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Volumn , Issue , 2006, Pages 58-59

Sub-5nm all-around gate FinFET for ultimate scaling

Author keywords

All around gate; FinFET; Quantum effect; Sub 5nm

Indexed keywords

COMPUTER SIMULATION; PERTURBATION TECHNIQUES; QUANTUM CONFINEMENT; SCALING LAWS; THRESHOLD VOLTAGE;

EID: 36849066110     PISSN: 07431562     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (140)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.