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Volumn 463, Issue 1-3, 2008, Pages 283-285

Comment on 'Nanoscale water capillary bridges under deeply negative pressure' [Chem. Phys. Lett. 451 (2008) 88]

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ATOMIC FORCE MICROSCOPY; SILICON WAFERS;

EID: 51349101526     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.cplett.2008.08.047     Document Type: Note
Times cited : (14)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.