Submicrometer-resolution in situ imaging of the focus pattern of a soft x-ray laser by color center formation in LiF crystal

Optics Letters

Volumn 34, Issue 7, 2009, Pages 941-943

  Faenov, A Ya ^a,b   Kato, Y ^a,c   Tanaka, M ^a   Pikuz, T A ^a,b   Kishimoto, M ^a   Ishino, M ^a   Nishikino, M ^a   Fukuda, Y ^a   Bulanov, S V ^a   Kawachi, T ^a  

^a JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY   (Japan)

^b JOINT INSTITUTE FOR HIGH TEMPERATURES   (Russian Federation)

^c GRADUATE SCHOOL FOR THE CREATION OF NEW PHOTONICS INDUSTRIES   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COLOR; COLOR CENTERS; LASER BEAM EFFECTS; SILVER;

CAPILLARY DISCHARGES; HIGH QUALITY; ORDERS OF MAGNITUDE; SINGLE SHOTS; SITU IMAGING; SOFT X-RAY LASER; SPATIAL RESOLUTION; SUBMICROMETER RESOLUTION;

X RAY LASERS;

EID: 66349135077     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.34.000941     Document Type: Article

References (21)

1. E. J. Takahashi, T. Kanai, K. Ishikawa, Y. Nabekawa, and K. Midorikawa, Phys. Rev. Lett. 99, 053904 (2007).
2. M. Tanaka, M. Nishikino, T. Kawachi, N. Hasegawa, M. Kado, M. Kishimoto, K. Nagashima, and Y. Kato, Opt. Lett. 28, 1680 (2003).
3. S. Heibuch, M. Grisham, D. Martz, and J. J. Rocca, Opt. Express 13, 4050 (2005).
4. Ph. Zeitoun, G. Faivre, S. Sebbam, T. Mocek, A. Hallou, M. Fajardo, D. Aubert, Ph. Balcou, F. Burgy, D. Douillet, S. Kazamias, G. de lascheze-Murel, T. Lefrou, S. le Pape, P. Mercere, H. Merdji, A. S. Morlens, J. P. Rousseaua, and C. Valentin, Nature 431, 426 (2004).
5. S. Marchesini, S. Boutet, A. E. Sakdinawat, M. Bogan, S. Bajt, A. Barty, H. N. Chapman, M. Frank, S. P. Hau-riege, A. Szoke, C. Cui, D. A. Shapiro, M. R. Howells, J. C. H. Spence, J. W. Shaevitz, J. Y. Lee, J. Hajdu, and M. N. Seibert, Nat. Photonics 2, 560 (2008).
6. http://www.riken.jp/XFEL/eng/index.html.
7. L. Le Deroff, P. Salieres, and B. Carre, Opt. Lett. 23, 1544 (1998).
8. M. Nishikino, H. Kawazome, and K. Nagashima, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 47, 983 (2008).
9. F. Staub, M. Braud, J. E. Balmer, J. Nilsen, and S. Bajt, Phys. Rev. A 70, 013813 (2004).
10. D. Yoshitomi, T. Shimizu, T. Sekikawa, and S. Watanabe, Opt. Lett. 27, 2170 (2002).
11. C. Valentin, D. Douillet, S. Kazamias, Th. Lefrou, G. Grillon, F. Auge, G. Mullot, Ph. Balcou, P. Mercere, and Ph. Zeitoun, Opt. Lett. 28, 1049 (2003).
12. H. Mahiko, A. Suda, and K. Midorikawa, Opt. Lett. 29, 1927 (2004).
13. G. Tomassetti, A. Ritucci, A. Reale, L. Palladino, L. Reale, L. Arrizza, G. Baldacchini, F. Bonfigli, F. Flora, L. Mezi, R. M. Montereali, S. V. Kukhlevsky, A. Faenov, T. Pikuz, and J. Kaiser, Europhys. Lett. 63, 681 (2003).
14. G. Baldacchini, S. Bollanti, F. Bonfigli, F. Flora, P. Di Lazzaro, A. Lai, T. Marolo, R. M. Montereali, D. Murra, A. Faenov, T. Pikuz, E. Nichelatti, G. Tomassetti, A. Reale, L. Reale, A. Ritucci, T. Limongi, L. Palladino, M. Francucci, S. Martellucci, and G. Petrocelli, Rev. Sci. Instrum. 76, 113104 (2005).
15. A. Ustione, A. Cricenti, F. Bonfigli, F. Flora, A. Lai, T. Marolo, R. M. Montereali, G. Baldacchini, A. Faenov, T. Pikuz, and L. Reale, Appl. Phys. Lett. 88, 141107 (2006).
16. M. Nishikino, N. Hasegawa, T. Kawachi, H. Yamatani, K. Sukegawa, and K. Nagashima, Appl. Opt. 47, 1129 (2008).
17. F. Calegari, G. Valentini, C. Vozzi, E. Benedetti, J. Cabanillas-Gonzalez, A. Faenov, S. Gasilov, T. Pikuz, L. Poletto, G. Sansone, P. Villoresi, M. Nisoli, S. De Silvestri, and S. Stagira, Opt. Lett. 32, 2593 (2007).
18. Y. Ochi, T. Kawachi, T. Utsumi, A. Sasaki, M. Tanaka, M. Kado, K. Sukegawa, L. Peixiang, M. Kishimoto, T. Renzhong, K. Nagashima, M. Koike, H. Daido, and Y. Kato, Appl. Phys. B 78, 961 (2004).
19. P. Martin, A. N. Belsky, E. Constant, E. Mevel, and F. Salin, IEEE Trans. Nucl. Sci. 48, 1137 (2001).
20. K. Kawamura, M. Hirano, T. Kurobori, D. Takamizu, T. Kamiya, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett. 84,311 (2004).
21. L. C. Courrol, R. E. Samad, L. Gomes, I. M. Ranieri, S. L. Baldochi, A. Z. de Freitas, and N. D. Vieira, Opt. Express 12, 288 (2004).