Spectroscopic determination of phase in tetragonally strained Ba 0.5Sr 0.5TiO 3 films at room temperature

Applied Physics Letters

Volumn 91, Issue 5, 2007, Pages

  Alldredge, L M B ^a   Woicik, J C ^b   Chang, Wontae ^a   Kirchoefer, Steven W ^a   Pond, Jeffrey M ^a  

^a NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

^b NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LATTICE STRUCTURES; MICROWAVE DIELECTRICS; ROOM TEMPERATURE; SPECTROSCOPIC DETERMINATION;

ANISOTROPY; BARIUM COMPOUNDS; CHARACTERIZATION; HYSTERESIS; PERMITTIVITY; POLARIZATION; X RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE SPECTROSCOPY;

THIN FILMS;

EID: 34547668638     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2766668     Document Type: Article

References (23)

1. M. W. Cole, W. D. Nothwang, C. Hubbard, E. Ngo, and M. Ervin, J. Appl. Phys. 93, 9218 (2003).
2. D. Kim, Y. Choi, M. G. Allen, J. Stevenson Kenney, and D. Kiesling, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 50, 2903 (2002).
3. V. Shuvaeva, Y. Azuma, K. Yagi, H. Terauchi, R. Vedrinski, V. Komarov, and H. Kasatani, Phys. Rev. B 62, 2969 (2000).
4. R. Comes, M. Lambert, and A. Guinier, Solid State Commun. 6, 715 (1968).
5. W. Chang, C. M. Gilmore, W.-J. Kim, J. M. Pond, S. W. Kirchoefer, S. B. Qadri, D. B. Chirsey, and J. S. Horwitz, J. Appl. Phys. 87, 3044 (2000).
6. N. A. Pertsev, A. G. Zembilgotov, and A. K. Tagantsev, Phys. Rev. Lett. 80, 1988 (1998).
7. J. H. Haeni, P. Irvin, W. Chang, R. Uecker, P. Reiche, Y. L. Li, S. Choudhury, W. Tian, M. E. Hawley, B. Craigo, A. K. Tagantsev, X. Q. Pan, S. K. Streiffer, L. Q. Chen, S. W. Kirchoefer, J. Levy, and D. G. Schlom, Nature (London) 430, 758 (2004).
8. Z.-G. Ban and S. P. Alpay, J. Appl. Phys. 91, 9288 (2002).
9. J. A. Bellotti, W. Chang, S. B. Qadri, S. W. Kirchoefer, and J. M. Pond, Appl. Phys. Lett. 88, 012902 (2006).
10. O. Auciello, S. Saha, D. Y. Kaufman, S. K. Streiffer, W. Fan, B. Kabius, J. Im, and P. Baumann, J. Electroceram. 12, 119 (2004).
11. E. J. Cukauskas, S. W. Kirchoefer, and W. Chang, J. Cryst. Growth 236, 239 (2002).
12. L. M. B. Alldredge, W. Chang, S. B. Qadri, S. W. Kirchoefer, and J. M. Pond, Appl. Phys. Lett. 90, 212901 (2007).
13. W. J. Kim, H. D. Wu, W. Chang, S. B. Qadri, J. M. Pond, S. W. Kirchoefer, D. B. Chrisey, and J. S. Horwitz, J. Appl. Phys. 88, 5448 (2000).
14. W. K. Simon, E. K. Akdogan, A. Safari, and J. A. Bellotti, Appl. Phys. Lett. 87, 082906 (2005).
15. W. K. Simon, E. K. Akdogan, A. Safari, and J. Bellotti, Appl. Phys. Lett. 88, 132902 (2006).
16. T. Zhao, F. Chen, H. Lu, G. Yang, and Z. Chen, J. Appl. Phys. 87, 7442 (2000).
17. J. Hornstra and W. J. Bartels, J. Cryst. Growth 44, 513 (1978).
18. D. R. Lide, Handbook of Chemistry and Physics, 87th ed. (CRC, Boca Raton, FL, 2007), pp. 12.33-12.34.
19. B. Ravel, E. A. Stern, R. I. Vedrinskii, and V. Kraizman, Ferroelectrics 206-207, 407 (1998).
20. R. V. Vedrinskii, V. L. Kraizman, A. A. Novakovich, P. V. Demekhin, and S. V. Urazhdin, J. Phys.: Condens. Matter 10, 9561 (1998).
21. J. C. Woicik, E. L. Shirley, C. S. Hellberg, K. E. Anderson, S. Sambasivan, D. A. Fischer, B. D. Chapman, E. A. Stern, P. Ryan, D. L. Ederer, and H. Li, Phys. Rev. B 75, 140103 (2007).
22. W. Chang, L. M. B. Alldredge, S. W. Kirchoefer, and J. M. Pond, J. Appl. Phys. 102, 014105 (2007).
23. A. F. Devonshire, Adv. Phys. 3, 85 (1954).