Characterization of individual nano-objects by secondary ion mass spectrometry

Analytical Chemistry

Volumn 80, Issue 23, 2008, Pages 9052-9057

  Pinnick, Veronica ^a   Rajagopalachary, Sidhartharaja ^a   Verkhoturov, Stanislav V ^a   Kaledin, Leonid ^b   Schweikert, Emile A ^a  

^a TEXAS A AND M UNIVERSITY   (United States)

^b Argonide Corporation   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BULK SAMPLES; KILOELECTRONVOLT; NANO OBJECTS; NANOPARTICLE SIZES; PROJECTILE ENERGIES; PROJECTILE IMPACTS; SAMPLE VOLUMES; SECONDARY IONS; SI CLUSTERS; SMALL CLUSTERS; X-RAY DIFFRACTIONS;

ALUMINA; ALUMINUM; BALLISTICS; CRYSTAL WHISKERS; HIGH PERFORMANCE LIQUID CHROMATOGRAPHY; IONS; LOUDSPEAKERS; MASS SPECTROMETERS; MASS SPECTROMETRY; NANOWHISKERS; PROJECTILES; SECONDARY EMISSION; SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY; SPECTROMETERS; SPECTROMETRY; SPECTRUM ANALYSIS;

GOLD;

ALUMINUM; CRYSTALLIN; GLASS FIBER; GOLD NANOPARTICLE; NANOMATERIAL; NANOPARTICLE;

ARTICLE; ENERGY; MASS SPECTROMETRY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; VIBRISSA; X RAY DIFFRACTION;

ALUMINUM HYDROXIDE; ALUMINUM OXIDE; NANOSTRUCTURES; SPECTROMETRY, MASS, SECONDARY ION;

EID: 57449107281     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac8014615     Document Type: Article

References (33)

1. McDonnell, L. A.; Heeren, R. M. A. Mass Spectrom. Rev. 2007, 26, 606-643.
2. Li, Z.; Verkhoturov, S. V.; Schweikert, E. A. Anal. Chem. 2006, 78, 7410-7416.
3. Mahoney, C. M.; Fahey, A. J.; Belu, A. M. Anal. Chem. 2008, 80, 624-632.
4. Lechene, C.; Hillion, F.; McMahon, G.; Benson, D.; Kleinfeld, A.; Kampf, J. P.; Distel, D.; Luyten, Y.; Bonventre, J.; Hentschel, D.; Park, K.; Ito, S.; Schwartz, M.; Benichou, G.; Slodzian, G. J. Biol. 2006, 5, 20-50.
5. Gillen, G.; Fahey, A.; Wagner, M.; Mahoney, C. Appl. Surf. Sci. 2006, 252, 6537-6541.
6. Hoppe, P. Appl. Surf. Sci. 2006, 252, 7102-7106.
7. Rajagopalachary, S.; Verkhoturov, S. V.; Schweikert, E. A. Nano Lett. 2008, 8, 1076-1080.
8. Kim, Y. P.; Oh, E.; Hong, M. Y.; Lee, D.; Han, M. K.; Shon, H. K.; Moon, D. W.; Kim, H. S.; Lee, T. G. Anal. Chem. 2006, 78, 1913-1920.
9. Konarski, P.; Iwanejko, I.; Mierzejewska, A. Appl. Surf. Sci. 2003, 203-204, 757-761.
10. Marcus, A.; Winograd, N. Anal. Chem. 2005, 78, 141-148.
11. Kraft, M. L.; Weber, P. K.; Longo, M. L.; Hutcheon, I. D.; Boxer, S. G. Science 2006, 313, 1948-1951.
12. Fletcher, J. S.; Henderson, A.; Jarvis, R. M.; Lockyer, N. P.; Vickerman, J. C.; Goodacre, R. Appl. Surf. Sci. 2006, 252, 6869-6874.
13. Delcorte, A.; Garrison, B. J. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 15312-15324.
14. Li, Z.; Verkhoturov, S. V.; Locklear, J. E.; Schweikert, E. A. Int. J. Mass Spectrom. 2008, 269, 112-117.
15. SRIM calculation, SRIM-2008.03.
16. Della-Negra, S. Institut de Physique Nucleaire d'Orsay. Personal communication, 2008.
17. Farizon, B.; Farizon, M.; Gaillard, M. J.; Genre, R.; Louc, S.; Martin, J.; Buchet, J. P.; Carré, M.; Senn, G.; Scheier, P.; Märk, T. D. Int. J. Mass Spectrom. 1997, 164, 225-230.
18. Rohmund, F.; Campbell, E. E. B.; Knospe, O.; Seifert, G.; Schmidt, R. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 3289-3292.
19. Reinkoster, A.; Siegmann, B.; Werner, U.; Huber, B. A.; Lutz, H. O. J. Phys. B: At., Mol. Opt. Phys. 2002, 35, 4989-4997.
20. Tepper, F.; Kaledin, L. BioProcess Int. 2006, 4, 64-68.
21. Rickman, R. D.; Verkhoturov, S. V.; Hager, G. J.; Schweikert, E. A.; Bennett, J. A. Int. J. Mass Spectrom. 2005, 241, 57-61.
22. Benguerba, M.; Brunelle, A.; Della-Negra, S.; Depauw, J.; Joret, H.; Le Beyec, Y.; Blain, M.; Schweikert, E. A.; Assayag, G. B.; Sudraud, P. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1991, 62, 8-22.
23. Desai, S. R.; Wu, H.; Wang, L.-S. Int. J. Mass Spectrom. 1996, 159, 75-80.
24. Guinan, M. J. Nucl. Mater. 1974, 53, 171-178.
25. Shulga, V. I.; Vicanek, M.; Sigmund, P. Phys. Rev. A 1989, 39, 3360-3372.
26. Guillermier, C.; Della-Negra, S.; Schweikert, E. A.; Dunlop, A.; Rizza, G. Int. J. Mass Spectrom. 2008, 275, 86-90.
27. Verdier, S.; Metson, J. B.; Dunlop, H. M. J. Mass Spectrom. 2007, 42, 11-19.
28. Gianotto, A. K.; Rawlinson, J. W.; Cossel, K. C.; Olson, J. E.; Appelhans, A. D.; Groenewold, G. S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8275-8283.
29. Groenewold, G. S.; Kessinger, G. F.; Scott, J. R.; Gianotto, A. K.; Appelhans, A. D.; Delmore, J. E. Anal. Chem. 2001, 73, 226-232.
30. Plog, C.; Wiedmann, L.; Benninghoven, A. Surf. Sci. 1977, 67, 565-580.
31. Liu, Z.-Y.; Wang, C.-R.; Huang, R.-B.; Zheng, L.-S. Int. J. Mass Spectrom. 1995, 141, 201-208.
32. Park, M. A.; Gibson, K. A.; Quinones, L.; Schweikert, E. A. Science 1990, 248, 988-990.
33. Rickman, R. D.; Verkhoturov, S. V.; Hager, G. J.; Schweikert, E. A. Int. J. Mass Spectrom. 2005, 245, 48-52.