Size dependence of optical eigenmodes in photonic quantum dots prepared by conformal deposition method

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 17, 2007, Pages

  Chen, San ^a   Qian, Bo ^a   Chen, Kunji ^a   Zhang, Xiangao ^a   Xu, Jun ^a   Ma, Zhongyuan ^a   Li, Wei ^a   Huang, Xinfan ^a  

^a NANJING UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BRAGG REFLECTORS; MICROCAVITIES; PHOTONICS; PHOTONS; SILICON;

EIGENMODES; OPTICAL MICROCAVITIES; PHOTONIC ENERGY; TOTAL INTERNAL REFLECTION;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 34248571819     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2730736     Document Type: Article

References (20)

1. J. M. Gerard, B. Sermage, B. Gayral, B. Legrand, E. Costard, and V. Thierry-Mieg, Phys. Rev. Lett. 81, 1110 (1998).
2. G. S. Solomon, M. Pelton, and Y. Yamamoto, Phys. Rev. Lett. 86, 3903 (2001).
3. C. Santori, D. Fattal, J. Vuckovic, G. S. Solomon, and Y. Yamamoto, Nature (London) 419, 594 (2002).
4. B. Ohnesorge, M. Bayer, A. Forchel, J. P. Reithmaier, N. A. Gippius, and S. G. Tikhodeev, Phys. Rev. B 56, R4367 (1997).
5. L. A. Graham, D. L. Huffaker, and D. G. Deppe, Appl. Phys. Lett. 74, 2408 (1999).
6. Y. Yamamoto, S. Machida, K. Igeta, and Y. Horikoshi, in Coherence and Quantum Optics, edited by, J. H. Eberly, L. Mandel, and, E. Wolf, (Plenum, New York, 1989), Vol. 6, p. 1249.
7. H. Yokoyama, K. Nishi, T. Anan, H. Yamada, S. D. Brorson, and E. P. Ippen, Appl. Phys. Lett. 57, 2814 (1990).
8. M. Yamanishi, K. Watanabe, N. Jikutani, and M. Ueda, Phys. Rev. Lett. 76, 3432 (1996).
9. J. Kim, O. Benson, H. Kan, and Y. Yamamoto, Nature (London) 397, 500 (1999).
10. J. Y. Marzin, J. M. Ǵrard, A. Izral, D. Barrier, and G. Bastard, Phys. Rev. Lett. 73, 716 (1994).
11. M. Grundmann, J. Christen, N. N. Ledentsov, J. Böhrer, D. Bimberg, S. S. Ruvimov, P. Werner, U. Richter, U. Gösele, J. Heydenreich, V. M. Ustinov, A. Yu. Egorov, A. E. Zhukov, P. S. Kop'ev, and Zh. I. Alferov, Phys. Rev. Lett. 74, 4043 (1995).
12. M. Bayer, A. Schmidt, A. Forchel, F. Faller, T. L. Reinecke, P. A. Knipp, A. A. Dremin, and V. D. Kulakovskii, Phys. Rev. Lett. 74, 3439 (1995).
13. J. P. Reithmaier, M. Röhner, H. Zull, F. Schäfer, A. Forchel, P. A. Knipp, and T. L. Reinecke, Phys. Rev. Lett. 78, 378 (1997).
14. T. Gutbrod, M. Bayer, A. Forchel, J. P. Reithmaier, T. L. Reinecke, S. Rudin, and P. A. Knipp, Phys. Rev. B 57, 9950 (1998).
15. R. E. Slusher, A. F. J. Levi, U. Mohideen, S. L. McCall, S. J. Pearton, and R. A. Logan, Appl. Phys. Lett. 63, 1310 (1993).
16. K. L. Lear, K. D. Choquette, R. P. Schneider, Jr., and S. P. Kilcoyne, Appl. Phys. Lett. 66, 2616 (1995).
17. S. Osono, Y. Uchiyama, M. Kitazoe, K. Saito, M. Hayama, A. Masuda, A. Izumi, and H. Matsumura, Thin Solid Films 430, 165 (2003).
18. D. M. Hausmann, P. D. Rouffignac, A. Smith, R. Gordon, and D. Monsma, Thin Solid Films 443, 1 (2003).
19. Q. Wang, S. Ward, L. Wedvilas, B. Keyes, E. Sanchez, and S. Wang, Appl. Phys. Lett. 84, 338 (2004).
20. S. Chen, B. Qian, K. J. Chen, W. Li, P. G. Han, J. Xu, Z. Y. Ma, W. Li, and X. F. Huang, Appl. Surf. Sci. 253, 4254 (2007).