Alloying effect in copt nanoparticles probed by X-ray photoemission spectroscopy: Validity of the bulk phase diagram

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 31, 2010, Pages 13168-13175

  Tuaillon Combes, Juliette ^a   Bernstein, Estela ^a   Boisron, Olivier ^a   Melinon, Patrice ^a  

^a UNIVERSITÉ DE LYON   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALLOYING EFFECT; BULK PHASE; BULK PHASE DIAGRAMS; CHEMICALLY BONDED; CLUSTER ASSEMBLY; COPT NANOPARTICLES; CORE SHELL STRUCTURE; ENERGY LOSS; GASPHASE; HIGH ENERGY; MAGNETIC MEDIA; MATRIX; NANO-METER SCALE; NANOMETRIC SCALE; SATELLITE PEAKS; SCALING FACTORS; SEGREGATION EFFECTS; SILICON MATRIX; SURFACE ATOMS; ULTRA-HIGH; X RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY;

ALLOYING; ATOMS; ENERGY DISSIPATION; LUMINESCENCE OF ORGANIC SOLIDS; NANOPARTICLES; PHASE DIAGRAMS; PHOTOEMISSION; SEGREGATION (METALLOGRAPHY); SURFACE SEGREGATION;

EMISSION SPECTROSCOPY;

EID: 77955362479     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp1022086     Document Type: Article

References (62)

