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Volumn 27, Issue 11, 2002, Pages 888-890

Phase determination in interference-based superresolving microscopes through critical frequency analysis

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EID: 0036601643     PISSN: 01469592     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.27.000888     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.