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Volumn 42, Issue 15, 2009, Pages

Frequency metrology and clocks

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ATOMIC SYSTEM; CURRENT PERFORMANCE; DISCRETE ENERGY LEVELS; FREQUENCY METROLOGY; ION TRAPS; OPTICAL CLOCKS; ORDERS OF MAGNITUDE; PRIMARY STANDARDS; RADIO FREQUENCIES; SINGLE LASERS; TRAPPED ION;

EID: 70350681866     PISSN: 09534075     EISSN: 13616455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0953-4075/42/15/154017     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.