-
2
-
-
0000647428
-
-
(b) Yaghi, O. M.; Li, H. L.; Davis, C.; Richardson, D.; Gray, T. L. Acc. Chem. Res. 1998, 31, 474.
-
(1998)
Acc. Chem. Res
, vol.31
, pp. 474
-
-
Yaghi, O.M.1
Li, H.L.2
Davis, C.3
Richardson, D.4
Gray, T.L.5
-
3
-
-
44649157814
-
-
(c) Batten, S. R.; Robson, R. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 1461.
-
(1998)
Angew. Chem., Int. Ed
, vol.37
, pp. 1461
-
-
Batten, S.R.1
Robson, R.2
-
4
-
-
0141656703
-
-
(d) Leininger, S.; Olenyuk, B.; Stang, P. J. Chem. Rev. 2000, 100, 853.
-
(2000)
Chem. Rev
, vol.100
, pp. 853
-
-
Leininger, S.1
Olenyuk, B.2
Stang, P.J.3
-
5
-
-
0034830906
-
-
(e) Eddaoudi, M.; Moler, D. B.; Li, H. L.; Chen, B. L.; Reineke, T. M.; O'Keeffe, M.; Yaghi, O. M. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 319.
-
(2001)
Acc. Chem. Res
, vol.34
, pp. 319
-
-
Eddaoudi, M.1
Moler, D.B.2
Li, H.L.3
Chen, B.L.4
Reineke, T.M.5
O'Keeffe, M.6
Yaghi, O.M.7
-
6
-
-
0347760137
-
-
(f) Dybtsev, D. N.; Chun, H.; Yoon, S. H.; Kim, D.; Kim, K. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 32.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc
, vol.126
, pp. 32
-
-
Dybtsev, D.N.1
Chun, H.2
Yoon, S.H.3
Kim, D.4
Kim, K.5
-
9
-
-
0034830906
-
-
(c) Eddaoudi, M.; Moler, D. B.; Li, H. L.; Chen, B. L.; Reineke, T. M.; O'Keeffe, M.; Yaghi, O. M. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 319.
-
(2001)
Acc. Chem. Res
, vol.34
, pp. 319
-
-
Eddaoudi, M.1
Moler, D.B.2
Li, H.L.3
Chen, B.L.4
Reineke, T.M.5
O'Keeffe, M.6
Yaghi, O.M.7
-
10
-
-
0032538576
-
-
(d) Abrahams, B. F.; Jackson, P. A.; Roboson, R. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 2656.
-
(1998)
Angew. Chem., Int. Ed
, vol.37
, pp. 2656
-
-
Abrahams, B.F.1
Jackson, P.A.2
Roboson, R.3
-
11
-
-
0038031636
-
-
(e) Abrahams, B. F.; Moylan, M.; Orchard, D.; Robson, R. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 1848.
-
(2003)
Angew. Chem., Int. Ed
, vol.42
, pp. 1848
-
-
Abrahams, B.F.1
Moylan, M.2
Orchard, D.3
Robson, R.4
-
13
-
-
4444275259
-
-
(g) Kitagawa, S.; Kitaura, R.; Noro, Angew. Cnem., Int. Ed. 2004, 45, 2334.
-
(2004)
Int. Ed
, vol.45
, pp. 2334
-
-
Kitagawa, S.1
Kitaura, R.2
Noro3
Angew4
Cnem5
-
16
-
-
0030712048
-
-
(a) Hoskins, B. F.; Robson, R.; Slizys, D. A. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1997, 56, 2336.
-
(1997)
Angew. Chem., Int. Ed. Engl
, vol.56
, pp. 2336
-
-
Hoskins, B.F.1
Robson, R.2
Slizys, D.A.3
-
17
-
-
0030890893
-
-
(b) Hoskins, B. F.; Robson, R.; Slizys, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 2952.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc
, vol.119
, pp. 2952
-
-
Hoskins, B.F.1
Robson, R.2
Slizys, D.A.3
-
18
-
-
31144443022
-
-
(a) Garcia, Y.; Bravic, G.; Gieck, C; Chasseau, D.; Tremel, W.; Gultlich, P. Inorg. Chem. 2005, 44, 9723.
