Phosphine oxide monolayers on SiO2 surfaces

Angewandte Chemie - International Edition

Volumn 47, Issue 23, 2008, Pages 4440-4442

  Yerushalmi, Roie ^a   Ho, Johnny C ^a   Fan, Zhiyong ^a   Javey, Ali ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

Atomic force microscopy; Hydrogen bonds; Monolayers; Phosphorus; Surface chemistry

Indexed keywords

MONOLAYERS; PHOSPHORUS COMPOUNDS; SILICON COMPOUNDS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; HYDROGEN BONDS; PHOSPHORUS; SURFACE CHEMISTRY;

ELECTRON ENERGY LEVELS;

EID: 53549105282     PISSN: 14337851     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/anie.200800737     Document Type: Article

References (19)

1. S. Akhter, H. Lee, H. G. Hong, T. E. Mallouk, J. M. White, J. Vac. Sci. Technol. A 1989, 7, 1608.
2. R. Frantz, J. O. Durand, M. Granier, G. F. Lanneau, Tetrahedron Lett. 2004, 45, 2935.
3. P. H. Mutin, G. Guerrero, A. Vioux, J. Mater. Chem. 2005, 15, 3761.
4. D. G. Byron, Q. Xu, J. C. Love, D. B. Wolfe, G. M. Whitesides, Annu. Rev. Mater. Res. 2004, 34, 339.
5. W. J. Royea, A. Juang, N. S. Lewis, Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1988.
6. S. Sun, G. J. Leggett, Nano Lett. 2007, 7, 3753.
7. H. Y. Nie, M. J. Walzak, N. S. McIntyre, J. Phys. Chem. B 2006, 110, 21101.
8. T. M. Putvinski, M. L. Schilling, H. E. Katz, Langmuir 1990, 6, 1567.
9. E. L. Hanson, J. Schwartz, B. Nickel, N. Koch, M. F. Danisman, J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16074.
10. H. Lee, L. J. Kepley, H. G. Hong, S. Akhter, T. E. Mallouk, J. Phys. Chem. 1988, 92, 2597.
11. J. C. Ho, R. Yerushalmi, Z. A. Jacobson, Z. Fan, R. L. Alley, A. Javey, Nat. Mater. 2008, 7, 62.
12. I. Gouzman, M. Dubey, M. D. Carolus, J. Schwartz, S. L. Bernasek, Surf. Sci. 2006, 600, 773.
13. B. R. A. Neves, M. E. Salmon, P. E. Russell, Jr., E. B. Troughton, Langmuir 2001, 17, 8193.
14. A. Korkin, J. C. Greer, G. Bersuker V. V. Karasiev, R. J. Bartlett, Phys. Rev. B 2006, 73, 165312.
15. K. Baldridge, A. Klamt, J. Chem. Phys. 1997, 106, 6622.
16. A. Klamt, G. Schueuermann, J. Chem. Soc. Perkin Trans. 2 1993, 799.
17. C. Lee, W. Yang, R. G. Parr, Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
18. A. D. Becke, J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
19. Gaussian03 (Revision C.02), M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery, Jr., T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick, A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez, J. A. Pople, Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2004.