1. Ferrando, R.; Jellinek, J.; Johnston, R. L. Chem. Rev. 2008, 108, 845-910
2. Ponec, V. Appl. Catal., A 2001, 222, 31-45
3. Rousset, J. L.; Stievano, L.; Aires, F. J. C. S.; Geantet, C.; Renouprez, A. J.; Pellarin, M. J. Catal. 2001, 202, 163-168
4. Morawek, B.; Renouprez, A.; Baudoing-Savois, R.; Hill, E. K. J. Phys. Chem. 1993, 97, 4288-4292
5. Gierak, J.; Mailly, D.; Hawkes, P.; Jede, R.; Bruchhaus, L.; Bardotti, L.; Prével, B.; Mélinon, P.; Perez, A.; Hyndman, R.; Jamet, J. P.; Ferré, J.; Mougin, A.; Chappert, C.; Mathet, V.; Warin, P.; Chapman, J. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2005, 80, 187-194
6. Pileni, M. P. J. Phys. D: Appl. Phys. 2008, 41, 134002
7. Mélinon, P.; Hannour, A.; Bardotti, L.; Prével, B.; Gierak, J.; Bourhis, E.; Faini, G.; Canut, B. Nanotechnology 2008, 19, 235305
8. Marsault, M.; Worz, A.; Hamm, G.; Sitja, G.; Barth, C.; Henry, C. R. Faraday Discuss. 2008, 138, 407-420
9. Ohno, H. Science 1998, 281, 951-956
10. deAraujo, C. I. L.; Munford, M. L.; Delatorre, R. G.; da Silva, R. C.; Zoldan, V. C.; Pasa, A. A.; Garcia, N. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 222101
11. Makarova, M.; Sih, V.; Warga, J.; Li, R.; DalNegro, L.; Vuckovic, J. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 161107
12. Zheng, Y. B.; Juluri, B. K.; Mao, X.; Walker, T. R.; Huang, T. J. J. Appl. Phys. 2008, 103, 014308
13. Sellmyer, D. J.; Yu, M.; Kirby, R. D. Nanostruct. Mater. 1999, 12, 1021-1026
14. Zitoun, D.; Respaud, M.; Fromen, M. C.; Lecante, P.; Casanove, M.; Amiens, C.; Chaudret, B. J. Magn. Magn. Mater. 2004, 272, 1536-1538
15. Rong, C.; Poudyal, N.; Chaubey, G. S.; Nandwana, V.; Skomski, R.; Wu, Y. Q.; Kramer, M. J.; Liu, J. P. J. Appl. Phys. 2007, 102, 043913
16. Egelhoff, W. Surf. Sci. Rep. 1987, 6, 253-415
17. Gadzuk, J. W.; Sunjić, M. Phys. Rev. B 1975, 12, 524-530
18. Hfner, S.; Whertheim, G. K. Phys. Rev. B 1975, 11, 678-683
19. Martensson, N.; Nilsson, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1990, 52, 1-46
20. Almbladh, C.; Birgersson, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 137-140, 393-399
21. Speranza, G.; Minati, L.; Anderle, M. J. Appl. Phys. 2007, 102, 043504
22. Shabanova, I. N.; Maratkanova, A. N.; Sosnov, V. A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88-91, 339-342
23. Gouzman, I.; Dubey, M.; Carolus, M. D.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Surf. Sci. 2006, 600, 773-781
24. Cohen Simonsen, A.; Yubero, F.; Tougaard, S. Phys. Rev. B 1997, 56, 1612-1619
25. Fuggle, J. C.; Campagna, M.; Zolnierek, Z.; Lsser, R.; Platau, A. Phys. Rev. Lett. 1980, 45, 1597-1600
26. Haines, S. R.; Newton, A. W.; Weightman, P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 137-140, 429-434
27. Biswas, C.; Shukla, S.; Banik, A. K.; Ahire, V. K.; Barman, S. R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2003, 212, 297-302
28. Lawniczak-Jablonska, K.; Demchenko, I. N.; Piskorska, E.; Wolska, A.; Talik, E.; Zakharov, D.; Liliental-Weber, Z. J. Non-Cryst. Solids 2006, 352, 4190-4199
29. Boeglin, C.; Carrire, B.; Deville, J. P.; Scheurer, F.; Guillot, C.; Barrett, N. Phys. Rev. B 1992, 45, 3834-3837
30. Perez, A.; Mélinon, P.; Dupuis, V.; Prével, B.; Tuaillon, J.; Bardotti, L.; Martet, C.; Treilleux, M.; Broyer, M.; Pellarin, M. J. Phys. D: Appl. Phys. 1997, 30, 709-721
31. Mélinon, P.; Dupuis, V.; Perez, A.; Jensen, P.; Hoareau, A.; Broyer, M.; Vialle, J. L.; Pellarin, M.; Baguenard, B.; Lermé, J. Int. J. Mod. Phys. B 1995, 9, 339-397
32. Tournus, F.; Tamion, A.; Blanc, N.; Hannour, A.; Bardotti, L.; Prével, B.; Ohresser, P.; Bonet, E.; Epicier, T.; Dupuis, V. Phys. Rev. B 2008, 77, 144411
