Study of the optical properties of Bi3.15Nd 0.85Ti3O12 ferroelectric thin films

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 53, Issue 4 PART 1, 2008, Pages 2299-2302

  Chen, Yi Ming ^a   Zhang, Rong Jun ^a   Zheng, Yu Xiang ^a   Mao, Peng Hui ^a   Lu, Wei Jie ^a   Chen, Liang Yao ^a  

^a FUDAN UNIVERSITY   (China)

Author keywords

Bi3.15Nd0.85Ti3O12 ferroelectric thin film; Optical property; Spectroscopic ellipsometry

Indexed keywords

EID: 55949104379     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.53.2299     Document Type: Article

References (14)

1. B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee and W. Jo, Nature 401, 682 (1999).
2. U. Chon, H. M. Jang, M. G. Kim and C. H. Chang, Phys. Rev. Lett. 89, 087601 (2002).
3. S. T. Zhang, X. J. Zhang, H. W. Cheng, Y. F. Chen, Z. G. Liu, N. B. Ming, X. B. Hu and J. Y. Wang, Appl. Phys. Lett. 83, 4378 (2003).
4. A. Garg, Z. H. Barber, M. Dawber, J. F. Scott, A. Snedden and P. Lightfoot, Appl. Phys. Lett. 83, 2414 (2003).
5. C. J. Lu, T. Qiao, Y. J. Qi, X. Q. Chen and J. S. Zhu, Appl. Phys. Lett. 87, 222901 (2005).
6. R. J. Zhang, L. Y. Chen, S. Y. Wang, D. L. Qian, Y. X. Zheng, S. M. Zhou, Y. M. Yang and N. Dai, J. Appl. Phys. 85, 5118 (1999).
7. S. Z. Feng, R. J. Zhang, Y. X. Zheng, J. Li, P. H. Mao, X. F. Li and L. Y. Chen, J. Korean Phys. Soc. 51, 1593 (2007).
8. Z. G. Hu, G. S. Wang, Z. M. Huang, X. J. Meng, F. W. Shi and J. H. Chu, J. Infrared Mill. Waves. 22, 272 (2003).
9. R. A. Azzam and N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light (North-Holland Publishing Company, Amsterdam, 1977).
10. L. Y. Chen, X. W. Feng, Y. Su, H. Z. Ma and Y. H. Qian, Appl. Opt. 33, 1299 (1994).
11. G. E. Jellison, Jr., M. F. Chisholm and S. M. Gorbatkin, Appl. Phys. Lett. 62, 3348 (1993).
12. A. R. Forouhi and I. Bloomer, Phys. Rev. B. 38, 1865 (1988).
13. M. N. Kamalasanan, S. Chandra, P. C. Joshi and A. Mansingh, Appl. Phys. Lett. 59, 2547 (1991).
14. H. H. Gu, D. H. Bao and S. M .Wang, Thin Solid Films. 283, 81 (1996).