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Volumn 77, Issue 2, 2008, Pages

Oxygen vacancy induced ferromagnetism in V2O5-x

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Ab initio calculation; Dilute magnetic semiconductor; Magnetism; Oxygen vacancy; V2O5 x

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EID: 54349124563     PISSN: 00319015     EISSN: 13474073     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JPSJ.77.023706     Document Type: Article
Times cited : (10)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.