-
1
-
-
18044387790
-
-
Burda, C.; Chen, X. B.; Narayanan, R.; El-Sayed, M. A. Chem. Rev. 2005, 105, 1025.
-
(2005)
Chem. Rev
, vol.105
, pp. 1025
-
-
Burda, C.1
Chen, X.B.2
Narayanan, R.3
El-Sayed, M.A.4
-
2
-
-
18844406538
-
-
Rodriguez-Gonzalez, B.; Burrows, A.; Watanabe, M.; Kiely, C. J.; Marzan, L. M. L. J. Mater. Chem. 2005, 15, 1755.
-
(2005)
J. Mater. Chem
, vol.15
, pp. 1755
-
-
Rodriguez-Gonzalez, B.1
Burrows, A.2
Watanabe, M.3
Kiely, C.J.4
Marzan, L.M.L.5
-
4
-
-
4644291833
-
-
Li, H. X.; Rothberg, L. Proc. Natl. Acad. Sci., U.S.A. 2004, 101, 14036.
-
(2004)
Proc. Natl. Acad. Sci., U.S.A
, vol.101
, pp. 14036
-
-
Li, H.X.1
Rothberg, L.2
-
6
-
-
0032634918
-
-
Wadayama, T.; Suzuki, O.; Takeuchi, K.; Seki, H.; Tanabe, T.; Suzuki, Y.; Hatta, A. Appl. Phys. A 1999, 69, 77.
-
(1999)
Appl. Phys. A
, vol.69
, pp. 77
-
-
Wadayama, T.1
Suzuki, O.2
Takeuchi, K.3
Seki, H.4
Tanabe, T.5
Suzuki, Y.6
Hatta, A.7
-
7
-
-
0032795810
-
-
Tarcha, P. J.; DeSaja-Gonzalez, J.; Rodriguez-Llorente, S.; Aroca, R. Appl. Spectrosc. 1999, 53, 43.
-
(1999)
Appl. Spectrosc
, vol.53
, pp. 43
-
-
Tarcha, P.J.1
DeSaja-Gonzalez, J.2
Rodriguez-Llorente, S.3
Aroca, R.4
-
8
-
-
0033902536
-
-
Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P.; Johnson, S. A.; Maroni, V. A. Appl. Spectrosc. 2000, 54, 371.
-
(2000)
Appl. Spectrosc
, vol.54
, pp. 371
-
-
Jensen, T.R.1
Van Duyne, R.P.2
Johnson, S.A.3
Maroni, V.A.4
-
9
-
-
0001372498
-
-
Pipino, A. C. R.; VanDuyne, R. P.; Schatz, G. C. Phys. Rev. B 1996, 53, 4162.
-
(1996)
Phys. Rev. B
, vol.53
, pp. 4162
-
-
Pipino, A.C.R.1
VanDuyne, R.P.2
Schatz, G.C.3
-
10
-
-
33644532226
-
-
Yang, Y.; Nogami, M.; Shi, J. L.; Chen, H. R.; Ma, G. H.; Tang, S. H. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 081110.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
, pp. 081110
-
-
Yang, Y.1
Nogami, M.2
Shi, J.L.3
Chen, H.R.4
Ma, G.H.5
Tang, S.H.6
-
11
-
-
35948935216
-
-
Zheng, X. L.; Xu, W. Q.; Corrector, C.; Xu, S. P.; An, J.; Zhao, B.; Lombardi, J. R. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 14962.
-
(2007)
J. Phys. Chem. C
, vol.111
, pp. 14962
-
-
Zheng, X.L.1
Xu, W.Q.2
Corrector, C.3
Xu, S.P.4
An, J.5
Zhao, B.6
Lombardi, J.R.7
-
12
-
-
30344461020
-
-
Bouhelier, A.; Bachelot, R.; Lerondel, G.; Kostcheev, S.; Royer, P.; Wiederrecht, G. P. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 267405.
-
(2005)
Phys. Rev. Lett
, vol.95
, pp. 267405
-
-
Bouhelier, A.1
Bachelot, R.2
Lerondel, G.3
Kostcheev, S.4
Royer, P.5
Wiederrecht, G.P.6
-
13
-
-
0042968726
-
-
Barnes, W. L.; Dereux, A.; Ebbesen, T. W. Nature 2003, 424, 824.
-
(2003)
Nature
, vol.424
, pp. 824
-
-
Barnes, W.L.1
Dereux, A.2
Ebbesen, T.W.3
-
14
-
-
2342551066
-
-
Whelan, A. M.; Brennan, M. E.; Blau, W. J.; Kelly, J. M. J. Nanosci. Nanotech. 2004, 4, 66.
