Measuring temperature gradients over nanometer length scales

Nano Letters

Volumn 9, Issue 2, 2009, Pages 779-783

  Hoffmann, Eric A ^a   Nilsson, Henrik A ^b   Matthews, Jason E ^a   Nakpathomkun, Natthapon ^a   Persson, Ann I ^a   Samuelson, Lars ^b   Linke, Heiner ^a  

^a UNIVERSITY OF OREGON   (United States)

^b LUND UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON-PHONON INTERACTIONS; NANOCRYSTALS; SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS; THERMOELECTRIC ENERGY CONVERSION;

BACKGROUND TEMPERATURE; CONDUCTANCE SPECTRA; MEASURING TEMPERATURE; NANOMETER LENGTH SCALE; QUANTITATIVE INVESTIGATION; TEMPERATURE DIFFERENCES;

THERMAL GRADIENTS;

EID: 65249156465     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl8034042     Document Type: Article

References (24)

1. Molenkamp, L. W.; Gravier, T.; van Houten, H.; Buijk, O. J. A.; Mabesoone, M. A. A.; Foxon, C. T. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 3765-3768.
2. Molenkamp, L. W.; Staring, A. A. M.; Alphenaar, B. W.; van Houten, H.; Beenakker, C. W. J. Semicond. Sci Technol. 1994, 9, 903-906.
3. Scheibner, R.; König, M.; Reuter, D.; Wieck, A. D.; Gould, C.; Buhmann, H.; Molenkamp, L. W. New J. Phys. 2008, 10, 8.
4. Mahan, G. D.; Sofo, J. O. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1996, 93, 7436-7439.
5. Humphrey, T. E.; Newbury, R.; Taylor, R. P.; Linke, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 116801.
6. O'Dwyer, M. F.; Humphrey, T. E.; Linke, H. Nanotechnology 2006, 17, S338-S343.
7. Hicks. L. D.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 1993, 47, 16631-16634.
8. Boukai, A. I.; Bunimovich, Y.; Tahir-Kheli, J.; Yu, J. K.; Goddard, W. A.; Heath, J. R. Nature 2008, 451, 168-171.
9. Scheibner, R.; Novik, E. G.; Borzenko, T.; König, M.; Reuter, D.; Wieck, A. D.; Buhmann, H.; Molenkamp, L. W. Phys. Rev. B 2007, 75, 041301.
10. Nicholls, J. T.; Chiatti, O. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 164210.
11. Hone, J.; Ellwood, I.; Muno, M.; Mizel, A.; Cohen, M. L.; Zettl, A.; Rinzler, A. G.; Smalley, R. E. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 1042-1045.
12. Small, J. P.; Perez, K. M.; Kim, P. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 256801.
13. Shi, L.; Li, D. Y.; Yu, C. H.; Jang, W. Y.; Kim, D.; Yao, Z.; Kim, P.; Majumdar, A. J. Heat Trans. 2003, 125, 881-888.
14. Llaguno, M. C.; Fischer, J. E.; Johnson, A. T.; Hone, J. Nano Lett. 2004, 4, 45-49.
15. Seol, J. H.; Moore, A. L.; Saha, S. K.; Zhou, F.; Shi, L.; Ye, Q. L.; Scheffler. R.; Mingo. N.; Yamada, T. J. Appl. Phys. 2007, 101, 023706.
16. Hoffmann, E. A.; Nakpathomkun, N.; Persson, A. L.; Linke, H.; Nilsson, H. A.; Samuelson, L. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 252114.
17. Datta, S. Electronic Transport in Mesoscopic Systems; Cambridge University Press: Cambridge, 1995.
18. Thelander, C.; Bjork, M. T.; Larsson, M. W.; Hansen, A. E.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Solid State Commun. 2004, 131, 573-579.
19. Ferry, D. K.; Goodnick, S. K. Transport in Nanostructures; Cambridge University Press: Cambridge, 1997; eq 3.68.
20. Foxman, E. B.; McEuen, P. L.; Meirav, U.; Wingreen, N. S.; Meir, Y.; Belk, P. A.; Belk, N. R.; Kastner, M. A.; Wind, S. J. Phys. Rev. B 1993, 47, 10020-10023.
21. Henny, M.; Birk, H.; Huber, R.; Strunk, C.; Bachtold, A.; Krüger, M.; Schonenberger, C. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 773-775.
22. Giazotto, F.; Heikkila, T. T.; Luukanen, A.; Savin, A. M.; Pekola, J. P. Rev. Mod. Phys. 2006, 78, 217-274.
23. Hansen. A. E.; Bjork, M. T.; Fasth, C.; Thelander, C.; Samuelson, L. Phys. Rev. B 2005, 71, 5.
24. Sugaya, T.; Bird, J. P.; Ferry, D. K.; Sergeev, A.; Mitin, V.; Jang, K. Y.; Ogura, M.; Sugiyama,Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 727-729.