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Volumn 2009, Issue 2, 2009, Pages

Plasmonic noise in nanometric semiconductor layers

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Classical Monte Carlo simulations; Current fluctuations

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EID: 65449149782     PISSN: 17425468     EISSN: 17425468     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/1742-5468/2009/02/P02030     Document Type: Article
Times cited : (7)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.