메뉴 건너뛰기




Volumn 107, Issue 9, 2010, Pages

Surface plasmon polariton-assisted electron emission and voltage-controlled negative resistance of Al- Al2 O3 -Au diodes

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

APPLIED VOLTAGES; AU SURFACES; NEW MECHANISMS; SURFACE PLASMON POLARITONS; SURFACE PLASMONS; VACUUM INTERFACES; VOLTAGE-CONTROLLED;

EID: 78649312694     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3407510     Document Type: Article
Times cited : (12)

References (25)
  • 1
    • 36849124052 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979, () 10.1063/1.1729273;, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 1, 422 (1970).
    • H. Kanter, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 34, 3629 (1963) 10.1063/1.1729273; H. Kanter, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 1, 422 (1970).
    • (1963) J. Appl. Phys. , vol.34 , pp. 3629
    • Kanter, H.1    Kanter, H.2
  • 3
    • 36849125984 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1702530
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 33, 2669 (1962). 10.1063/1.1702530
    • (1962) J. Appl. Phys. , vol.33 , pp. 2669
    • Hickmott, T.W.1
  • 5
    • 0043167636 scopus 로고
    • VACUAV 0042-207X,. 10.1016/S0042-207X(76)81130-X
    • H. Biederman, Vacuum VACUAV 0042-207X 26, 513 (1976). 10.1016/S0042-207X(76)81130-X
    • (1976) Vacuum , vol.26 , pp. 513
    • Biederman, H.1
  • 6
    • 0021467216 scopus 로고
    • IJELA2 0020-7217,. 10.1080/00207218408938882
    • A. K. Ray and C. A. Hogarth, Int. J. Electron. IJELA2 0020-7217 57, 1 (1984). 10.1080/00207218408938882
    • (1984) Int. J. Electron. , vol.57 , pp. 1
    • Ray, A.K.1    Hogarth, C.A.2
  • 7
    • 0006100383 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1729687
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 34, 1569 (1963). 10.1063/1.1729687
    • (1963) J. Appl. Phys. , vol.34 , pp. 1569
    • Hickmott, T.W.1
  • 8
    • 0008076543 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1714372
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 36, 1885 (1965). 10.1063/1.1714372
    • (1965) J. Appl. Phys. , vol.36 , pp. 1885
    • Hickmott, T.W.1
  • 9
    • 3342959782 scopus 로고
    • THSFAP 0040-6090,. 10.1016/0040-6090(72)90131-9
    • T. W. Hickmott, Thin Solid Films THSFAP 0040-6090 9, 431 (1972). 10.1016/0040-6090(72)90131-9
    • (1972) Thin Solid Films , vol.9 , pp. 431
    • Hickmott, T.W.1
  • 10
    • 0017495699 scopus 로고
    • IJELA2 0020-7217,. 10.1080/00207217708900667
    • A. E. Rakhshani and C. A. Hogarth, Int. J. Electron. IJELA2 0020-7217 42, 465 (1977). 10.1080/00207217708900667
    • (1977) Int. J. Electron. , vol.42 , pp. 465
    • Rakhshani, A.E.1    Hogarth, C.A.2
  • 11
    • 0016037957 scopus 로고
    • IJELA2 0020-7217,. 10.1080/00207217408900411
    • H. Bidadi and C. A. Hogarth, Int. J. Electron. IJELA2 0020-7217 36, 287 (1974). 10.1080/00207217408900411
    • (1974) Int. J. Electron. , vol.36 , pp. 287
    • Bidadi, H.1    Hogarth, C.A.2
  • 12
    • 71749088955 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.3262619
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 106, 103719 (2009). 10.1063/1.3262619
    • (2009) J. Appl. Phys. , vol.106 , pp. 103719
    • Hickmott, T.W.1
  • 13
    • 0000748222 scopus 로고
    • PRLTAO 0031-9007,. 10.1103/PhysRevLett.37.923
    • J. Lambe and D. L. Murphy, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 37, 923 (1976). 10.1103/PhysRevLett.37.923
    • (1976) Phys. Rev. Lett. , vol.37 , pp. 923
    • Lambe, J.1    Murphy, D.L.2
  • 14
    • 0000650754 scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829,. 10.1103/PhysRevB.20.4962
    • B. Laks and D. L. Mills, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 20, 4962 (1979). 10.1103/PhysRevB.20.4962
    • (1979) Phys. Rev. B , vol.20 , pp. 4962
    • Laks, B.1    Mills, D.L.2
  • 15
    • 0008713235 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.336892
    • J. F. Donohue and E. Y. Wang, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 59, 3137 (1986). 10.1063/1.336892
    • (1986) J. Appl. Phys. , vol.59 , pp. 3137
    • Donohue, J.F.1    Wang, E.Y.2
  • 17
    • 0026275174 scopus 로고
    • PQUEAH 0079-6727,. 10.1016/0079-6727(91)90005-3
    • Z. Szentirmay, Prog. Quantum Electron. PQUEAH 0079-6727 15, 175 (1991). 10.1016/0079-6727(91)90005-3
    • (1991) Prog. Quantum Electron. , vol.15 , pp. 175
    • Szentirmay, Z.1
  • 18
    • 0028767918 scopus 로고
    • JCOMEL 0953-8984,. 10.1088/0953-8984/6/45/015
    • M. Hänisch and A. Otto, J. Phys.: Condens. Matter JCOMEL 0953-8984 6, 9659 (1994). 10.1088/0953-8984/6/45/015
    • (1994) J. Phys.: Condens. Matter , vol.6 , pp. 9659
    • Hänisch, M.1    Otto, A.2
  • 19
    • 0000432842 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1287116
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 88, 2805 (2000). 10.1063/1.1287116
    • (2000) J. Appl. Phys. , vol.88 , pp. 2805
    • Hickmott, T.W.1
  • 20
    • 57049109281 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.3021092
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 104, 103704 (2008). 10.1063/1.3021092
    • (2008) J. Appl. Phys. , vol.104 , pp. 103704
    • Hickmott, T.W.1
  • 21
    • 0038336030 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1713823
    • T. W. Hickmott, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 35, 2679 (1964). 10.1063/1.1713823
    • (1964) J. Appl. Phys. , vol.35 , pp. 2679
    • Hickmott, T.W.1
  • 22
    • 38849161056 scopus 로고    scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.2799091
    • V. V. Afanas'ev and A. Stesmans, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 102, 081301 (2007). 10.1063/1.2799091
    • (2007) J. Appl. Phys. , vol.102 , pp. 081301
    • Afanas'Ev, V.V.1    Stesmans, A.2
  • 24
    • 0001396916 scopus 로고
    • JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1708105
    • R. M. Handy, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 37, 4620 (1966). 10.1063/1.1708105
    • (1966) J. Appl. Phys. , vol.37 , pp. 4620
    • Handy, R.M.1
  • 25
    • 0023965530 scopus 로고
    • IJELA2 0020-7217,. 10.1080/00207218808962802
    • R. D. Gould and C. A. Hogarth, Int. J. Electron. IJELA2 0020-7217 64, 283 (1988). 10.1080/00207218808962802
    • (1988) Int. J. Electron. , vol.64 , pp. 283
    • Gould, R.D.1    Hogarth, C.A.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.