Investigation of structure and magnetoresistance in Co/ZnO films

Journal of Applied Physics

Volumn 108, Issue 10, 2010, Pages

  Quan, Zhi Yong ^a   Xu, Xiao Hong ^a   Li, Xiao Li ^a   Feng, Q ^b   Gehring, G A ^b  

^a SHANXI NORMAL UNIVERSITY   (China)

^b UNIVERSITY OF SHEFFIELD   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AS-DEPOSITED FILMS; CO CONCENTRATIONS; CO PARTICLES; FIELD-COOLED MAGNETIZATION CURVES; GLASS SUBSTRATES; HIGHER ORDER; LARGE NEGATIVE MAGNETORESISTANCE; LOW-TEMPERATURE REGIME; ROOM TEMPERATURE; SPIN DEPENDENT TUNNELING; TEMPERATURE DEPENDENCE; TUNNELING PROCESS; ZERO-FIELD-COOLED; ZNO;

ELECTRIC RESISTANCE; MAGNETIC FIELD EFFECTS; MAGNETOELECTRONICS; MAGNETORESISTANCE; STRUCTURAL ANALYSIS; SUBSTRATES; X RAY DIFFRACTION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; ZINC OXIDE;

COBALT;

EID: 78650276213     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3511752     Document Type: Conference Paper

References (32)

