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Volumn 34, Issue 22, 2009, Pages 3583-3585

Automatic deconvolution of 4Pi-microscopy data with arbitrary phase

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OPTICS; OPTOELECTRONIC DEVICES;

EID: 70749139982     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.34.003583     Document Type: Article
Times cited : (10)

References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.