Generation of soft X-ray submicron beam using fresnel phase zone plate

Japanese Journal of Applied Physics

Volumn 47, Issue 2 PART 1, 2008, Pages 983-985

  Nishikino, Masaharu ^a   Kawazome, Hayato ^a   Nagashima, Keisuke ^a  

^a JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY   (Japan)

Author keywords

Fresnel phase zone plate; Knife edge scan; Soft X ray laser; Spatial coherence; Submicron beam

Indexed keywords

IMAGE RESOLUTION; OPTICAL INSTRUMENTS; X RAY LASERS;

FRESNEL PHASE ZONE PLATE; KNIFE-EDGE SCAN; SOFT X-RAY LASER; SPATIAL COHERENCE; SUBMICRON BEAM;

X RAYS;

EID: 43749112274     PISSN: 00214922     EISSN: 13474065     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JJAP.47.983     Document Type: Article

References (19)

1. D. L. Matthews, P. L. Hagelstein, M. D. Rosen, M. J. Eckart, N. M. Ceglio, A. U. Hazi, H. Medecki, B. J. MacGowan, J. E. Trebes, B. L. Whitten, E. M. Campbell, C. W. Hatcher, A. M. Hawryluk, R. L. Kauffman, L. D. Pleasance, G. Rambach, J. H. Scofleld, G. Stone, and T. A. Weaver: Phys. Rev. Lett. 54 (1985) 110.
2. H. Daido: Rep. Prog. Phys. 65 (2002) 1513.
3. K. Ishikawa and K. Midorikawa: Phys. Rev. A 65 (2002) 043405.
4. G. Vaschenko, A. Garcia Etxarri, C. S. Menoni, J. J. Rocca, O. Hemberg, S. Bloom, W. Chao, E. H. Anderson, D. T. Attwood, Y. Lu, and B. Parkinson: Opt. Lett. 31 (2006) 3615.
5. M. Folkard, G. Schettino, B. Vojnovic, A. G. Michette, C. David, S. J. Pfauntsch, K. M. Prise, and B. D. Michael: Proc. SPIE 4499 (2001) 10.
6. Y. Suzuki, M. Awaji, Y. Kohmura, A. Takeuchi, H. Takano, N. Kamijo, S. Taraura, M. Yasumoto, and K. Hamada: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 467-468 (2001) 951.
7. Y. Iketaki, Y. Horikawa, S. Mochimaru, K. Nagai, M. Atsumi, H. Kamijou, and M. Shibuya: Opt. Lett. 19 (1994) 1804.
8. T. Mocek, B. Rus, M. Stupka, M. Kozlová, A. R. Präg, J. Polan, M. Bittner, R. Sobierajski, and L. Juha: Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 051501.
9. G. Vaschenko, C. Brewer, F. Brizuela, Y. Wang, M. A. Larotonda, B. M. Luther, M. C. Marconi, J. J. Rocca, C. S. Menoni, E. H. Anderson, W. Chao, B. D. Harteneck, J. A. Liddle, Y. Liu, and D. T. Attwood: Opt. Lett. 31 (2006) 1214.
10. M. Nishikino, M. Tanaka, K. Nagashima, M. Kishimoto, M. Kado, T. Kawachi, K. Sukegawa, Y. Ochi, N. Hasegawa, and Y. Kato: Phys. Rev. A 68 (2003) 061802.
11. Y. Ochi, T. Kawachi, N. Hasegawa, A. Sasaki, K. Nagashima, K. Sukegawa, M. Kishimoto, M. Tanaka, M. Nishikino, and M. Kado: Appl. Phys. B 78 (2004) 961.
12. J. Kirz: J. Opt. Soc. Am. 64 (1974) 301.
13. D. Attwood: Soft X-rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University Press, Cambridge, U.K., 1999).
14. B. L. Henke, E. M. Gullikson, and J. C. Davis: At, Data Nucl. Data Tables 34 (1993) 181.
15. M. Nishikino, M. Tanaka, H. Kawazome, T. Kawachi, A. Sasaki, N. Hasegawa, Y. Ochi, M. Kishimoto, K. Nagashima, and N. Ohnishi: AIP Conf. Proc. 827 (2006) 499.
16. T. Kawachi, M. Kado, M. Tanaka, N. Hasegawa, K. Nagashima, K. Sukegawa, P. Lu, K. Takahashi, S. Namba, M. Koike, A. Nagashima, and Y. Kato: Appl. Opt. 42 (2003) 2198.
17. Y. Ochi, N. Hasegawa, T. Kawachi, and K. Nagashima: Appl. Opt. 46 (2007) 1500.
18. R. Z. Tai, K. Namikawa, A. Sawada, M. Kishimoto, M. Tanaka, P. Lu, K. Nagashima, H. Maruyama, and M. Ando: Phys. Rev. Lett. 93 (2004) 087601.
19. S. Namba, N. Hasegawa, M. Nishikino, T. Kawachi, M. Kishimoto, K. Sukegawa, M. Tanaka, Y. Ochi, K. Takiyama, and K. Nagashima: Phys. Rev. Lett. 99 (2007) 043004.