Simulations of aberration-corrected high-resolution transmission electron microscope images for carbyne chains

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 113, Issue 41, 2009, Pages 17751-17754

  Hu, Yun Hang ^a  

^a Michigan Technological University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BONDING STRUCTURE; CARBON CHAINS; CARBYNES; DARK-LINES; HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPES; HRTEM IMAGES; IMAGE DIFFERENCE; IMAGE SIMULATIONS; LINEAR RELATIONSHIPS; SP CHAINS;

ABERRATIONS; ELECTRON MICROSCOPES; SEMICONDUCTOR QUANTUM WIRES; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

BOND LENGTH;

EID: 70449572733     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp905810k     Document Type: Article

References (35)

1. Kroto, H. W.; Heath, J. R.; O'Brien, S. C.; Curl, R. F.; Smalley, R. E. Nature 1985, 318, 162.
2. Iijima, S. Nature 1991, 354, 56.
3. Szafert, S.; Gladysz, J. A. Chem. Rev. 2006, 106, PR13.
4. Henning, T.; Salama, F. Science 1998, 282, 2204.
5. Lagow, R. J.; Kampa, J. J.; Wei, H. C.; Battle, S. L.; Genge, J. W.; Laude, D. A.; Harper, C. J.; Bau, R.; Stevens, R. C.; Haw, J. F.; Munson, E. Science 1995, 267, 362.
6. Tammann, G. Z, Anorg. Allg. Chem. 1921, 115, 145.
7. de Quadras, L.; Bauer, E. B.; Mohr, W.; Bohling, J. C.; Peters, T. B.; Martin-Alvarez, J. M.; Hampel, F.; Gladysz, J. A. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 8296.
8. Von Helden, G.; Kemper, P. R.; Gotts, N. G.; Bowers, M. T. Science 1993, 259, 1300.
9. Neubauer-Guenther, P.; Giesen, T. F.; Schlemmer, S.; Yamada, K. M. T. J. Chem Phys- 2007, 127, 014313.
10. Yang, S. J.; Kertesz, M. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 146.
11. Perpe'te, E. A.; Champagne, B. THEOCHEM 1999, 487, 39.
12. Nicolas, C.; Shu, J.; Peterka, D. S.; Hochlaf, M.; Poisson, L.; Leone, S. R.; Ahmed, M. J. Am. Chem. soc. 2006, 128, 220.
13. Belenkov, E. A.; Mavrinsky, V. V. Crystallogr. Rep. 2008, 53, 83.
14. Mccall, B. J.; York, D. G.; Oka, T. Astrophys. J. 2000, 531, 329.
15. Lucotti, A.; Tommasini, M.; Del Zoppo, M.; Castiglioni, C.; Zerbi, G.; Cataldo, F.; Casari, C. S.; Bassi, L. A.; Russo, V.; Bogana, M.; Bottani, C. E. Chem. Phys. Lett. 2006, 417, 78.
16. Kudryavtsev, Y. P.; Evsyukov, S.; Guseva, M.; Babaev, V.; Khvostov, V. Chem. Phys. Carbon 1981, 25, 1.
17. Gibtner, T.; Hampel, F.; Gisselbrecht, J. P.; Hirsch, A. Chem.-Eur. J. 2002, 8, 408.
18. Eisler, S.; Slepkov, A. D.; Elliott, E.; Lu, T.; McDonald, R.; Hegmami, F. A.; Tykwinski, R. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2666.
19. Zhao, X.; Ando, Y.; Liu, Y.; Jinno, M.; Suzuki, T. Phys. Rew. Lett. 2003, 90, 187-401.
20. Wang, Z.; Ke, X.; Zhu, Z.; Zhang, F.; Ruan, M.; Yang, J. Phys. Rev. B 2000, 61, R2472.
21. Cazzanelli, E.; Castriota, M.; Caputi, L. S.; Cupolillo, A.; Giallombardo, C.; Papagno, L. Phys. Rev. B 2007, 75, 121-405.
22. Hayashi, T.; Muramatsu, H.; Kim, Y. A.; Kajitani, H.; Imai, S.; Kawakami, H.; Kobayashi, M.; Matoba, T.; Endo, M.; Dresselhaus, M. S. Carbon 2006. 44. 1130.
23. Korgel, B. A.; Lee, D. C.; Hanrath, T.; Yacaman, M. J.; Thesen, A.; Matijevic, M.; Kilaas, R.; Kisielowski, C.; Diebold, A. C. IEEE Trans, Semiconductor Manufacturing 2006,19,391.
24. Kavan, L. Chem. Rev. 1997, 97, 3061.
25. Ravagnan, L.; Siviero, F.; Lenardi, C.; Piseri, P.; Barborini, E.; Milani, P. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 285506.
26. Casari, C. S.; Bassi, A. L.; Ravagnan, L.; Siviero, F.; Lenardi, C.; Barborini, E.; Piserib, P.; Milanib, P.; Bottania, E. Carbon 2004, 42, 1103.
27. Yang, S.; Kertesz, M.; Zolyomi, V.; Kurti, J. J. Phys, Chem. A 2007, 111, 2434.
28. Ashcroft N. W. Mermin, N. D. Solid State Physics; Saunders College: Philadelphia, PA, 1976; p 70.
29. Tobin, M. C. J. Chem. Phys. 1955, 23, 891.
30. Cui, C. X.; Kertesz, M. J. Chem. Phys. 1990, 93, 5257.
31. Scherzer, O. J. Appl. Phys. 1949, 20, 20.
32. Kirkland, E. J. Advanced Computing in Electron Microscopy; Plenum Press: New York, 1998; p 11.
33. Tsuno, K. J. Electron Microsc. 1999, 48, 801.
34. Cowley, J. M. Annu. Rev. Phys. Chem. 1987, 38, 57.
35. Heimann, R. B.; Kleiman, J.; Salansky, N. M. Nature 1983, 306, 164.