Influence of polydispersity on the absorbance spectra of ZnO nanoparticles

Wuli Huaxue Xuebao/ Acta Physico - Chimica Sinica

Volumn 23, Issue 1, 2007, Pages 59-63

  Hu, Ze Shan ^a   Fu, Min ^a   Wei, Xiao Ping ^a   Shao, Ming Hao ^a  

^a CHONGQING TECHNOLOGY AND BUSINESS UNIVERSITY   (China)

Author keywords

Absorption edge; Band gap; Nanoparticles; Numerical imitation; UV absorption; ZnO

Indexed keywords

EID: 58149141221     PISSN: 10006818     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (39)

1. Gal, D.; Hodes, G.; Lincot, D.; Schock, H. W. Thin Solid Films, 2000, 361: 79
2. Osborne, J. J.; Roberts, G. T.; Chambers, A. R.; Gabriel, S. B. Sensors and Actuators B-Chemical, 2000, 63(1-2): 55
3. Furtunato, E.; Malik, A.; Martins, R. J. Non. Cryst. Solids, 1998, 227-230(2): 1092
4. Bachir, S.; Sandouly, C.; Kossanyi, J.; Ronfard-Haret, J. C. J. Phys. Chem. Solids, 1996, 57(12): 1869
5. Liu, J.; Zhang, Y.; Qi, J. J.; He, J.; Huang, Y. H.; Zhang, X. M. Acta Phys. -Chim. Sin., 2006, 22: 38
6. Zhang, S. C.; Li, C. H.; Li, X. G. Acta Phys. -Chim. Sin., 2004, 20: 902
7. Peng, F.; Chen, S. H.; Zhang, L.; Wang, H. J.; Xie, Z. Y. Acta Phys. -Chim. Sin., 2005, 21: 944
8. Lin, Y. H.; Tang, Z. L.; Zhang, Z. T.; Yuan, F. L.; Ling, Y. B.; Lee, J. L.; Huang, S. L. J. Am. Ceram. Soc., 2000, 83(11): 2869
9. Draou, K.; Bellakhal, N.; Cheron, B. G.; Brisset, J. L. Mater. Chem. Phys., 1997, 51(2): 142
10. Ismail, B.; Abaab, M.; Rezig, B. Thin Solid Films, 2001, 383(1-2): 92
11. Wang, J. M.; Zhang, C.; Zhang, L.; Zhang, J. Q.; Cao, C. N. Mater. Chem. Phys., 2001, 70(2): 254
12. Fathollahi, V.; Amini, M. M. Mater. Lett., 2001, 50(4): 235
13. Chen, J. X.; Huang, B. Y.; Zhao, R. R. Trans. Nonferrous Met. Soc. China, 2001, 11(1): 154
14. Ohyama, M.; Kozuka, H.; Yoko, T. J. Am. Ceram. Soc., 1998, 81 (6): 1622
15. Herrero, J.; Gutierrez, M. T.; Guillen, C.; Dona, J. M.; Martinez, M. A.; Chaparro, A. M.; Bayon, R. Thin Solid Films, 2000, 361: 28
16. Kang, Y. C.; Park, S. B. Mater. Lett., 1999, 40: 129
17. Takehana, M.; Nishino, T.; Sugawara, K.; Sugawara, T. Mater. Sci. Eng. B: Solid State Adv. Technol., 1996, B41(1): 186
18. Bahnemann, D. W.; Kormann, C.; Hoffmann, M. R. J. Phys. Chem., 1987, 91: 3789
19. Wang, L.; Muhammed, M. J. Mater. Chem., 1999, 9: 2871
20. Haase, M.; Weller, H.; Henglein, A. J. Phys. Chem., 1988, 92: 482
21. Lifshitz, I. M.; Slyozov, V. V. J. Phys. Chem. Solids, 1961, 19: 35
22. Wagner, C. Z. Elecktrochem., 1961, 65: 581
23. Hu, Z. S.; Ramirez, D. J. E.; Cervera, B. E. H.; Oskam, G.; Searson, P. C. J. Phys. Chem. B, 2005, 109: 11209
24. Hu, Z. S.; Santos, J. F. H.; Oskam, G.; Searson, P. C. J. Colloid Interf. Sci., 2005, 288: 313
25. Hu, Z. S.; Oskam, G.; Searson, P. C. J. Colloid Interf. Sci., 2003, 263(2): 454
26. Hu, Z. S.; Oskam, G.; Penn, R. L.; Peski, N.; Searson, P. C. J. Phys. Chem. B, 2003, 107(14): 3124
27. Oskam, G.; Hu, Z. S.; Penn, R. L.; Searson, P. C. Phys. Rev. E, 2002, 66(1): 011403
28. Pesika, N. S.; Hu, Z. S.; Stebe, K. J.; Searson, P. C. J. Phys. Chem. B, 2002, 106(28): 6985
29. Brus, L. E. J. Chem. Phys., 1983, 79(11): 5566
30. Brus, L. E. J. Chem. Phys., 1984, 80(9): 4403
31. Brus, L. E. Nanostruct. Mater., 1992, 1: 71
32. Steigerwald, M. L.; Brus, L. E. Acc. Chem. Res., 1990, 23: 183
33. Wilson, W. L.; Szajowski, P. F.; Brus, L. E. Science, 1993, 262: 1242
34. Ramaniah, L. M.; Nair, S. V. Physica B, 1995, 212: 245
35. Ardell, A. J. Met. Trans., 1970, (1): 525
36. Brus, L. E. J. Phys. Chem., 1986, 90: 2555
37. Johnson, E. J.; Willardson, R. K.; Beer, A. C. Semiconductors and semimetals. Vol.3. New York: Academic Press, 1967: Ch.6
38. Sze, S. M. Physics of semiconductor device. 2nd ed. New York: John Wiley & Sons, 1981: 40
39. Tadao, S. Advances in Colloid and Interface Science, 1987, 28: 65