-
(2004)
J. Nanosci. Nanotech
, vol.4
, pp. 66
-
-
Whelan, A.M.1
Brennan, M.E.2
Blau, W.J.3
Kelly, J.M.4
-
15
-
-
28044466445
-
-
Alvarez-Puebla, R. A.; Ross, D. J.; Nazri, G. A.; Aroca, R. F. Langmuir 2005, 21, 10504.
-
(2005)
Langmuir
, vol.21
, pp. 10504
-
-
Alvarez-Puebla, R.A.1
Ross, D.J.2
Nazri, G.A.3
Aroca, R.F.4
-
16
-
-
34548663709
-
-
Gao, J. N.; Ren, X. L.; Chen, D.; Tang, F. Q.; Ren, J. Script. Mater. 2007, 57, 687.
-
(2007)
Script. Mater
, vol.57
, pp. 687
-
-
Gao, J.N.1
Ren, X.L.2
Chen, D.3
Tang, F.Q.4
Ren, J.5
-
17
-
-
18444375558
-
-
Liang, H. P.; Wan, L. J.; Bai, C. L.; Jiang, L. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 7795.
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 7795
-
-
Liang, H.P.1
Wan, L.J.2
Bai, C.L.3
Jiang, L.4
-
19
-
-
0034321104
-
-
Jensen, T. R.; Malinsky, M. D.; Haynes, C. L.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 10549.
-
(2000)
J. Phys. Chem. B
, vol.104
, pp. 10549
-
-
Jensen, T.R.1
Malinsky, M.D.2
Haynes, C.L.3
Van Duyne, R.P.4
-
20
-
-
29144455813
-
-
Hicks, E. M.; Zhang, X. Y.; Zou, S. L.; Lyandres, O.; Spears, K. G.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 22351.
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 22351
-
-
Hicks, E.M.1
Zhang, X.Y.2
Zou, S.L.3
Lyandres, O.4
Spears, K.G.5
Schatz, G.C.6
Van Duyne, R.P.7
-
21
-
-
30344434610
-
-
De Jesus, M. A.; Giesfeldt, K. S.; Oran, J. M.; Abu-Hatab, N. A.; Lavrik, N. V.; Sepaniak, M. J. Appl. Spectrosc. 2005, 59, 1501.
-
(2005)
Appl. Spectrosc
, vol.59
, pp. 1501
-
-
De Jesus, M.A.1
Giesfeldt, K.S.2
Oran, J.M.3
Abu-Hatab, N.A.4
Lavrik, N.V.5
Sepaniak, M.J.6
-
22
-
-
34249676219
-
-
Alvarez-Puebla, R.; Cui, B.; Bravo-Vasquez, J. P.; Veres, T.; Fenniri, H. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 6720.
-
(2007)
J. Phys. Chem. C
, vol.111
, pp. 6720
-
-
Alvarez-Puebla, R.1
Cui, B.2
Bravo-Vasquez, J.P.3
Veres, T.4
Fenniri, H.5
-
23
-
-
18744376376
-
-
Gupta, R.; Dyer, M. J.; Weimer, W. A. J. Appl. Phys. 2002, 92, 5264.
-
(2002)
J. Appl. Phys
, vol.92
, pp. 5264
-
-
Gupta, R.1
Dyer, M.J.2
Weimer, W.A.3
-
24
-
-
36849022009
-
-
You, J. B.; Zhang, X. W.; Fan, Y. M.; Qu, S.; Chen, N. F. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 231907.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett
, vol.91
, pp. 231907
-
-
You, J.B.1
Zhang, X.W.2
Fan, Y.M.3
Qu, S.4
Chen, N.F.5
-
25
-
-
56049121393
-
-
Zhao, Y. P.; W., G.-C., and Lu, T.-M. Characterization of Amorphous and Crystalline Rough Surface-Principles and Applications; Academic Press, 2001.
-
Zhao, Y. P.; W., G.-C., and Lu, T.-M. Characterization of Amorphous and Crystalline Rough Surface-Principles and Applications; Academic Press, 2001.
-
-
-
-
28
-
-
35448982769
-
-
Barbillon, G.; Bijeon, J. L.; Plain, J.; de la Chapelle, M. L.; Adam, P. M.; Royer, P. Surf. Sci. 2007, 601, 5057.
