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Physical Review Letters
Volumn 98, Issue 26, 2007, Pages
Comment on "Electrostatic force microscopy on oriented graphite surfaces: Coexistence of insulating and conducting behaviors"
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EID: 34547323567     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.98.269701     Document Type: Note
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.