Formation of alkane-phosphonic acid self-assembledmonolayers on alumina: An in situ SPR study

Surface and Interface Analysis

Volumn 41, Issue 11, 2009, Pages 897-903

  Koutsioubas, Alexandros G ^a   Spiliopoulos, Nikolaos ^a   Anastassopoulos, Dimitris L ^a   Vradis, Alexandros A ^a   Priftis, George D ^a  

^a UNIVERSITY OF PATRAS   (Greece)

Author keywords

Adsorption; Aluminum; Aluminum oxide; Self assembledmonolayers (SAMs); Surface plasmons

Indexed keywords

ADSORBED LAYERS; ALUMINUM OXIDE; ALUMINUM OXIDES; ETHANOL SOLUTIONS; FIRST-ORDER; FORMATION KINETICS; FORMATION PROCESS; IN-SITU; KINETIC MODELS; KINETIC STEPS; LANGMUIRS; N-ALKANES; PHOSPHONIC ACIDS; SAMS; SECOND ORDER KINETICS; SELF-ASSEMBLEDMONOLAYERS (SAMS); SOLUTION CONCENTRATION; STANDING-UP; SURFACE PLASMON RESONANCE SPECTROSCOPY; SURFACE PLASMONS;

ADSORPTION; ALUMINUM; ETHANOL; GROWTH KINETICS; OPTICAL DATA STORAGE; ORGANIC ACIDS; PARAFFINS; PLASMONS; REFRACTIVE INDEX; SURFACE PLASMON RESONANCE;

ALUMINA;

EID: 70350347127     PISSN: 01422421     EISSN: 10969918     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/sia.3116     Document Type: Article

References (33)

1. A. Ulman, Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
2. F. Schreiber, Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151.
3. D. K. Schwartz, Annu. Rev. Phys. Chem. 2001, 52, 107.
4. R. G. Nuzzo, D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc. 1983, 15, 4481.
5. C. D. Bain, E. B. Troughton, Y. Tao, J. Evall, G. M. Whitesides, R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
6. K. A. Peterlinz, R. Georgiadis, Langmuir 1996, 12, 4740.
7. D. S. Karpovic, G. J. Blanchard, Langmuir 1994, 10, 3315.
8. G. Hahner, Ch. Woll, M. Buck, M. Grunze, Langmuir 1993, 9, 1955.
9. K. D. Truong, P. A. Rowntree, Prog. Surf. Sci. 1995, 50, 207.
10. Y. T. Kim, R. L. McCarley, A. J. Bard, Langmuir 1993, 9, 1941.
11. O. Dannenberger, K. Weiss, H. Himmel, B. Jager, M. Buck, C. Woll, Thin Solid Films 1997, 307, 183.
12. O. Dannenberger, M. Buck, M. Grunze, J. Phys. Chem. B. 1999, 103, 2202.
13. S. R. Wasserman, G. M. Whitesides, I. M. Tidswell, B. M. Ocko, P. S. Pershan, J. D. Axe, J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 5852.
14. D. K. Swartz, S. Steinberg, J. Israelachvili, J. A. N. Zasadzinski, Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 3354.
15. K. Bierbaum, M. Grunze, A. A. Baski, L. F. Chi, W. Schrepp, H. Fuchs, Langmuir 1995, 11, 2143.
16. B. L. Kropman, D. H. A. Blank, H. Rogalla, Thin Solid Films 1998, 327-329, 185.
17. M. Goldmann, J. V. Davidovits, P. Silberzan, Thin Solid Films 1998, 327, 166.
18. D. L. Allara, R. G. Nuzzo, Langmuir 1985, 1, 45.
19. D. L. Allara, R. G. Nuzzo, Langmuir 1985, 1, 52.
20. M. J. Pellerite, T. D. Dunbar, L. D. Boardman, E. J. Wood, J. Phys. Chem. B 2003, 107, 11726.
21. I. L. Liakos, R. C. Newman, E. McAlpine, M. R. Alexander, Surf. Interface Anal. 2007, 36, 347.
22. K. M. Pertays, G. E. Thompson, M. R. Alexander, Surf. Interface Anal. 2004, 36, 1361.
23. E. Hoque, J. A. DeRose, P. Hoffmann, H. J. Mathieu, B. Bhushan, M. Cichomsko, J. Chem. Phys. 2006, 124, 174710.
24. D. M. Spori, N. V. Venkataraman, S. G. P. Tosatti, F. Durmaz, N. D. Spencer, S. Zurcher, Langmuir 2007, 23, 8053.
25. T. Hauffman, O. Blajiev, J. Snauwaert, C. Van Haesendonck, A. Hubin, H. Terryn, Langmuir 2008, 24, 13450.
26. T. A. Lewington, M. R. Alexander, G. E. Thompson, E. Mcalpine, Surf. Eng. 2002, 18, 228.
27. M. Himmelhaus, F. Eisert, M. Buck, M. Grunze, J. Phys. Chem. B 2000, 104, 576.
28. I. Doudevski, W. A. Hayes, D. K. Schwartz, Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 4927.
29. A. G. Koutsioubas, N. Spiliopoulos, D. L. Anastassopoulos, A. A. Vradis, C. Toprakcioglu, G. D. Priftis, J. Polym. Sci. Part B: Polym. Phys. 2006, 44, 1580.
30. A. G. Koutsioubas, N. Spiliopoulos, D. L. Anastassopoulos, A. A. Vradis, G. D. Priftis, J. Polym. Sci. Part B: Polym. Phys. 2007, 45, 2060.
31. S. Xu, S. J. N. Cruchon-Dupeyrat, J. C. Garno, G. Y. Liu, G. K. Jennings, T.-H. Yong, P. E. Laibinis J. Chem. Phys. 1998, 108, 5002.
32. R. J. Busshager, H. A. Macleod, Appl. Opt. 1996, 35, 5044.
33. I. L. Liakos, R. C. Newman, E. McAlpine, M. R. Alexander, Langmuir 2007, 23, 995.