-
(2005)
Inorg. Chem
, vol.44
, pp. 9723
-
-
Garcia, Y.1
Bravic, G.2
Gieck, C.3
Chasseau, D.4
Tremel, W.5
Gultlich, P.6
-
19
-
-
61449105738
-
-
(b) Li, B. L.; Zhu, X.; Zhou, J. H.; Peng, Y. F.; Zhang, Y. Polyhedron 2004, 233, 133.
-
(2004)
Polyhedron
, vol.233
, pp. 133
-
-
Li, B.L.1
Zhu, X.2
Zhou, J.H.3
Peng, Y.F.4
Zhang, Y.5
-
20
-
-
2442672856
-
-
(c) Meng, X. R.; Song, Y. L.; Hou, H. W.; Han, H. Y.; Xiao, B.; Fan, Y. T.; Zhu, Y Inorg. Chem. 2004, 43, 3528.
-
(2004)
Inorg. Chem
, vol.43
, pp. 3528
-
-
Meng, X.R.1
Song, Y.L.2
Hou, H.W.3
Han, H.Y.4
Xiao, B.5
Fan, Y.T.6
Zhu, Y.7
-
21
-
-
33749001990
-
-
(a) Meng, W. L.; Liu, G. X.; Okamura, T.; Kawaguchi, H.; Zhang, Z. H.; Sun, W. Y.; Ueyama, N. Cryst. Growth Des. 2006, 6, 2092.
-
(2006)
Cryst. Growth Des
, vol.6
, pp. 2092
-
-
Meng, W.L.1
Liu, G.X.2
Okamura, T.3
Kawaguchi, H.4
Zhang, Z.H.5
Sun, W.Y.6
Ueyama, N.7
-
22
-
-
0034756161
-
-
(b) Sui, B.; Fan, J.; Okamura, T.; Sun, W. Y.; Ueyama, N. New J. Chem. 2001, 25, 1379.
-
(2001)
New J. Chem
, vol.25
, pp. 1379
-
-
Sui, B.1
Fan, J.2
Okamura, T.3
Sun, W.Y.4
Ueyama, N.5
-
23
-
-
2542525261
-
-
(c) Fan, J.; Sun, W. Y.; Okamura, T.; Zheng, Y. Q.; Sui, B.; Tang, W. X.; Ueyama, N. Cryst. Growth Des. 2004, 4, 579.
-
(2004)
Cryst. Growth Des
, vol.4
, pp. 579
-
-
Fan, J.1
Sun, W.Y.2
Okamura, T.3
Zheng, Y.Q.4
Sui, B.5
Tang, W.X.6
Ueyama, N.7
-
25
-
-
12844250543
-
-
(b) Carlucce, L.; Ciani, G.; Proserpio, D. M. Cryst. Growth Des. 2005, 5, 37.
-
(2005)
Cryst. Growth Des
, vol.5
, pp. 37
-
-
Carlucce, L.1
Ciani, G.2
Proserpio, D.M.3
-
26
-
-
12844257770
-
-
(c) Carlucce, L.; Ciani, G.; Proserpio, D. M.; Spadacini, L CrystEngComm 2004, 6, 96.
-
(2004)
CrystEngComm
, vol.6
, pp. 96
-
-
Carlucce, L.1
Ciani, G.2
Proserpio, D.M.3
Spadacini, L.4
-
27
-
-
16244384487
-
-
(d) Gao, E. Q.; Xu, Y. X.; Yan, C. H. CrystEngComm 2004, 6, 298.