-
(2007)
Surf. Sci
, vol.601
, pp. 5057
-
-
Barbillon, G.1
Bijeon, J.L.2
Plain, J.3
de la Chapelle, M.L.4
Adam, P.M.5
Royer, P.6
-
29
-
-
34250187414
-
-
Gish, D. A.; Nsiah, F.; McDermott, M. T.; Brett, M. J. Anal. Chem. 2007, 79, 4228.
-
(2007)
Anal. Chem
, vol.79
, pp. 4228
-
-
Gish, D.A.1
Nsiah, F.2
McDermott, M.T.3
Brett, M.J.4
-
30
-
-
0000311569
-
-
Zhao, Y. P.; Ye, D. X.; Wang, G. C.; Lu, T. M. Nano Lett. 2002, 2, 351.
-
(2002)
Nano Lett
, vol.2
, pp. 351
-
-
Zhao, Y.P.1
Ye, D.X.2
Wang, G.C.3
Lu, T.M.4
-
31
-
-
37549035917
-
-
Barbillon, G.; Bijeon, J. L.; Plain, J.; de la Chapelle, M. L.; Adam, P. M.; Royer, P. Gold Bull. 2007, 40, 240.
-
(2007)
Gold Bull
, vol.40
, pp. 240
-
-
Barbillon, G.1
Bijeon, J.L.2
Plain, J.3
de la Chapelle, M.L.4
Adam, P.M.5
Royer, P.6
-
32
-
-
34248639588
-
-
Endo, T.; Kerman, K.; Nagatani, N.; Tamiya, E. J. Phys.: Condens. Matter 2007, 19, 21520.
-
(2007)
J. Phys.: Condens. Matter
, vol.19
, pp. 21520
-
-
Endo, T.1
Kerman, K.2
Nagatani, N.3
Tamiya, E.4
-
33
-
-
34250193568
-
-
Hiep, H. M.; Endo, T.; Kerman, K.; Chikae, M.; Kim, D. K.; Yamamura, S.; Takamura, Y.; Tamiya, E. Sci. Technol. Adv. Mater. 2007, 8, 331.
-
(2007)
Sci. Technol. Adv. Mater
, vol.8
, pp. 331
-
-
Hiep, H.M.1
Endo, T.2
Kerman, K.3
Chikae, M.4
Kim, D.K.5
Yamamura, S.6
Takamura, Y.7
Tamiya, E.8
-
34
-
-
34248344634
-
-
Shen, X. W.; Huang, C. Z.; Li, Y. F. Talanta 2007, 72, 1432.
-
(2007)
Talanta
, vol.72
, pp. 1432
-
-
Shen, X.W.1
Huang, C.Z.2
Li, Y.F.3
-
35
-
-
34547749385
-
-
Cheng, C. S.; Chen, Y. Q.; Lu, C. J. Talanta 2007, 73, 358.
-
(2007)
J. Talanta
, vol.73
, pp. 358
-
-
Cheng, C.S.1
Chen, Y.Q.2
Lu, C.3
-
36
-
-
0032606530
-
-
Campbell, T.; Kalia, R. K.; Nakano, A.; Vashishta, P.; Ogata, S.; Rodgers, S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4866.
-
(1999)
Phys. Rev. Lett
, vol.82
, pp. 4866
-
-
Campbell, T.1
Kalia, R.K.2
Nakano, A.3
Vashishta, P.4
Ogata, S.5
Rodgers, S.6
-
37
-
-
1542785163
-
-
Amin, N. K.; Nosier, S. A.; Hassan, M. S. M.; Sedahmed, G. H. Chem. Eng. Technol. 2004, 27, 146.
-
(2004)
Chem. Eng. Technol
, vol.27
, pp. 146
-
-
Amin, N.K.1
Nosier, S.A.2
Hassan, M.S.M.3
Sedahmed, G.H.4
-
38
-
-
33749843984
-
-
Rai, A.; Park, K.; Zhou, L.; Zachariah, M. R. Combust. Theor. Modelling 2006, 10, 843.
-
(2006)
Combust. Theor. Modelling
, vol.10
, pp. 843
-
-
Rai, A.1
Park, K.2
Zhou, L.3
Zachariah, M.R.4
-
39
-
-
34547492236
-
-
Arai, T.; Kumar, P. K. R.; Rockstuhl, C.; Awazu, K.; Tominaga, J. J. Optics A 2007, 9, 699.
-
(2007)
J. Optics A
, vol.9
, pp. 699
-
-
Arai, T.1
Kumar, P.K.R.2
Rockstuhl, C.3
Awazu, K.4
Tominaga, J.5
|