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Volumn , Issue , 2006, Pages 663-664

Reliability of sub 30NM BT(Body-Tied)-FinFET with HFSION/poly silicon gate stack for symmetric vth control

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FERMI LEVEL PINNING; SEGREGATION EFFECTS;

EID: 34250741911     PISSN: 15417026     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/RELPHY.2006.251313     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.