Structural and magnetic properties of (In 1-xFe x) 2O 3(0.0≤x≤0.25) system: Prepared by gel combustion method

Applied Physics Letters

Volumn 91, Issue 5, 2007, Pages

  Jayakumar, O D ^a   Gopalakrishnan, I K ^a   Kulshreshtha, S K ^a   Gupta, Amita ^b   Rao, K V ^b   Louzguine Luzgin, D V ^c   Inoue, A ^c   Glans, P A ^d   Guo, J H ^d   Samanta, K ^e   Singh, M K ^e   Katiyar, R S ^e  

^a BHABHA ATOMIC RESEARCH CENTRE   (India)

^b ROYAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Sweden)

^c TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^d LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^e UNIVERSITY OF PUERTO RICO   (Puerto Rico)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BIXBYITE STRUCTURE; DC MAGNETIZATION; GEL COMBUSTION METHOD; PARASITIC PHASES;

COMBUSTION; CURIE TEMPERATURE; IMAGING TECHNIQUES; MAGNETIC PROPERTIES; RAMAN SPECTROSCOPY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

POLYCRYSTALLINE MATERIALS;

EID: 34547681534     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2757589     Document Type: Article

References (24)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
2. W. Prelleier, A. Fouchet, and B. Mercey, J. Phys.: Condens. Matter 15, 1583 (2003).
3. K. Ueda, H. Tabata, and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
4. K. R. Kittilstved, W. K. Liu, and D. R. Gamelin, Nat. Mater. 5, 291 (2006).
5. M. H. F. Sluiter, Y. Kawazoe, P. Sharma, A. Inoue, A. R. Raju, C. Rout, and U. V. Waghmare, Phys. Rev. Lett. 94, 187204 (2005).
6. P. Sharma, A. Gupta, K. V. Rao, F. J. Owens, R. Sharma, R. Ahuja, J. M. O. Guillen, B. Johansson, and G. A. Gehring, Nat. Mater. 2, 673 (2003).
7. O. D. Jayakumar, I. K. Gopalakrishnan, and S. K. Kulshreshtha, J. Mater. Chem. 15, 3514 (2005).
8. S. A. Wolf, D. D. Awschalom, R. A. Buhrman, J. M. Daughton, S. Von Molnar, M. L. Roukes, A. Y. Chthelkanova, and D. M. Treger, Science 294, 1488 (2001).
9. Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasegawa, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, S. Koshihara, and H. Koinuma, Science 291, 854 (2000).
10. Z. Wang, J. Tang, L. D. Tung, W. Zhou, and L. Spinu, J. Appl. Phys. 93, 7870 (2003).
11. N. H. Hong, J. Sakai, W. Prellier, A. Hassini, A. Ruyter, and F. Gervais, Phys. Rev. B 70, 195204 (2004).
12. M. Venkatesan, C. B. Fitzgerald, J. G. Lunney, and J. M. D. Coey, Phys. Rev. Lett. 93, 177206 (2004).
13. S. B. Ogale, R. J. Choudary, J. P. Buban, S. E. Lofland, S. R. Shinde, S. N. Kale, V. N. Kulkarni, J. Higgins, C. Lanci, J. R. Simpson, N. D. Browning, S. Das Sarma, H. D. Drew, R. L. Greene, and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett. 91, 077205 (2003).
14. J. M. D. Coey, A. P. Douvalis, C. B. Fitzgerald, and M. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 84, 1332 (2004).
15. S. P. Pearton, W. H. Heo, M. Ivill, D. P. Norton, and T. Steiner, Semicond. Sci. Technol. 19, R59 (2004).
16. T. Fukumura, H. Toyosaki, and Y. Yamada, Semicond. Sci. Technol. 20, S103 (2005).
17. Y. Ohno, D. K. Young, B. Beshoten, F. Matsukura, H. Ohno, and D. I. Awschalom, Nature (London) 402, 790 (1999).
18. J. R. Neal, A. J. Behan, R. M. Ibrahim, H. J. Blythe, M. Ziese, A. M. Fox, and G. A. Gehring, Phys. Rev. Lett. 96, 197208 (2006).
19. Y. K. Yoo, Q. Hue, H.-C. Lee, S. Cheng, X. D. Xiang, G. F. Dionne, S. Xu, J. He, Y. S. Chu, S. D. Preite, S. E. Lofland, and I. Takeuchi, Appl. Phys. Lett. 86, 042506 (2005).
20. J. He, S. Xu, Y. K. Yoo, Q. Xue, H.-C. Lee, S. Cheng, X.-D. Xiang, G. F. Dionne, and I. Takeuchi, Appl. Phys. Lett. 86, 052503 (2005).
21. J. Philip, A. Punnoose, B. I. Kim, K. M. Reddy, S. Layne, J. O. Holmes, B. Satpati, P. R. Leclair, T. S. Santos, and J. S. Moodera, Nat. Mater. 5, 298 (2006).
22. A. Gupta, H. Cao, K. Parekh, K. V. Rao, A. R. Raju, and U. V. Waghmare, J. Appl. Phys. 101, 09N513 (2007).
23. A. Gurlo, M. Ivanovskaya, N. Barsan, and U. Wiemar, Inorg. Chem. Commun. 6, 569 (2003).
24. F. M. F. de Groot, M. Grioni, J. C. Fuggle, J. Ghijsen, G. A. Sawatzky, and H. Petersen, Phys. Rev. B 40, 5715 (1989).