1. J. Q. Xiao, J. S. Jiang, and C. L. Chien, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 68, 3749 (1992). 10.1103/PhysRevLett.68.3749
2. A. E. Berkowitz, J. R. Mitchell, M. J. Carey, A. P. Young, S. Zhang, F. E. Spada, F. T. Parker, A. Hutten, and G. Thomas, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 68, 3745 (1992). 10.1103/PhysRevLett.68.3745
3. G. N. Kakazei, Yu. G. Pogorelov, A. M. L. Lopes, J. B. Sousa, S. Cardoso, P. P. Freitas, M. M. Pereira de Azevedo, and E. Snoeck, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 90, 4044 (2001). 10.1063/1.1399029
4. B. Dieny, S. Sankar, M. R. McCartney, D. J. Smith, P. Bayle-Guillemaud, and A. E. Berkowitz, J. Magn. Magn. Mater. JMMMDC 0304-8853 185, 283 (1998). 10.1016/S0304-8853(98)00028-6
5. A. García-García, A. Vovk, J. A. Pardo, P. Štrichovanec, C. Maǵn, E. Snoeck, P. A. Algarabel, J. M. De Teresa, L. Morellón, and M. R. Ibarra, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 105, 063909 (2009). 10.1063/1.3093945
6. A. R. de Moraes, C. K. Saul, D. H. Mosca, J. Varalda, P. Schio, A. J. A. de Oliveira, M. A. Canesqui, V. Garcia, D. Demaille, M. Eddrief, V. H. Etgens, and J. M. George, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 103, 123714 (2008). 10.1063/1.2938071
7. S. S. Yan, C. Ren, X. Wang, Y. Xin, Z. X. Zhou, L. M. Mei, M. J. Ren, Y. X. Chen, Y. H. Liu, and H. Garmestani, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 84, 2376 (2004). 10.1063/1.1690881
8. Y. F. Tian, S. S. Yan, Y. P. Zhang, H. Q. Song, G. Ji, G. L. Liu, Y. X. Chen, L. M. Mei, J. P. Liu, B. Altuncevahir, and V. Chakka, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 100, 103901 (2006). 10.1063/1.2386925 (Pubitemid 44853685)
9. C. Y. Hsu, J. C. A. Huang, S. F. Chen, C. P. Liu, S. J. Sun, and Y. Tzeng, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 93, 072506 (2008). 10.1063/1.2959081
10. N. Jedrecy, H. J. von Bardeleben, and D. Demaille, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 80, 205204 (2009). 10.1103/PhysRevB.80.205204
11. S. R. Shinde, S. B. Ogale, J. S. Higgins, H. Zheng, A. J. Millis, V. N. Kulkarni, R. Ramesh, R. L. Greene, and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 92, 166601 (2004). 10.1103/PhysRevLett.92.166601
12. K. Potzger, K. Kuepper, Q. Xu, S. Zhou, H. Schmidt, M. Helm, and J. Fassbender, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 104, 023510 (2008). 10.1063/1.2955717
13. S. Zhou, K. Potzger, J. von Borany, R. Grötzschel, W. Skorupa, M. Helm, and J. Fassbender, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 77, 035209 (2008). 10.1103/PhysRevB.77.035209
14. S. R. Shinde, S. D. Kulkarni, A. G. Banpurkar, R. Nawathey-Dixit, S. K. Date, and S. B. Ogale, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 88, 1566 (2000). 10.1063/1.373856
15. L. Zhang, B. Huang, Y. Liu, L. Zhang, R. Zhang, and L. Mei, J. Magn. Magn. Mater. JMMMDC 0304-8853 261, 257 (2003). 10.1016/S0304-8853(02)01482-8
16. A. Jesche, A. Gorbunoff, A. Mensch, H. Stöcker, A. A. Levin, and D. C. Meyer, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 107, 023904 (2010). 10.1063/1.3277023
17. X. L. Li, Z. Y. Quan, X. H. Xu, H. S. Wu, and G. A. Gehring, IEEE Trans. Magn. IEMGAQ 0018-9464 44, 2684 (2008). 10.1109/TMAG.2008.2003238
18. J. H. Moulder, W. F. Strickle, P. E. Sobol, and K. D. Bomben, in Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, edited by, J. Chastain, (Perkin-Elmer, Eden Prairie, MN, 1992), p. 82.
19. J. Silvestre-Albero, A. Sepúlveda-Escribano, F. Rodríguez-Reinoso, and J. A. Anderson, J. Catal. JCTLA5 0021-9517 223, 179 (2004). 10.1016/j.jcat.2004.01.019
20. B. D. Cullity, Introduction to Magnetic Materials (Addison-Wesley, Reading, MA, 1972), p. 410.
21. F. Luis, J. M. Torres, L. M. García, J. Bartoloḿ, J. Stankiewicz, F. Petroff, F. Fettar, J. -L. Maurice, and A. Vaur̀s, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 65, 094409 (2002). 10.1103/PhysRevB.65.094409
22. P. Sheng, B. Abeles, and Y. Arie, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 31, 44 (1973). 10.1103/PhysRevLett.31.44
23. B. J. Hattink, A. Labarta, M. García del Muro, X. Batlle, F. Sánchez, and M. Varela, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 67, 033402 (2003). 10.1103/PhysRevB.67.033402
24. C. Song, X. J. Liu, F. Zeng, and F. Pan, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 91, 042106 (2007). 10.1063/1.2762297 (Pubitemid 47174460)
25. F. Pan, C. Song, X. J. Liu, Y. C. Yang, and F. Zeng, Mater. Sci. Eng. R. MIGIEA 0927-796X 62, 1 (2008). 10.1016/j.mser.2008.04.002
26. X. Jiang, A. F. Panchula, and S. S. P. Parkin, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 83, 5244 (2003). 10.1063/1.1630160
27. J. Inoue and S. Maekawa, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 53, R11927 (1996). 10.1103/PhysRevB.53.R11927
28. G. J. Strijkers, Y. Ji, F. Y. Yang, C. L. Chien, and J. M. Byers, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 63, 104510 (2001). 10.1103/PhysRevB.63.104510
29. S. Mitani, S. Takahashi, K. Takanashi, K. Yakushiji, S. Maekawa, and H. Fujimori, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 81, 2799 (1998). 10.1103/PhysRevLett.81.2799
30. T. Zhu and Y. J. Wang, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 60, 11918 (1999). 10.1103/PhysRevB.60.11918
31. J. Dai and J. Tang, Phys. Rev. B PLRBAQ 0556-2805 63, 064410 (2001). 10.1103/PhysRevB.63.064410
32. A. García-García, A. Vovk, J. A. Pardo, P. Štrichovanec, P. A. Algarabel, C. Maǵn, J. M. De Teresa, L. Morellón, and M. R. Ibarra, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 107, 033704 (2010). 10.1063/1.3298504