33. Tuaillon, J.; Dupuis, V.; Mélinon, P.; Prével, B.; Treilleux, M.; Perez, A.; Pellarin, M.; Vialle, J. L.; Broyer, M. Philos. Mag. A 1997, 76, 493-507
34. Esparbé, I.; Brillas, E.; Centellas, F.; Garrido, J. A.; Rodriguez, R. M.; Arias, C.; Cabot, P. J. Power Sources 2009, 190, 201-209
35. Bardotti, L.; Jensen, P.; Hoareau, A.; Treilleux, M.; Cabaud, B. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 4694-4697
36. Hannour, A.; Bardotti, L.; Prével, B.; Bernstein, E.; Mélinon, P.; Perez, A.; Gierak, J.; Bourhis, E.; Mailly, D. Surf. Sci. 2005, 594, 1-11
37. Tainoff, D.; Bardotti, L.; Tournus, F.; Guiraud, G.; Boisron, O.; Mélinon, P. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 6842-6849
38. Buffat, P.; Borel, J. P. Phys. Rev. A 1976, 13, 2287-2298
39. Fukumiya, Y.; Haga, Y.; Nittono, O. Mater. Sci. Eng., A 2001, 312, 248-252
40. de Boer, F. R.; Boom, R.; Mattens, W. C. M.; Miedino, A. R. M. Cohesion in Metals; de Boer, F. R.; Petifor, D. G., Eds.; North Holland: Amsterdam, 1989; p 48.
41. Prabhakaran, K.; Ogino, T. Appl. Surf. Sci. 1997, 121-122, 213-217
42. Barr, T. J. Phys. Chem. 1978, 82, 1801-1810
43. Wang, H.; Wong, S. P.; Cheung, W. Y.; Ke, N.; Laun, W. F.; Chiah, M. F.; Zhang, X. X. Mater. Sci. Eng., C 2001, 16, 147-151
44. Eisebitt, S.; Bske, T.; Rubensson, J. E.; Kojnok, J.; Eberhardt, W.; Jebasinski, R.; Mantl, S.; Skytt, P.; Guo, J.; Wassdahl, N. Phys. Rev. B 1993, 48, 5042-5048
45. Pan, J. S.; Liu, R. S.; Zhang, Z.; Poon, S. W.; Ong, W. J.; Toke, S. Surf. Sci. 2006, 600, 1308-1318
46. Larrieu, G.; Dubois, E.; Wallart, X.; Baie, X.; Katcki, J. J. Appl. Phys. 2003, 94, 7801-7810
47. Ouerghi, A.; Penuelas, J.; Andreazza, C.; Andreazza, P.; Bouet, N.; Estrade-Szwarckopf, H. J. Appl. Phys. 2006, 100, 124310
48. Pant, K.; Murarka, Y. S. P.; Shepard, C.; Lanford, W. J. Appl. Phys. 1992, 72, 1833-1836
49. Briggs, D.; Seah, M. P., Eds. Practical Surface Analysis, 2nd ed.; Wiley and Sons Ltd.: Chichester, U.K., 1993.
50. Stadnik, Z. M.; Fuggle, J. C.; Miyazaki, T.; Stroink, G. Phys. Rev. B 1987, 35, 7400-7403
51. Christensen, A.; Ruban, A. V.; Stoltze, P.; Jacobsen, K. W.; Skriver, H. L.; Norskov, J. K.; Besenbacher, F. Phys. Rev. B 1997, 56, 5822-5834
52. Saúl, A.; Weissmann, M. Phys. Rev. B 1999, 60, 4982-4987
53. VanHoof, T.; Hou, M. Phys. Rev. B 2005, 72, 115434
54. Tuaillon-Combes, J.; Négrier, M.; Barbara, B.; Wernsdorfer, W.; Treilleux, M.; Mélinon, P.; Boisron, O.; Perez, A. Int. J. Nanosci. 2003, 2, 75-83
55. Thiele, J.; Barrett, N. T.; Belkhou, R.; Guillot, C.; Koundi, H. J. Phys.: Condens. Matter 1994, 6, 5025-5038
56. Newton, A. W.; Vaughan, A.; Cole, R. J.; Weightman, P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2000, 107, 185-191
57. Newton, A.; Haines, S.; Weightman, P.; Cole, R. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 136, 235-238
58. Stoker, R. D.; Szmigiel, M.; Miller, N. J.; Cole, R. J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 162, 127-133
59. Thiele, J.; Guillot, C.; Barrett, N.; Belkhou, R.; Dolle, P.; Baudoing-Savois, R. J. Phys. IV 1994, 4, 135-139
60. Jamet, M.; Négrier, M.; Dupuis, V.; Tuaillon-Combes, J.; Mélinon, P.; Pérez, A.; Wernsdorfer, W.; Barbara, B.; Baguenard, B. J. Magn. Magn. Mater. 2001, 237, 293-301
61. Shevchik, N. J.; Bloch, D. J. Phys. F: Met. Phys. 1977, 7, 543-550
62. Cottancin, E.; Gaudry, M.; Péllarin, M.; Lermé, J.; Arnaud, L.; Huntzinger, J. R.; Vialle, J. L.; Treilleux, M.; Mélinon, P.; Rousset, J. L.; Broyer, M. Eur. Phys. J. D 2003, 24, 111-114