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Volumn , Issue , 2010, Pages 63-64

Factors enhancing In0.7Ga0.3As MOSFETs and tunneling FETs device performance

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DEVICE PERFORMANCE; HIGH DENSITY; IN-SITU; KEY FACTORS; MOSFETS; ON-CURRENTS; QUANTUM WELL; SUBTHRESHOLD SWING; TUNNELING FET;

EID: 77957584764     PISSN: 15483770     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/DRC.2010.5551938     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.