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Volumn 80, Issue 2, 2009, Pages

Fidelity susceptibility in the two-dimensional transverse-field Ising and XXZ models

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CRITICAL POINTS; DRIVING PARAMETERS; GROUND-STATE ENERGIES; QUANTUM PHASE TRANSITIONS; SCALING BEHAVIOR; SECOND DERIVATIVES; SECOND ORDERS; THEORETICAL ARGUMENTS; TRANSVERSE-FIELD ISING MODEL;

EID: 70349553931     PISSN: 15393755     EISSN: 15502376     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevE.80.021108     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.