메뉴 건너뛰기




Volumn 155, Issue 9, 2008, Pages

Photoelectrochemical characterization and durability analysis of GaInPn epilayers

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EPILAYERS; GALLIUM; METALLORGANIC VAPOR PHASE EPITAXY; STOICHIOMETRY;

EID: 49149128633     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2946478     Document Type: Article
Times cited : (38)

References (24)
  • 3
    • 0030147836 scopus 로고    scopus 로고
    • ELCAAV 0013-4686 10.1016/0013-4686(95)00450-5.
    • S. S. Kocha and J. A. Turner, Electrochim. Acta ELCAAV 0013-4686 10.1016/0013-4686(95)00450-5, 41, 1295 (1996).
    • (1996) Electrochim. Acta , vol.41 , pp. 1295
    • Kocha, S.S.1    Turner, J.A.2
  • 4
    • 0003166896 scopus 로고
    • ARPLAP 0066-426X 10.1146/annurev.pc.29.100178.001201.
    • A. J. Nozik, Annu. Rev. Phys. Chem. ARPLAP 0066-426X 10.1146/annurev.pc. 29.100178.001201, 29, 189 (1978).
    • (1978) Annu. Rev. Phys. Chem. , vol.29 , pp. 189
    • Nozik, A.J.1
  • 5
    • 0042366841 scopus 로고
    • JCRGAE 0022-0248 10.1016/0022-0248(77)90166-X.
    • A. J. Nozik, J. Cryst. Growth JCRGAE 0022-0248 10.1016/0022-0248(77) 90166-X, 39, 200 (1977).
    • (1977) J. Cryst. Growth , vol.39 , pp. 200
    • Nozik, A.J.1
  • 8
    • 0000904998 scopus 로고
    • JACSAT 0002-7863 10.1021/ja00397a050.
    • R. Noufi, A. J. Frank, and A. Nozik, J. Am. Chem. Soc. JACSAT 0002-7863 10.1021/ja00397a050, 103, 1849 (1981).
    • (1981) J. Am. Chem. Soc. , vol.103 , pp. 1849
    • Noufi, R.1    Frank, A.J.2    Nozik, A.3
  • 12
    • 0034308204 scopus 로고    scopus 로고
    • CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(00)00016-0.
    • O. Khaselev and J. A. Turner, Corros. Sci. CRRSAA 0010-938X 10.1016/S0010-938X(00)00016-0, 42, 1831 (2000).
    • (2000) Corros. Sci. , vol.42 , pp. 1831
    • Khaselev, O.1    Turner, J.A.2
  • 15
    • 49149100479 scopus 로고    scopus 로고
    • Personal communication.
    • J. F. Geisz, Personal communication (2008).
    • (2008)
    • Geisz, J.F.1
  • 16
    • 0001605734 scopus 로고
    • PHRVAO 0031-899X 10.1103/PhysRev.171.876.
    • M. R. Lorenz, G. D. Pettit, and R. C. Taylor, Phys. Rev. PHRVAO 0031-899X 10.1103/PhysRev.171.876, 171, 876 (1968).
    • (1968) Phys. Rev. , vol.171 , pp. 876
    • Lorenz, M.R.1    Pettit, G.D.2    Taylor, R.C.3
  • 19
    • 0036684778 scopus 로고    scopus 로고
    • SSTEET 0268-1242 10.1088/0268-1242/17/8/305.
    • D. J. Friedmand and J. F. Geisz, Semicond. Sci. Technol. SSTEET 0268-1242 10.1088/0268-1242/17/8/305, 17, 769 (2002).
    • (2002) Semicond. Sci. Technol. , vol.17 , pp. 769
    • Friedmand, D.J.1    Geisz, J.F.2
  • 20
    • 0000901990 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.62.4493.
    • Y. Zhang, B. Fluegel, and A. Mascarenhas, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.62.4493, 62, 4493 (2000).
    • (2000) Phys. Rev. B , vol.62 , pp. 4493
    • Zhang, Y.1    Fluegel, B.2    Mascarenhas, A.3
  • 22
    • 0035884111 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.64.115208.
    • P. R. C. Kent and A. Zunger, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.64.115208, 64, 115208 (2001).
    • (2001) Phys. Rev. B , vol.64 , pp. 115208
    • Kent, P.R.C.1    Zunger, A.2
  • 23
    • 33746216785 scopus 로고    scopus 로고
    • PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.041201.
    • Y. Zhang, A. Mascarenhas, and L.-W. Wang, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.74.041201, 74, 041201 (2006).
    • (2006) Phys. Rev. B , vol.74 , pp. 041201
    • Zhang, Y.1    Mascarenhas, A.2    Wang, L.-W.3


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.