-
(2004)
CrystEngComm
, vol.6
, pp. 298
-
-
Gao, E.Q.1
Xu, Y.X.2
Yan, C.H.3
-
28
-
-
0033958066
-
-
(a) Van Albada, G. A.; Guijt, R. C.; Haasnoot, J. G.; Lutz, M.; Spek, A. L.; Reedijk, J. Eur. J. Inorg. Chem. 2000, 121.
-
(2000)
Eur. J. Inorg. Chem
, pp. 121
-
-
Van Albada, G.A.1
Guijt, R.C.2
Haasnoot, J.G.3
Lutz, M.4
Spek, A.L.5
Reedijk, J.6
-
29
-
-
0036447363
-
-
(b) Zhao, Q. H.; Li, H. F.; Wang, X. F.; Chen, Z. D. New J. Chem. 2002, 26, 1709.
-
(2002)
New J. Chem
, vol.26
, pp. 1709
-
-
Zhao, Q.H.1
Li, H.F.2
Wang, X.F.3
Chen, Z.D.4
-
30
-
-
0037027237
-
-
(c) Zhao, Q. H.; Li, H. F.; Wang, X. F.; Chen, Z. D. Chem. Lett. 2002, 988.
-
(2002)
Chem. Lett
, pp. 988
-
-
Zhao, Q.H.1
Li, H.F.2
Wang, X.F.3
Chen, Z.D.4
-
31
-
-
34147154919
-
-
(a) Hu, D. H.; Shen, G. X.; Shen, H.; Huang, W.; Gou, S. H. Inorg. Chim. Acta 2007, 360, 2447.
-
(2007)
Inorg. Chim. Acta
, vol.360
, pp. 2447
-
-
Hu, D.H.1
Shen, G.X.2
Shen, H.3
Huang, W.4
Gou, S.H.5
-
32
-
-
4744348379
-
-
(b) Zhu, H. B.; Huang, C. H.; Huang, W.; Gou, S. H. Inorg. Chem. Commun. 2004, 1095.
-
(2004)
Inorg. Chem. Commun
, pp. 1095
-
-
Zhu, H.B.1
Huang, C.H.2
Huang, W.3
Gou, S.H.4
-
33
-
-
38649088241
-
-
DOI: 10.1016/ j.molstruc.2007.03.024
-
(c) Chu, Z. L.; Huang, W.; Zhu, H. B.; Gou, S. H., J. Mol. Struct., DOI: 10.1016/ j.molstruc.2007.03.024.
-
J. Mol. Struct
-
-
Chu, Z.L.1
Huang, W.2
Zhu, H.B.3
Gou, S.H.4
-
34
-
-
0003905274
-
-
Siemens Analytical X-ray Systems, Inc, Madison, Wisconsin, USA
-
Siemens, SMART and SAINT. Area Detector Control and Integration Software; Siemens Analytical X-ray Systems, Inc.: Madison, Wisconsin, USA, 1996.
-
(1996)
Siemens, SMART and SAINT. Area Detector Control and Integration Software
-
-
-
36
-
-
61449267545
-
-
Siemens Analytical X-Ray Systems, Inc, Madison, Wisconsin, USA
-
Siemens, SHELXTL, Version 6 Reference Manual; Siemens Analytical X-Ray Systems, Inc.: Madison, Wisconsin, USA, 2000.
-
(2000)
Siemens, SHELXTL, Version 6 Reference Manual
-
-
-
38
-
-
0008582231
-
-
(b) Roesky, H. W.; Anhaus, J.; Sheldrick, W. S. Inorg. Chem. 1984, 25, 75.
-
(1984)
Inorg. Chem
, vol.25
, pp. 75
-
-
Roesky, H.W.1
Anhaus, J.2
Sheldrick, W.S.3
-
41
-
-
0002197112
-
-
Mondal, N.; Saha, M. K.; Mitra, S.; Gramlich, V. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 2000, 3218.
-
(2000)
J. Chem. Soc., Dalton Trans
, pp. 3218
-
-
Mondal, N.1
Saha, M.K.2
Mitra, S.3
Gramlich, V.4
|