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Volumn 79, Issue 11, 2009, Pages

Tailoring interface roughness and superlattice period length in electron-filtering thermoelectric materials

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EID: 65349173534     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.79.115316     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.