Dielectric properties of BaTiO3 thin films prepared by laser ablation

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers

Volumn 45, Issue 10 A, 2006, Pages 7806-7812

  Fujita, Junya ^a,c   Suzuki, Keigo ^b   Wada, Nobuyuki ^b   Sakabe, Yukio ^b   Takeuchi, Kazuo ^c   Ohki, Yoshimichi ^a,c  

^a WASEDA UNIVERSITY   (Japan)

^b MURATA MANUFACTURING CO LTD   (Japan)

^c RIKEN   (Japan)

Author keywords

Barium titanate; Dielectric property; Ferroelectricity; Laser ablation; Nanoparticle

Indexed keywords

ANNEALING; BARIUM TITANATE; FERROELECTRIC MATERIALS; GRAIN SIZE AND SHAPE; LASER ABLATION; NANOPARTICLES; PARTICLE SIZE; PERMITTIVITY;

DIFFERENTIAL MOBILITY ANALYZER; METALLORGANIC DECOMPOSITION;

THIN FILMS;

EID: 34547858933     PISSN: 00214922     EISSN: 13474065     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JJAP.45.7806     Document Type: Article

References (32)

1. H. I. Hsiang and F. S. Yen: J. Am. Ceram. Soc. 79 (1996) 1053.
2. X. Li and W. H. Shih: J. Am. Ceram. Soc. 80 (1997) 2844.
3. S. Tsunekawa, S. Ito, T. Mori, K. Ishikawa, Z. Q. Li and Y. Kawazoe: Phys. Rev. B 62 (2000) 3065.
4. K. Uchino, E. Sadanaga and T. Hirose: J. Am. Ceram. Soc. 72 (1989) 1555.
5. B. D. Begg, E. R. Vance and J. Nowotny: J. Am. Ceram. Soc. 77 (1994) 3186.
6. T. Yamamoto, K. Urabe and H. Banno: Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993) 4272.
7. G. Arlt, D. Hennings and G. deWith: J. Appl. Phys. 58 (1985) 1619.
8. M. H. Frey, Z. Xu, P. Han and D. A. Payne: Ferroelectrics 206-207 (1998) 337.
9. M. H. Frey and D. A. Payne: Phys. Rev. B 54 (1996) 3158.
10. S. Wada, T. Suzuki and T. Noma: J. Ceram. Soc. Jpn. 104 (1996) 383.
11. M. R. Srinivasan, M. S. Multant, P. Ayyub and R. Vijayaraghavan: Ferroelectrics 51 (1983) 137.
12. Z. Zhao, V. Buscaglia, M. Viviani, M. T. Buscaglia, L. Mitoseriu, A. Testino, M. Nygren, M. Johnsson and P. Nanni: Phys. Rev. B 70 (2004) 024107.
13. Y. Sakabe, Y. Yamashita and H. Yamamoto: J. Eur. Ceram. Soc. 25 (2005) 2739.
14. K. Suzuki and K. Kijima: J. Mater. Sd. 40 (2005) 1289.
15. T. Yamamoto, K. Urabe and H. Banno: Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993) 4272.
16. E. K. Akdogan and A. Safari: Jpn. J. Appl. Phys. 41 (2002) 7170.
17. Y. Yamashita, H. Yamamoto and Y. Sakabe: Jpn. J. Appl. Phys. 43 (2004) 6521.
18. K. Suzuki and K. Kijima: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 8528.
19. J. J. Xu, S. Shaikh and R. W. Vest: IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 36 (1989) 307.
20. T. Takeuchi, M. Tabuchi, K. Ado, K. Honjo, O. Nakamura, H. Kageyama, Y. Suyama, N. Ohtori and M. Nagasawa: J. Mater. Sci. 32 (1997) 4053.
21. K. S. Seol, K. Takeuchi, T. Miyagawa and Y. Ohki: Jpn. J. Appl. Phys. 41 (2002) 5654.
22. K. S. Seol, S. Tomita, K. Takeuchi, T. Miyagawa, T. Katagiri and Y. Ohki: Appl. Phys. Lett. 81 (2002) 1.893.
23. E. O. Knutson and K. T. Whitby: J. Aerosol Sci. 6 (2000) 1389.
24. Y. Kousaka, K. Okuyama and M. Adachi: J. Aerosol Sci. 31 (2000) 1389.
25. K. S. Seol, Y. Tsutatani, R. P. Camata, J. Yabumoto, S. Isomura, Y. Okada, K. Okuyama and K. Takeuchi: J. Aerosol Sci. 31 (2000) 1389.
26. S. Li, J. A. Eastman and L. J. Thompson: Appl. Phys. Lett. 70 (1997)
27. P. Scherrer: Gottingen Nachr. 2 (1918) 98.
28. A. Scalabrin, A. S. Chaves, D. S. Shim and S. P. S. Porto: Phys. Status Solidi B 79 (1977) 731.
29. J. D. Baniecki, T. Shioga, K. Kurihara and N. Kamehara: J. Appl. Phys. 97 (2005) 114101.
30. S. Wada, H. Chikamori, T. Noma, T. Suzuki and T. Tsurumi: J. Ceram. Soc. Jpn. 108 (2000) 728.
31. W.-S. Cho and E. Hamada: J. Alloys Compd. 266 (1998) 118.
32. S. W. Lu, B. I. Lee, Z. L. Wang and W. D. Samuels: J. Cryst. Growth 219 (2000) 269.