Site-specific charge-transfer screening at organic/metal interfaces

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 44, 2009, Pages 19244-19250

  Peisert, Heiko ^a   Kolacyak, Daniel ^a,b   Chassé, Thomas ^a  

^a UNIVERSITY OF TÜBINGEN   (Germany)

^b FRAUNHOFER INSTITUTE FOR MANUFACTURING TECHNOLOGY AND ADVANCED MATERIALS IFAM   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AU(100); AUGER SPECTRUM; CORE LEVELS; CORE-HOLE SCREENING; FINAL STATE; METAL SURFACES; MOLECULAR LAYER; ORGANIC/METAL INTERFACES; SCREENING EFFECT; SITE-SPECIFIC; ULTRAVIOLET PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; X RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; ZINC PHTHALOCYANINES;

AUGERS; EMISSION SPECTROSCOPY; LUMINESCENCE OF ORGANIC SOLIDS; PHOTOEMISSION; POWER SUPPLY CIRCUITS; ZINC; ZINC COMPOUNDS;

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 70449602404     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp9057548     Document Type: Article

References (45)

1. Ishii, H.; Sugiyama, K.; Ito, E.; Seki, E. K. Adv. Mater. 1999, 11, 605.
2. Hill, I. G.; Mäkinen, A. J.; Kafafi, Z. H. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1825.
3. Hill, I. G.; Mäkinen, A. J.; Kafafi, Z. H. J. Appl. Phys. 2000, 88, 889.
4. Crispin, X.; Geskin, V.; Crispin, A.; Cornil, J.; Lazzaroni, R.; Salaneck, W. R.; Brédas, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 8131.
5. Campbell Scott, J. J. Vac. Sci. Technol., A 2003, 21, 521.
6. Peisert, H.; Schwieger, T.; Auerhammer, J. M.; Knupfer, M.; Golden, M. S.; Fink, J. Appl. Phys. 2002, 91, 4872.
7. Knupfer, M.; Peisert, H. Phys. Status Solidi A 2004, 201, 1055.
8. Tengsted, C.; Osikowicz, W.; Salaneck, W. R.; Parker, I. D.; Hsu, C.-H.; Fahlman, M. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 053502.
9. Koch, N. ChemPhysChem 2007, 8, 1438.
10. Vázquez, H.; Dappe, Y. J.; Ortega, J.; Flores, F. J. Chem. Phys. 2007, 126, 144703.
11. Romaner, L.; Heimel, G.; Brédas, J.-L.; Gerlach, A.; Schreiber, F.; Johnson, R. L.; Zegenhagen, J.; Duhm, S.; Koch, N.; Zojer, E. Phys. Rev. Lett. 2007, 99, 256801.
12. Zhao, W.; Salomon, E.; Zhang, Q.; Barlow, S.; Marder, S. R.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2008, 77, 165336.
13. Caputo, R.; Prascher, B. P.; Staemmler, V.; Bagus, P. S.; Wöll, C. J. Phys. Chem. A 2007, 111, 12778.
14. Hill, I. G.; Kahn, A.; Soos, Z. G.; Pascal, R. A., Jr. Chem. Phys. Lett. 2000, 327, 181.
15. Tsiper, E. V.; Soos, Z. G.; Gao, W.; Kahn, A. Chem. Phys. Lett. 2002, 360, 47.
16. Tsiper, E. V.; Soos, Z. G. Phys. Rev. B 2003, 68, 085-301.
17. Zhu, X.-Y. Surface Science Reports 2004, 56, 1.
18. Koch, N.; Vollmer, A.; Duhm, S.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Adv. Mater. 2007, 19, 112.
19. Kaindl, G.; Chiang, T.-C.; Eastman, D. E.; Himpsel, F. J. Phys. Rev. Lett. 1980, 45, 1808.
20. Chiang, T.-C.; Kaindl, G.; Mandel, G. Phys. Rev. B 1986, 33, 695.
21. Peisert, H.; Petershans, A.; Chassé, T. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 5703.
22. Kolacyak, D.; Peisert, H.; Chassé, T. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2009, 95, 173.
23. Bao, Z.; Lovinger, A. J.; Dodabalapur, A. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3066.
24. Bao, Z.; Lovinger, A.; Brown, J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 207.
25. Peisert, H.; Knupfer, M.; Schwieger, T.; Fuentes, G. G.; Olligs, D.; Fink, J.; Schmidt, T. J. Appl. Phys. 2003, 93, 9683.
26. Brinkmann, H.; Kelting, C.; Makarov, S.; Tsaryova, O.; Schnurpfeil, G.; Wöhrle, D.; Schlettwein, D. Phys. Status Solidi A 2008, 205, 409.
27. Zangwill, A. Physics at Surfaces; Cambridge University Press: Cambridge, 1988.
28. Bagus, P. S.; Staemmler, V.; Wöll, Ch. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 096104.
29. Peisert, H.; Knupfer, M.; Fink, J. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2400.
30. Paasch, G.; Peisert, H.; Knupfer, M.; Fink, J.; Scheinert, S. J. Appl. Phys. 2003, 93, 6084.
31. Gerlach, A.; Schreiber, F.; Sellner, S.; Dosch, H.; Vartanyants, I. A.; Cowie, B. C. C.; Lee, T.-L.; Zegenhagen, J. Phys. Rev. B 2005, 71, 205425.
32. Lukasczyk, T.; Flechtner, K.; Merte, L. R.; Jux, N.; Maier, F.; Gottfried, J. M.; Steinrück, H.-P. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 3090.
33. Schöll, A.; Zou, Y.; Schmidt, T.; Fink, R.; Umbach, E. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14741.
34. Albridge, R. G.; Hamrin, K.; Johansson, G.; Fahlman, A. Z. Physik. 1968, 209, 419.
35. Griffiths, W. J.; Svensson, S.; Naves de Brito, A.; Correia, N.; Wannberg, B.; Langford, M. L.; Harris, F. M.; Liegener, C. M.; Agren, H. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1993, 89, 1637.
36. Mitkin, V. N.; Asanov, I. P.; Mazalov, L. N. J. Struct. Chem. 2002, 43, 843.
37. Tarantelli, F.; Sgamellotti, A.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 428.
38. Antonides, E.; Janse, E. C.; Sawatzky, G. A. Phys. Rev. B 1976, 15, 1669.
39. Fratesi, G.; Trioni, M. I.; Brivio, G. P.; Ugenti, S.; Perfetto, E.; Cini, M. Phys. Rev. B 2008, 78, 205111.
40. Verdozzi, C.; Cini, M.; Marini, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenomen. 2001, 117-118, 41.
41. Hesper, R.; Tjeng, L. H.; Sawatzky, G. A. Europhys. Lett. 1997, 40, 177.
42. Moretti, G. Surf. Interface Anal. 1990, 16, 159.
43. Peisert, H.; Chassé, T.; Streubel, P.; Meisel, A.; Szargan, R.; Electron, J. Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 68, 321.
44. Uyeda, N.; Ashida, M.; Suito, E. J. Appl. Phys. 1965, 36, 1453.
45. Ueno, N.; Kera, S.; Sakamoto, K.; Okudaira, K. K. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2008, 92, 495.