Raman topography and strain uniformity of large-area epitaxial graphene

Nano Letters

Volumn 9, Issue 3, 2009, Pages 964-968

  Robinson, Joshua A ^a   Puls, Conor P ^a   Staley, Neal E ^a   Stitt, Joseph P ^a   Fanton, Mark A ^a   Emtsev, Konstantin V ^b   Seyller, Thomas ^b   Liu, Ying ^a  

^a PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCES; EPITAXIAL GRAPHENE; GRAPHENE; RAMAN SHIFTS; STRAIN INHOMOGENEITY; STRAIN-FREE;

ATOMIC SPECTROSCOPY; ENGINEERING GEOLOGY; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY; SILICON CARBIDE; SPECTRUM ANALYSIS;

SEMICONDUCTING SILICON COMPOUNDS;

EID: 64149109822     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl802852p     Document Type: Article

References (20)

1. Geim, A.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183-191.
2. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2006, 306, 666-669.
3. Johansson, L. I.; Glans, P. A.; Hellgren, N. Surf. Sci. 1998, 405, 288297.
4. Foibeaux, L.; Themlin, J. M.; Debever, J. M. Surf. Sci. 1999, 442, 918.
5. Berger, C.; Song, Z.; Li, X.; Wu, X.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191-1196.
6. Seyller, T.; Emtsev, K. V.; Gao, K.-Y.; Speck, F.; Ley, L.; Tadich, A.; Broekman, L.; Riley, J. D.; Leckey, R. C. G.; Rader, O.; Varykhalov, A.; Shikin, A. M. Surf. Sci. 2006, 600, 3906-3911.
7. de Heer, W. A.; Berger, C.; Wu, X.; First, P. N.; Conrad, E. H.; Li, X.; Li, T.; Sprinkle, M.; Hass, J.; Sadowski, M. L.; Potemski, M.; Martinez, G. Solid State Commun. 2007, 143, 92-100.
8. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
9. Gupta, A.; Chen, G.; Joshi, P.; Tadigadapa, S.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2006, 6, 2667-2673.
10. Graf, D.; Molitor, F.; Ensslin, K.; Stampfer, C.; Jungen, A.; Hierold, C.; Wirtz, L. Nano Lett. 2007, 7, 238-242.
11. Ni, Z. H.; Chen, W.; Fan, X. F.; Kuo, J. L.; Yu, T.; Wee, A. T. S.; Shen, Z. X. Phys. Rev. B 2008, 77, 115416.
12. Faugeras, C.; Nerriére, A.; Potemski, M.; Mahmoud, A.; Dujardin, E.; Berger, C.; de Heer, W. A. App. Phys. Lett. 2008, 92, 011914.
13. Röhrl, J.; Hundhausen, M.; Emtsev, K. V.; Seyller, T.; Graupner, R.; Ley, L. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 201918.
14. Ferralis, N.; Maboudian, R.; Carraro, C.. Preprint at http://arxiv.org/ abs/arXiv:0808.3605vl, 2008.
15. Vidano, R. P.; Fischbach, O. B.; Willis, L. J.; Loehr, T. M. Solid-State Commun. 1981, 39, 341-344.
16. Emtsev, K. V.; Speck, F.; Seyller, T.; Ley, L.; Riley, J. D. Phys. Rev. B 2008, 77, 155303.
17. Ohta, T.; Bostwick, A.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Science 2006, 313, 951-954.
18. Ohta, T.; Bostwick, A.; McChesney, J. L.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 206802.
19. Das, A.; Pisana, S.; Chakraborty, B.; Piscanec, S.; Saha, S. K.; Waghmare, U. V.; Novoselov, K. S.; Krishnamurthy, H. R.; Geim, A. K.; Ferrari, A. C.; Sood, A. K. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 210215.
20. Emtsev, K. V.; Bostwick, A.; Horn, K.; Jobst, J.; Kellogg, G.; Ley, L.; McChesney, J.; Ohta, T.; Reshanov, S.; Rotenberg, E.; Schmid, A.; Waldmann,D.; Weber, H.; Seyller, T. Preprint at http://arxiv.org/ abs/arXiv:0808.1222vl, 2008.