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Volumn 4, Issue 6, 2004, Pages 618-620

Structural characterization of Ga-doped Mg0.1Zn0.9O layers grown on ZnO/α-Al2O3 templates by P-MBE

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MgZnO; Molecular beam epitaxy (MBE); Transmission electron microscopy (TEM)

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EID: 5444260734     PISSN: 15671739     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.cap.2004.01.032     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.