Multiphase growth and electronic structure of ultrathin hexaazatrinaphthylene on Au(111)

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 111, Issue 28, 2007, Pages 10493-10497

  Ha, Sieu D ^a   Kaafarani, Bilal R ^b,c   Barlow, Stephen ^b   Marder, Seth R ^b   Kahn, Antoine ^a  

^a Princeton University   (United States)

^b GEORGIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

^c AMERICAN UNIVERSITY OF BEIRUT   (Lebanon)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

MORPHOLOGICAL EFFECTS; MULTIPHASE GROWTH;

ANNEALING; ELECTRONIC STRUCTURE; FERMI LEVEL; GOLD; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

CRYSTAL STRUCTURE;

EID: 34547496176     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0718404     Document Type: Article

References (20)

1. Lehmann, M.; Kestemont, G.; Aspe, R. G.; Buess-Herman, C.; Koch, M. H. J.; Debije, M. G.; Piris, J.; Haas, M. P. D.; Warman, J. M.; Watson, M. D.; Lemaur, V.; Cornil, J.; Geerts, Y. H.; Gearba, R.; Ivanov, D. A. Chem.-Eur. J. 2005, 11, 3349-3362.
2. Crispin, X.; Cornil, J.; Friedlein, R.; Okudaira, K. K.; Lemaur, V.; Crispin, A.; Kestemont, G.; Lehmann, M.; Fahlman, M.; Lazzaroni, R.; Geerts, Y.; Wendin, G.; Ueno, N.; Brédas, J. L.; Salaneck, W. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11889-11899.
3. Kaafarani, B. R.; Kondo, T.; Yu, J.; Zhang, Q.; Dattilo, D.; Risko, C.; Jones, S. C.; Barlow, S.; Domercq, B.; Amy, F.; Kahn, A.; Brédas, J. L.; Kippelen, B.; Marder, S. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 16358-16359.
4. Kepler, R. G.; Beeson, P. M.; Jacobs, S. J.; Anderson, R. A.; Sinclair, M. B.; Valencia, V. S.; Cahill, P. A. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3618-3620.
5. Barlow, S.; Zhang, Q.; Kaafarani, B. R.; Risko, C.; Amy, F.; Chan, C. K.; Domercq, B.; Statikova, Z. A.; Antipin, M. Y.; Timofeeva, T. V.; Kippelen, B.; Bredas, J. L.; Kahn, A.; Marder, S. R. Chem.-Eur. J. 2007, 13, 3537-3547.
6. Palma, M.; Levin, J.; Lemaur, V.; Liscio, A.; Palermo, V.; Cornil, J.; Geerts, Y.; Lehmann, M.; Samorì, P. Adv. Mater. 2006, 18, 3313-3317.
7. Du, M.; Bu, X.-H.; Biradha, K. Acta. Crystallogr., Sect. C: Cryst. Struct. Commun. 2001, 57, 199-200.
8. Alfonso, M.; Stoeckli-Evans, H. Acta. Crystallogr., Sect. E: Struct. Rep. Online 2001, 57, 242-244.
9. Ibe, J. P.; Bey, J. P. P.; Brandow, S. L.; Brizzolara, R. A.; Burnham, N. A.; DiLella, D. P.; Lee, K. P.; Marrian, C. R. K.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol., A 1990, 8, 3570-3575.
10. Nanotec Electronica. WSxM software; Spain. Free software down-loadable at http://www.nanotec.es.
11. Osipov, M. A.; Stelzer, J. Phys. Rev. E 2003, 67, 061707-15.
12. Chizhov, I.; Scoles, G.; Kahn, A. Langmuir 2000, 16, 4358-4361.
13. Mannsfeld, S.; Toerker, M.; Schmitz-Hubsch, T.; Sellam, F.; Fritz, T.; Leo, K. Org. Electron. 2001, 2, 121-134.
14. Proehl, H.; Toerker, M.; Sellam, F.; Fritz, T.; Leo, K.; Simpson, C.; Müllen, K. Phys. Rev. B 2001, 63, 205409-6.
15. Barth, J. V.; Brune, H.; Ertl, G.; Behm, R. J. Phys. Rev. B 1990, 42, 9307-9318.
16. Dun, A. C.; Schreiber, F.; Munch, M.; Karl, N.; Krause, B.; Kruppa, V.; Dosen, H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2276-2278.
17. Heiner, C. E.; Dreyer, J.; Hertel, I. V.; Koch, N.; Ritze, H. H.; Widdra, W.; Winter, B. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 093501-3.
18. Pratontep, S.; Nuesch, F.; Zuppiroli, L.; Brinkmann, M. Phys. Rev. B 2005, 72, 085211-5.
19. Tsiper, E. V.; Soos, Z. G.; Gao, W.; Kahn, A. Chem. Phys. Lett. 2002, 360, 47-52.
20. Grzadziel, L.; Zak, J.; Szuber, J. Thin Solid Films 2003, 436, 70-75.