메뉴 건너뛰기




Volumn 84, Issue 9-10, 2007, Pages 2058-2062

Performance assessment of (1 1 0) p-FET high-κ/MG: is it mobility or series resistance limited?

Author keywords

High ; Mobility and performance; Short channel devices; Si Substrate orientation

Indexed keywords

CARRIER MOBILITY; DIELECTRIC MATERIALS; ELECTRIC POTENTIAL; PERMITTIVITY;

EID: 34248661853     PISSN: 01679317     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.mee.2007.04.090     Document Type: Article
Times cited : (6)

References (7)
  • 1
    • 33646072123 scopus 로고    scopus 로고
    • M. Yang; V. W. C. Chan, K. K Chan, L. Shi, D. M Fried, J. H. Stathis, A. I. Chou, E. Gusev, J. A Ott, L. E. Burns, M. V Fischetti, M. Ieong, IEEE Electron Dev. Lett. 53 (2006) 965-977.
  • 2
    • 34248684051 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Krishnan et al., IEEE IEDM 2006.
  • 3
    • 0042674228 scopus 로고    scopus 로고
    • M. Yang; E. P. Gusev, M. Ieong; O. Gluschenkov, D. C. Boyd, K. K. Chan, P. M. Kozlowski, C. P. D'Emic, R. M. Sicina, P. C. Jamison, A. I. Chou, IEEE Electron Dev. Lett. 24 (2003) 339.
  • 5
    • 34248677440 scopus 로고    scopus 로고
    • E. San Andrés, L. Pantisano, S. Severi, L. Trojman, I. Ferain, M. Toledano-Luque, M. Jurczak, G. Groeseneken, S. De Gendt, M. Heyns, INFOS 2007, to be published in Microelectronic Engineering.
  • 6
    • 33748514573 scopus 로고    scopus 로고
    • E. San Andres, L. Pantisano, J. Ramos, S. Severi, L. Trojman, S. De Gendt; G. Groeseneken, IEEE Electron Dev. Lett. 27 (2006) 772.
  • 7
    • 34248666563 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Severi et al. IEEE Trans. Electron Dev. (2007), in press.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.