Comparison of the stability of surface-modified SWNTs and DWNTs network films

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 10, 2010, Pages 4394-4398

  Yang, Seung Bo ^a   Kong, Byung Seon ^b   Kim, Dae Woo ^a   Jung, Hee Tae ^a  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b KCC   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMBIENT CONDITIONS; CONDUCTIVITY MEASUREMENTS; DE-DOPING; DOUBLE-WALLED CARBON NANOTUBES; ELECTRICAL CONDUCTIVITY; GOLD IONS; LONG TERM STABILITY; NANOTUBE NETWORKS; OPTICAL ABSORPTION; POST-TREATMENT METHOD; POTENTIAL APPLICATIONS; SPECTRAL MEASUREMENT; STABILITY OF SURFACES; SURFACE MODIFICATION; SURFACE-MODIFIED;

CARBON FILMS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; FIELD EFFECT TRANSISTORS; GOLD; IONS; LIGHT EMITTING DIODES; MULTIWALLED CARBON NANOTUBES (MWCN); SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES (SWCN); STABILITY;

CARBON NANOTUBES;

EID: 77949458438     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp9118265     Document Type: Article

References (34)

1. Baughman, R. H.; Zakhidov, A. A.; Heer, W. A. Science 2002, 297, 787.
2. Gruner, G. J. Mater. Chem. 2006, 16, 3533.
3. Cao, Q.; Rogers, J. A. Adv. Mater. 2009, 21, 29.
4. Pasquier, A. D.; Unalan, H. E.; Kanwal, A.; Miller, S.; Chhowalla, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 203511.
5. van de Lagemaat, J.; Barnes, T. E.; Rumbles, G.; Shaheen, S. E.; Coutts, T. J. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 233503.
6. Rowell, M. W.; Topinka, M. A.; McGehee, M. D.; Prall, H.-J.; Dennler, G.; Sariciftci, N. S.; Hu, L.; Gruner, G. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 233506.
7. Wang, Y.; Di, C.-A.; Liu, Y.; Kajiura, H.; Ye, S.; Cao, L.; Wei, D.; Zhang, H.; Li, Y.; Noda, K. Adv. Mater. 2008, 20, 4442.
8. Li, J.; Hu, L.; Wang, L.; Zhou, Y.; Gruner, G.; Marks, T. J. Nano. Lett. 2006, 6, 2472.
9. Javey, A.; Guo, J.; Wang, Q.; Lundstrom, M.; Dai, H. Nature 2003, 424, 654.
10. Cao, Q.; Zhu, Z. T.; Lemaitre, M. G.; Xia, M. G.; Shim, M.; Rogers, J. A. Adv. Mater. 2006, 18, 304.
11. Geng, H.-Z.; Kim, K. K.; So, K. P.; Lee, Y. S.; Lee, Y. H. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 7758.
12. Tantang, H.; Ong, J. Y.; Loh, C. L.; Dong, X.; Chen, P.; Chen, Y.; Hu, X.; Tan, L. P.; Li, L.-J. Carbon 2009, 47, 1867.
13. Skákalová, V.; Kaiser, A. B.; Dettlaff-Weglikowska, U.; Hrnariková, K.; Roth, S. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 7174.
14. Parekh, B. B.; Fanchini, G.; Eda, G.; Chhowalla, M. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 121913.
15. Dettlaff-Weglikowska, U.; Skakalova, V.; Graupner, R.; Jhang, S. H.; Kim, B. H.; Lee, H. J.; Ley, L.; Park, Y. W.; Berber, S.; Tomanek, D.; Roth, S. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 5125.
16. Kong, B.-S.; Jung, D.-H.; Oh, S.-K.; Han, C.-S.; Jung, H.-T. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 8377.
17. Li, Z.; Kandel, H. R.; Dervishi, E.; Saini, V.; Biris, A. S.; Bris, A. R.; Lupu, D. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 053115.
18. Yang, S. B.; Kong, B.-S.; Geng, J.; Jung, H.-T. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 13658.
19. Carbon Nanotubes, Topics Appl. Physics 111; Jorio, A., Dresselhaus, G., Dresselhaus, M. S., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 2008; p 495.
20. Barros, E. B.; Son, H.; Samsonidze, Ge. G.; Souza Filho, A. G.; Saito, R.; Kim, Y. A.; Muramatsu, H.; Hayashi, T.; Endo, M.; Kong, J.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B. 2007, 76, 045425.
21. Souza Filho, A. G.; Endo, M.; Muramatsu, H.; Hayashi, T.; Kim, Y. A.; Barros, E. B.; Akuzawa, N.; Samsonidze, G. G.; Saito, R.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B. 2006, 73, 235413.
22. Chun, K.-Y.; Lee, C. J. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 4492.
23. Chun, K.-Y.; Lee, H. S.; Lee, C. J. Carbon 2009, 47, 169.
24. Green, A. A.; Hersam, M. C. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 64.
25. Jackson, R.; Domercq, B.; Jain, R.; Kippelen, B.; Graham, S. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 1.
26. Wu, Z.; Chen, Z.; Du, X.; Logan, J. M.; Sippel, J.; Nikolou, M.; Kamaras, K.; Reynolds, J. R.; Tanner, D. B.; Hebard, A. F.; Rinzler, A. G. Science 2004, 305, 1273.
27. Hu, L.; Hecht, D. S.; Gruner, G. Nano Lett. 2004, 4, 2513.
28. Hennrich, F.; Wellmann, R.; Malik, S.; Lebedkin, S.; Kappes, M. M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2003, 5, 178.
29. Kim, K. K.; Bae, J. J.; Park, H. K.; Kim, S. M.; Geng, H.-Z.; Park, K. A.; Shin, H.-J.; Yoon, S.-M.; Benayad, A.; Choi, J.-Y.; Lee, Y. H. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12757.
30. Introduction to Surface Physics; Prutton, M., Ed.; Oxford University Press: New York, 1994; Chapter 4.
31. Characterization of Organic Thin Films; Ulman, A., Ed.; Butterworth-Heinemann: Boston, 1995; Chapter 6.
32. Kaempgen, M.; Lebert, M.; Haluska, M.; Nicoloso, N.; Roth, S. Adv. Mater. 2008, 20, 616.
33. Zhang, J.; Gao, L.; Sun, J.; Liu, Y.; Wang, W.; Wang, J.; Kajiura, H.; Li, Y.; Noda, K. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 16370.
34. Geng, H.-Z.; Kim, K. K.; Song, C.; Xuyen, N. T.; Kim, S. M.; Park, K. A.; Lee, D. S.; An, K. H.; Lee, Y. S.; Chang, Y.; Lee, Y. J.; Choi, J. Y.; Benayad, A.; Lee, Y. H. J. Mater. Chem. 2008, 18, 1261.