATE; GAP VALUES; HIGHEST OCCUPIED MOLECULAR ORBITAL; LOWEST UNOCCUPIED MOLECULAR ORBITAL; METAL SURFACES; NOBLE METALS; ORGANIC/METAL INTERFACES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY (STM); SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY; STM IMAGES; SUBSTRATE INTERACTION; TIP-SAMPLE DISTANCE; TUNNELING PROCESS; TUNNELING VOLTAGES; ULTRATHIN LAYERS; VOLTAGE POLARITY;

ADSORPTION; CHARGE TRANSFER; COBALT; DENSITY FUNCTIONAL THEORY; ELECTRON ENERGY LEVELS; ELECTRONIC PROPERTIES; FLUORINE; ION EXCHANGE; MASS TRANSFER; MOLECULAR MODELING; MOLECULAR ORBITALS; NITROGEN COMPOUNDS; ORGANIC POLYMERS; PRECIOUS METALS; SILVER; SINGLE CRYSTALS;

SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

EID: 78650296120     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp1078295     Document Type: Article

References (37)

1. Toader, M.; Gopakumar, T. G.; Abdel-Hafiez, M.; Hietschold, M. J. Phys. Chem. C 2010, 114 (8) 3537-3543
2. Comanici, K.; Buchner, F.; Flechtner, K.; Lukasczyk, T.; Gottfried, J. M.; Steinrck, H.-P.; Marbach, H. Langmuir 2008, 24 (5) 1897-1901
3. Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2000, 104 (50) 11899-11905
4. Gopakumar, T. G.; Lackinger, M.; Hackert, M.; Müller, F.; Hietschold, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108 (23) 7839-7843
5. Takada, M.; Tada, H. Chem. Phys. Lett. 2004, 392, 265-269
6. Huang, H.; Chen, W.; Wee, A. T. S. J. Phys. Chem. C 2008, 112 (38) 14913-14918
7. Scarfato, A.; Chang, S.-H.; Kuck, S.; Brede, J.; Hoffmann, G.; Wiesendanger, R. Surf. Sci. 2008, 602, 677-683
8. Wakayama, Y. J. Phys. Chem. C 2007, 111 (6) 2675-2678
9. Oison, V.; Koudia, M.; Abel, M.; Porte, L. Phys. Rev. B 2007, 75 035428
10. Hipps, K. W.; Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Cooke, M. P. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124 (10) 2126-2127
11. Lukasczyk, T.; Flechtner, K.; Merte, L. R.; Jux, N.; Maier, F.; Gottfried, J. M.; Steinrück, H.-P. J. Phys. Chem. C 2007, 111 (7) 3090-3098
12. Betti, M. G.; Crispoldi, F.; Ruocco, A.; Mariani, C. Phys. Rev. B 2007, 76, 125407
13. Knupfer, M.; Schwieger, T. Appl. Surf. Sci. 2005, 252, 77-80
14. Schlettwein, D.; Hesse, K.; Gruhn, N. E.; Lee, P. A.; Nebesny, K. W.; Armstrong, N. R. J. Phys. Chem. B 2001, 105 (21) 4791-4800
15. Zahn, D. R. T.; Gavrila, G. N.; Gorgoi, M. Chem. Phys. 2006, 325, 99-112
16. Repp, J.; Meyer, G.; Stojković, S. M.; Gourdon, A.; Joachim, C. Phys. Rev. Lett. 2005, 94 026803
17. Takada, M.; Tada, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44 (7B) 5332-5335
18. Kröger, J.; Jensen, H.; Néel, N.; Berndt, R. Surf. Sci. 2007, 601, 4180-4184
19. Gopakumar, T. G.; Müller, F.; Hietschold, M. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (12) 6060-6065
20. Gopakumar, T. G.; Meiss, J.; Pouladsaz, D.; Hietschold, M. J. Phys. Chem. C 2008, 112 (7) 2529-2537
21. Iacovita, C.; Rastei, M. V.; Heinrich, B. W.; Brumme, T.; Kortus, J.; Limot, L.; Bucher, J. P. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 116602
22. Chen, X.; Fu, Y.-S.; Ji, S.-H.; Zhang, T.; Cheng, P.; Ma, X.-C.; Zou, X.-L.; Duan, W.-H.; Jia, J.-F.; Xue, Q.-K. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 197208
23. Lu, X.; Hipps, K. W.; Wang, X.; Mazur, U. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118 (30) 7197-7202
24. Scudiero, L.; Hipps, K. W.; Barlow, D. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107 (13) 2903-2909
25. Barlow, D. E.; Scudiero, L.; Hipps, K. W. Langmuir 2004, 20 (11) 4413-4421
26. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision E.01; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
27. Lide, D. R. CRC Handbook of Chemistry and Physics; CRC Press: Boca Raton, 2008.
28. Deng, W.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2003, 107 (39) 10736-10740
29. Chang, S.-H.; Kuck, S.; Brede, J.; Lichtenstein, L.; Hoffmann, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 2008, 78, 233409
30. Karacuban, H.; Lange, M.; Schaffert, J.; Weingart, O.; Wagner, Th.; Möller, R. Surf. Sci. 2009, 603, L39-L43
31. Gopakumar, T. G.; Müller, F.; Hietschold, M. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (12) 6051-6059
32. Liao, M.-S.; Scheiner, S. J. Chem. Phys. 2001, 114 (22) 9780-9791
33. Giovanelli, L.; Amsalem, P.; Themlin, J. M.; Ksari, Y.; Abel, M.; Nony, L.; Koudia, M.; Bondino, F.; Magnano, E.; Mossoyan-Deneux, M.; Porte, L. J. Phys. Chem. C 2008, 112 (23) 8654-8661
34. Amsalem, P.; Giovanelli, L.; Themlin, J. M.; Koudia, M.; Abel, M.; Oison, V.; Ksari, Y.; Mossoyan, M.; Porte, L. Surf. Sci. 2007, 601, 4185-4188
35. Schwieger, T.; Peisert, H.; Knupfer, M. Chem. Phys. Lett. 2004, 384, 197-202
36. Lei, S.-B.; Deng, K.; Yang, D.-L.; Zeng, Q.-D.; Wang, C. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (3) 1256-1260
37. Peisert, H.; Knupfer, M.; Schwieger, T.; Fuentes, G. G.; Olligs, D.; Fink, J.; Schmidt, Th. J. Appl. Phys. 2003, 93 (12) 9683-9692